華測(ce)壓(ya)電(dian)驅(qu)動器/高壓(ya)功(gong)率放大(da)器±200V

高(gao)壓(ya)功(gong)率放大(da)器

HCAM-200

華測(ce)壓(ya)電(dian)驅(qu)動器/高壓(ya)功(gong)率放大(da)器產品(pin)介紹：

         華測(ce)高(gao)壓(ya)功(gong)率放大(da)器是(shi)壹種(zhong)可放大(da)交(jiao)直(zhi)流(liu)信(xin)號，在給定失真率條件(jian)下(xia)，能產(chan)生zui大(da)功(gong)率輸出(chu)以驅(qu)動某(mou)壹(yi)負(fu)載的實驗(yan)室儀(yi)器。功(gong)率放大(da)器的主(zhu)要(yao)技(ji)術(shu)參數(shu)包括(kuo)帶寬(kuan)、電(dian)壓(ya)、功(gong)率、通(tong)道、壓(ya)擺率、阻抗(kang)、增益(yi)等(deng)。為(wei)具體應用(yong)選擇合適(shi)的功(gong)率放大(da)器時，應考慮電(dian)壓(ya)、功(gong)率、增益(yi)、帶寬(kuan)和波(bo)形(xing)等(deng)特(te)性。功(gong)率放大(da)器能夠(gou)與主(zhu)流(liu)的信(xin)號發(fa)生器配(pei)套(tao)使用(yong),實現信(xin)號的放大(da)，被(bei)廣泛(fan)應用(yong)在MEMS測(ce)試(shi)、超聲波(bo)測(ce)試(shi)、電(dian)磁(ci)場驅(qu)動、無(wu)線電(dian)能(neng)傳(chuan)輸以及院(yuan)校電(dian)子實(shi)驗(yan)測(ce)試(shi)等(deng)域。

華測(ce)壓(ya)電(dian)驅(qu)動器/高壓(ya)功(gong)率放大(da)器產品(pin)優(you)勢
1、用(yong)於驅(qu)動電(dian)容(rong)性(xing)負(fu)載(zai)的四象(xiang)限(xian)輸出(chu)
2、高精(jing)度閉環系(xi)統(tong)
3、短(duan)路保護用(yong)於設(she)備(bei)保護
4、無(wu)需維(wei)護cao作的所(suo)有(you)固態(tai)設(she)計(ji)5、適(shi)用(yong)於可編程(cheng)電(dian)源應用(yong)的直流(liu)穩(wen)壓(ya)器6、輸出(chu)噪聲低(di),適(shi)用(yong)於超jing確(que)輸出(chu)
7、每(mei)個(ge)裝置均提供(gong) NIST 可(ke)追(zhui)溯(su)的校準證書(shu)

產(chan)品(pin)應用(yong):
1、壓(ya)電(dian)驅(qu)動/控(kong)制(zhi)
2、激(ji)光調(tiao)制(zhi)
3、MEMS
4、半導體研究(jiu)
5、壓(ya)電(dian)減(jian)振(zhen)

華測(ce)公(gong)司產(chan)品(pin)系(xi)列(lie)：

功(gong)能(neng)材料(liao)電(dian)學(xue)綜合(he)測(ce)試(shi)系統(tong)、絕(jue)緣診斷測(ce)試(shi)系統(tong)、高(gao)低溫介電(dian)溫譜測(ce)試(shi)儀(yi)、極化(hua)裝置與電(dian)源、高壓(ya)放大(da)器、PVDV薄膜極化(hua)、高低(di)溫冷(leng)熱(re)臺(tai)、鐵電(dian)壓(ya)電(dian)熱(re)釋(shi)電(dian)測(ce)試(shi)儀(yi)、絕(jue)緣材料(liao)電(dian)學(xue)性能(neng)綜(zong)合測(ce)試(shi)平臺(tai)、電(dian)擊穿強(qiang)度試(shi)驗(yan)儀(yi)、耐(nai)電(dian)弧(hu)試(shi)驗(yan)儀(yi)、高壓(ya)漏(lou)電(dian)起痕測(ce)試(shi)儀(yi)、沖擊電(dian)壓(ya)試(shi)驗(yan)儀(yi)、儲(chu)能(neng)材料(liao)電(dian)學(xue)測(ce)控(kong)系(xi)統(tong)、壓(ya)電(dian)傳(chuan)感(gan)器測(ce)控(kong)系(xi)統(tong)。