高(gao)壓(ya)TSDC測試(shi)系(xi)統與低(di)壓(ya)TSDC測試(shi)系(xi)統的區(qu)別？

高(gao)壓(ya)TSDC測試(shi)系(xi)統與低(di)壓(ya)TSDC測試(shi)系(xi)統的區(qu)別？

熱刺激(ji)去極化(hua)電流（Thermally Stimulated Depolarization Current, TSDC），用(yong)於研(yan)究(jiu)電(dian)介(jie)質材料中(zhong)的分(fen)子運(yun)動、弛(chi)豫(yu)過程和電荷(he)陷(xian)阱(jing)能(neng)級(ji)。它(ta)通過(guo)測量(liang)材料在受控(kong)升溫過程中(zhong)釋(shi)放的“去極化(hua)"電流，來(lai)揭示(shi)其微觀(guan)結(jie)構(gou)和能(neng)量(liang)狀(zhuang)態(tai)信息(xi)。在TSDC測試(shi)中(zhong)，根據施(shi)加(jia)的極化(hua)電場(chang)強度(du)，可主要(yao)分(fen)為(wei)高壓(ya)TSDC和(he)低(di)壓(ya)TSDC兩(liang)種(zhong)模式(shi)。這(zhe)兩(liang)種(zhong)模式(shi)並非截然對立，而(er)是在(zai)應用側(ce)重(zhong)、探(tan)測機理和適(shi)用(yong)範圍上存在(zai)顯著(zhu)區(qu)別。

TSDC的基(ji)本測試(shi)步(bu)驟(zhou)：

1. 極化(hua) (Polarization)：在特定(ding)高(gao)溫(wen)Tp下，對樣(yang)品施(shi)加(jia)壹(yi)個直(zhi)流電(dian)場(chang)Ep，並維持壹(yi)段(duan)時(shi)間，使(shi)偶極(ji)子(zi)取(qu)向(xiang)或電荷(he)被註入(ru)並 trapped（捕獲(huo)）。
2. 冷凍 (Quenching)：在保持電場(chang)的情(qing)況(kuang)下(xia)，迅速(su)將(jiang)樣品冷卻(que)到(dao)低(di)溫T0（為(wei)液(ye)氮(dan)溫度(du)），將(jiang)偶極(ji)子(zi)的取向(xiang)或陷(xian)阱(jing)電荷的狀(zhuang)態(tai)“凍結(jie)"住(zhu)。
3. 短(duan)路(lu)退(tui)火(huo) (Annealing)：撤(che)去外(wai)部電場(chang)，將(jiang)樣品電(dian)極(ji)短(duan)路(lu)，並以(yi)恒(heng)定(ding)速(su)率升溫。
4. 測量(liang) (Measurement)：測量(liang)回(hui)路(lu)中(zhong)由於偶極(ji)子(zi)解(jie)取向(xiang)或陷(xian)阱(jing)電荷釋(shi)放產生的去極化(hua)電流，得到(dao)電流(liu)隨溫(wen)度(du)變(bian)化(hua)的譜圖，即(ji)TSDC譜。

測試(shi)電(dian)壓(ya)與設備(bei)參(can)數

高(gao)壓(ya)TSDC：支持10kV，配(pei)備(bei)高壓(ya)放大器、寬溫(wen)域控(kong)溫系(xi)統（-185°C至600°C）及高分(fen)辨(bian)率電(dian)流(liu)測量(liang)模塊（分(fen)辨(bian)率達(da)1fA）。設(she)備(bei)強調高(gao)壓(ya)穩(wen)定(ding)性(xing)，采(cai)用(yong)低(di)噪聲(sheng)線(xian)纜(lan)、直(zhi)流電(dian)極加(jia)熱技術抑制(zhi)電(dian)網諧波幹擾(rao)，確保弱信(xin)號(hao)采集(ji)準(zhun)確性(xing)。

高(gao)壓(ya)TSDC測試(shi)系(xi)統

低(di)壓(ya)TSDC：測試(shi)電(dian)壓(ya)1kV，通(tong)過低(di)噪聲(sheng)線(xian)纜(lan)、直(zhi)流電(dian)極加(jia)熱減少誤差(cha)，軟件(jian)功(gong)能(neng)壹(yi)鍵生成(cheng)報(bao)告(gao)、多格(ge)式(shi)數據導出(chu)。

低(di)壓(ya)TSDC測試(shi)系(xi)統