華(hua)測(ce)功(gong)能(neng)材(cai)料(liao)電學綜合(he)測試(shi)系(xi)統

 華(hua)測(ce)儀器依(yi)托多(duo)年(nian)高壓(ya)控(kong)制(zhi)、測試(shi)方(fang)面(mian)多(duo)年(nian)的(de)技術(shu)成(cheng)果，an全(quan)保護(hu)：增加TVS保護(hu)過(guo)壓(ya)、過(guo)流、過(guo)溫等(deng)技術(shu)，an全與(yu)可(ke)靠。軟(ruan)件設(she)計：在(zai)測試(shi)功(gong)能(neng)、數據處理、操(cao)作(zuo)等(deng)人(ren)性化(hua)等(deng)方(fang)面(mian)做(zuo)了(le)大(da)量的(de)改(gai)進(jin)；儀器做(zuo)了(le)大(da)量的(de)測試對標(biao)，進(jin)行(xing)檢測計(ji)量。保證(zheng)數據的(de)有(you)效與真實。

壹(yi)、設(she)備優(you)勢

本套(tao)系統可完成(cheng)功能(neng)材(cai)料(liao)鐵(tie)電、壓(ya)電、熱釋(shi)電(dian)、介(jie)電、絕(jue)緣電(dian)阻等(deng)電學測試(shi)，以及(ji)高、低(di)溫環(huan)境下(xia)的(de)電學測試(shi)。與(yu)電學檢測儀器在(zai)通訊協(xie)議、數據庫處理、軟(ruan)件兼(jian)容(rong)性做(zuo)了(le)大(da)量的(de)接(jie)口。無(wu)論(lun)在軟(ruan)件與(yu)硬(ying)件(jian)方(fang)面(mian)，使本套(tao)儀器在(zai)未(wei)來(lai)易於(yu)擴展(zhan)。節(jie)省改(gai)造(zao)時(shi)間與(yu)硬(ying)件(jian)成(cheng)本。

二、研(yan)發優勢(shi)

研發(fa)團隊(dui)擁有(you)多(duo)領(ling)域(yu)、多(duo)學科(ke)的(de)博(bo)士(shi)、碩士(shi)專(zhuan)業技(ji)術(shu)人(ren)員，他們(men)致(zhi)力(li)於(yu)材(cai)料(liao)電學、電力(li)電子(zi)、信(xin)號(hao)、測控(kong)、精(jing)密(mi)加工方(fang)面(mian)的(de)研究

三、定(ding)制(zhi)化(hua)服(fu)務

電學試驗室(shi)擁有(you)泰(tai)克(ke)、是(shi)德科(ke)技(ji)品(pin)牌大批檢測設(she)備；生(sheng)產制(zhi)造方(fang)面(mian)，公司(si)有(you)4軸(zhou)、5軸(zhou)CNC加工中心、超(chao)精磨(mo)床等(deng)壹(yi)大批生(sheng)產(chan)、加工設(she)備，ISO9001質(zhi)量體(ti)系認證(zheng)，在工(gong)裝、夾具定制(zhi)化(hua)方(fang)面(mian)方(fang)便、高效。

HCTD3000鐵(tie)電測試系統(tong)具有(you)寬(kuan)頻(pin)率響應範(fan)圍(wei)及寬(kuan)測試電壓(ya)範(fan)圍(wei)，性價比(bi)非(fei)常高，滿足(zu)了(le)用(yong)戶追(zhui)求(qiu)高性價的(de)需(xu)求。主(zhu)機內(nei)置電壓(ya)檔位(wei)有(you)±10V，±30V，±100V，±200V和±500V可選。在(zai)±10V的(de)內(nei)置電壓(ya)下(xia)，電(dian)滯回(hui)線(xian)測(ce)試(shi)頻(pin)率達(da)到(dao)2MHz；在(zai)±500V的(de)內(nei)置電壓(ya)下(xia)，電(dian)滯回(hui)線(xian)測(ce)試(shi)頻(pin)率達(da)到(dao)±2kHz。此系統(tong)還(hai)可外部擴展(zhan)電(dian)壓(ya)到4kV和10kV，也可加載選件實(shi)現壓(ya)電、熱釋(shi)電(dian)和磁(ci)電測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)。此系統(tong)包(bao)含Vision基(ji)本(ben)鐵(tie)電管理測試(shi)軟(ruan)件。此外還(hai)可外部擴展(zhan)電(dian)壓(ya)到4kV和10kV，Premier II在不(bu)改(gai)變樣品(pin)連接(jie)的(de)情況下(xia)可(ke)執行(xing)電滯(zhi)回(hui)線(xian)，脈(mai)沖(chong)，漏(lou)電流，IV和CV測試，也(ye)可(ke)加載選件實(shi)現壓(ya)電、熱釋(shi)電(dian)、磁(ci)電測(ce)試(shi)和晶(jing)體(ti)管特(te)性測(ce)試(shi)功能(neng)。

四、標(biao)準(zhun)配(pei)置(zhi)

Dynamic Hysteresis 動態電(dian)滯回(hui)線(xian)測(ce)試(shi)頻(pin)率；

PUND 脈沖(chong)測(ce)試：小(xiao)脈沖(chong)寬(kuan)度2μs，小上升時(shi)間1 μs；Fatigue 疲勞(lao)測(ce)試(shi),大(da)頻(pin)率300kHz；

Retention 保持(chi)力(li)測試(shi)；

Static Hysterestic 靜(jing)態電(dian)滯回(hui)線(xian)測(ce)試(shi)；

Imprint 印跡(ji)；

Leakage current 漏電(dian)流測(ce)試：100fA to 1A

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華(hua)測(ce)功(gong)能(neng)材(cai)料(liao)電學綜合(he)測試(shi)系(xi)統

華(hua)測(ce)功(gong)能(neng)材(cai)料(liao)電學綜合(he)測試(shi)系(xi)統