可(ke)在(zai)不(bu)同(tong)溫度下測(ce)試(shi)材料(liao)的(de)電(dian)阻(zu)的(de)儀器(qi)TSDC熱(re)刺激(ji)電(dian)流測(ce)試(shi)儀

可(ke)在(zai)不(bu)同(tong)溫度下測(ce)試(shi)材料(liao)的(de)電(dian)阻(zu)的(de)儀器(qi)TSDC熱(re)刺(ci)激(ji)電(dian)流測(ce)試(shi)儀

熱(re)刺(ci)激(ji)電(dian)流測(ce)試(shi)儀是(shi)壹(yi)種專(zhuan)門用(yong)於(yu)測量材料在(zai)熱(re)刺(ci)激(ji)下(xia)產(chan)生的(de)電(dian)流的(de)儀器(qi)。這(zhe)種儀器(qi)通(tong)常(chang)由(you)加(jia)熱器(qi)、熱(re)電(dian)偶以及電(dian)流測(ce)量儀等(deng)部分組成，其(qi)主(zhu)要(yao)目(mu)的(de)是在(zai)不(bu)同(tong)溫度下測(ce)試(shi)材料(liao)的(de)電(dian)阻(zu)，並(bing)研究(jiu)其電(dian)阻(zu)與溫度之(zhi)間(jian)的(de)關系(xi)。

  熱(re)刺(ci)激(ji)電(dian)流測(ce)試(shi)儀的(de)工(gong)作(zuo)原(yuan)理基於(yu)熱刺激(ji)理論(lun)，這(zhe)是壹(yi)種(zhong)在(zai)介(jie)質(zhi)物(wu)理基礎上(shang)發展(zhan)起來(lai)的(de)研究(jiu)方法(fa)。當(dang)材(cai)料(liao)受到熱刺(ci)激(ji)時(shi)，其(qi)內部的(de)電(dian)子(zi)和空(kong)穴(xue)被激(ji)發，導致(zhi)載(zai)流子(zi)遷移(yi)增加(jia)，從而引(yin)起電(dian)阻(zu)率(lv)的(de)變化(hua)。這(zhe)種電(dian)阻(zu)率(lv)的(de)變化(hua)可(ke)以用來(lai)評估(gu)材(cai)料(liao)的(de)熱傳導性能、熱膨脹(zhang)行(xing)為以及其他與熱學(xue)性質(zhi)相(xiang)關(guan)的(de)信息。

        具(ju)體來(lai)說，熱(re)刺激(ji)電(dian)流測(ce)試(shi)儀通(tong)過(guo)加(jia)熱器(qi)對樣(yang)品(pin)進行(xing)加(jia)熱，同(tong)時測(ce)量熱電(dian)偶產(chan)生的(de)電(dian)流。通(tong)過(guo)記(ji)錄(lu)電(dian)流隨(sui)溫度變化(hua)的(de)數(shu)據，研究(jiu)人(ren)員可以獲得材料(liao)的(de)熱學性質(zhi)和性能表現(xian)。這(zhe)種測(ce)試(shi)方法(fa)不(bu)僅(jin)可以幫助我(wo)們(men)了解(jie)材(cai)料(liao)的(de)基本性質(zhi)，還可(ke)以為材(cai)料在(zai)絕(jue)緣、半(ban)導體、光(guang)電(dian)等(deng)領(ling)域的(de)應用提(ti)供(gong)重(zhong)要參(can)考(kao)。

   HC-TSC熱(re)刺(ci)激(ji)電(dian)流測(ce)試(shi)儀具(ju)有(you)強(qiang)大(da)的(de)測試(shi)功能，設(she)備(bei)zui大(da)支(zhi)持(chi)測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)10kV，通(tong)過(guo)冷(leng)熱(re)臺(tai)進行(xing)加(jia)溫與制冷，測量采用低(di)噪(zao)聲線纜，減少測試(shi)導線的(de)影響(xiang)誤差，電(dian)極加(jia)熱采(cai)用直流電(dian)極方式加(jia)熱，減少電(dian)網諧(xie)波對測(ce)量儀表的(de)幹(gan)擾。同(tong)時在(zai)測(ce)試(shi)功能上也增加(jia)了高(gao)阻(zu)測(ce)試(shi)、擊(ji)穿(chuan)測(ce)試(shi)、可方便(bian)擴展(zhan)介(jie)電(dian)溫(wen)譜、頻(pin)譜等測量功能。它能夠在(zai)不(bu)同(tong)測量條(tiao)件和測(ce)量模式下進行(xing)連續(xu) 和高(gao)速(su)的(de)測量，僅(jin)用壹臺(tai)HC-TSC熱(re)刺(ci)激(ji)電(dian)流測(ce)試(shi)儀就(jiu)能取代功(gong)能材料測試(shi)眾多儀器(qi)的(de)測量功能！ TSDC熱刺激(ji)電(dian)流是(shi)介(jie)質(zhi)材料在(zai)受熱(re)過(guo)程中(zhong)建立(li)極化(hua)態(tai)或(huo)解除極化(hua)態(tai)時(shi)所(suo)產(chan)生的(de)短(duan)路電(dian)流。基本原(yuan)理是(shi)將(jiang)試(shi)樣夾(jia)在(zai)兩電(dian)極之(zhi)間(jian)，加(jia)熱到壹定溫度使樣(yang)品(pin)中(zhong)的(de)載流子(zi)激(ji)發，然後(hou)施加(jia)壹個直流的(de)極化(hua)電(dian)壓(ya)，經(jing)過(guo)壹(yi)段時(shi)間(jian)使樣(yang)品(pin)充(chong)分極化(hua)，以便(bian)載流子(zi)向電(dian)極漂移或(huo)偶極子充分取向，隨後(hou)立即(ji)降溫(wen)到低(di)溫(wen)，使各(ge)類(lei)極化(hua)“凍(dong)結"，然(ran)後(hou)以等速(su)率(lv)升溫，同(tong)時記(ji)錄(lu)試(shi)樣經(jing)檢(jian)流計(ji)短(duan)路的(de)去極化(hua)電(dian)流隨(sui)溫度的(de)變化(hua)關(guan)系(xi)，即(ji)得到TSDC譜“凍(dong)結"，然(ran)後(hou)以等速(su)率(lv)升溫，同(tong)時記(ji)錄(lu)試(shi)樣經(jing)檢(jian)流計(ji)短(duan)路的(de)去極化(hua)電(dian)流隨(sui)溫度的(de)變化(hua)關(guan)系(xi)，即(ji)得到TSDC譜。 HC-TSC熱激(ji)勵去極化(hua)電(dian)流測(ce)量系(xi)統(tong)應用：廣(guang)泛(fan)應用於(yu)電(dian)力(li)、絕(jue)緣、生物(wu)分子等(deng)材料(liao)領(ling)域(yu)，用(yong)於(yu)研究(jiu)材料(liao)性能的(de)壹些關(guan)鍵(jian)因(yin)素(su)，諸(zhu)如(ru)分子弛豫(yu)、相(xiang)轉(zhuan)變、玻璃(li)化(hua)溫(wen)度等等(deng)，通(tong)過(guo)TSDC電(dian)流也可以比(bi)較直觀(guan)的(de)研究(jiu)材料(liao)的(de)弛豫(yu)時間(jian)、活化(hua)能等相(xiang)關(guan)的(de)介(jie)電(dian)特性。TSDC電(dian)流也可以比(bi)較直觀(guan)的(de)研究(jiu)材料(liao)的(de)弛豫(yu)時間(jian)、活化(hua)能等相(xiang)關(guan)的(de)介(jie)電(dian)特性。