新品(pin)推(tui)薦_第(di)(2)頁(ye)-北京華測試(shi)驗儀器有(you)限(xian)公(gong)司(si)

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多通(tong)道電流矩(ju)陣模塊(kuai) 鐵電分析(xi)儀高(gao)壓(ya)功(gong)率放大器塞(sai)貝(bei)克(ke)系數電阻測試(shi)儀先(xian)進(jin)功(gong)能材(cai)料電測綜合測試(shi)系統- 絕(jue)緣(yuan)電阻劣(lie)化(hua)（離子(zi)遷移）評(ping)估(gu)系(xi)統儲能新(xin)材料電學綜合測試(shi)系統半導(dao)體(ti)封裝(zhuang)材料真空探(tan)針(zhen)臺空間(jian)電荷測試(shi)系統電容器溫度特(te)性評(ping)估(gu)系(xi)統高(gao)頻高(gao)壓(ya)絕緣(yuan)電阻、介(jie)電多通(tong)道極(ji)化(hua)裝(zhuang)置(zhi) 絕緣(yuan)電阻率測試(shi)儀高(gao)低溫冷(leng)熱(re)臺測試(shi)系統 50點(dian)耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀電壓(ya)擊(ji)穿(chuan)測定儀耐(nai)電弧(hu)試(shi)驗儀探(tan)針(zhen)臺漏(lou)電起痕(hen)試(shi)驗儀多(duo)通(tong)道介(jie)電與(yu)電阻測試(shi)系統

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相關文(wen)章(zhang)

半導(dao)體(ti)封裝(zhuang)材料真空探(tan)針(zhen)測試(shi)

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-07-24

型號(hao)：

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半導(dao)體(ti)封裝(zhuang)材料真空探(tan)針(zhen)測試(shi)是壹(yi)種能夠(gou)在(zai)高(gao)真空環(huan)境(jing)下(xia)進行(xing)精(jing)確測量(liang)和實(shi)驗(yan)的設備(bei)。其(qi)基本原理(li)是利(li)用(yong)真(zhen)空環(huan)境(jing)下(xia)的物(wu)理(li)現(xian)象和特(te)性，對樣(yang)品(pin)進(jin)行(xing)各(ge)種(zhong)實(shi)驗(yan)和測量(liang)。在(zai)高(gao)真空環(huan)境(jing)中(zhong)，氣(qi)體(ti)分子(zi)很少(shao)，這(zhe)有(you)助(zhu)於(yu)減(jian)少(shao)空氣(qi)阻力、空氣(qi)振(zhen)動和其(qi)他(ta)幹(gan)擾因素(su)，從(cong)而獲(huo)得(de)較(jiao)為準(zhun)確和可靠(kao)的(de)實(shi)驗(yan)數據。
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Huace高(gao)頻高(gao)壓(ya)絕緣(yuan)電阻介(jie)電測試(shi)

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-08-01

型號(hao)：Huace

瀏(liu)覽量(liang)：1868

高(gao)頻高(gao)壓(ya)絕緣(yuan)電阻介(jie)電測試(shi)系統通(tong)過測量(liang)被測物(wu)絕緣(yuan)各(ge)個(ge)頻率下(xia)的泄漏(lou)電流，利(li)用(yong)數(shu)據(ju)模型對測量(liang)結果進行(xing)分(fen)析(xi)從(cong)而得(de)到(dao)固(gu)體(ti)絕緣(yuan)材(cai)料的電導(dao)率、絕緣(yuan)油的電導(dao)率/介(jie)損以及(ji)參考(kao)溫度下(xia)的介(jie)損、電阻等參數(shu)，由(you)於模型能夠(gou)精(jing)確補(bu)償(chang)溫度對測試(shi)結果的影(ying)響，因(yin)此(ci)測試(shi)可在(zai)任(ren)何溫度下(xia)進行(xing)。
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Huace HV-10塊(kuai)體(ti)極化(hua)裝(zhuang)置(zhi) 多通(tong)道定制(zhi)

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2024-12-12

型號(hao)：Huace HV-10

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塊體(ti)極化(hua)裝(zhuang)置(zhi) 多通(tong)道定制(zhi)，采(cai)用(yong)華(hua)測儀器自主研(yan)發(fa)的超(chao)低紋波(bo)、線性高(gao)壓(ya)直流電源、更(geng)科學穩(wen)定的(de)加(jia)熱電極，並配(pei)合計(ji)算(suan)機(ji)控(kong)制(zhi)實(shi)現(xian)的(de)多功(gong)能極(ji)化的(de)裝(zhuang)置(zhi)。
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HTDM-10多(duo)通(tong)道介(jie)電測試(shi)系統/測試(shi)儀器

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-07-29

型號(hao)：HTDM-10

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多通(tong)道介(jie)電測試(shi)系統/測試(shi)儀器主(zhu)要用(yong)於(yu)：多(duo)通(tong)道電阻、介(jie)電測試(shi)等可(ke)搭(da)載(zai)阻(zu)抗分析(xi)儀、高(gao)阻計(ji)使用(yong)。
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HCDJC-150KV電容器紙(zhi)/電纜紙(zhi)工(gong)頻擊(ji)穿(chuan)電壓(ya)試(shi)驗

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-08-11

型號(hao)：HCDJC-150KV

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電容器紙(zhi)/電纜紙(zhi)工(gong)頻擊(ji)穿(chuan)電壓(ya)試(shi)驗，華(hua)測儀器主(zhu)要適用(yong)於(yu)固(gu)體(ti)絕緣(yuan)材(cai)料如：塑(su)料、薄膜(mo)、樹脂(zhi)、雲母、陶(tao)瓷(ci)、玻(bo)璃、絕(jue)緣(yuan)漆等介(jie)質(zhi)在(zai)工(gong)頻電壓(ya)或直流電壓(ya)下(xia)擊(ji)穿(chuan)強度和耐(nai)電壓(ya)時(shi)間(jian)的(de)測試(shi)。
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多(duo)通(tong)道介(jie)電譜測試(shi)系統/特(te)性評(ping)估(gu)系(xi)統

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-07-23

型號(hao)：

瀏(liu)覽量(liang)：1193

多通(tong)道介(jie)電譜測試(shi)系統/特(te)性評(ping)估(gu)系(xi)統通(tong)過模擬(ni)電容器在(zai)實(shi)際(ji)應用(yong)中(zhong)可(ke)能遇(yu)到(dao)的(de)各(ge)種(zhong)溫度條(tiao)件，測量(liang)並記(ji)錄(lu)電容器的(de)關鍵(jian)參數(shu)（如電容值、損耗(hao)角(jiao)正(zheng)切(qie)值等）隨(sui)溫度的(de)變(bian)化情況(kuang)。這(zhe)些(xie)數(shu)據(ju)對於(yu)評(ping)估(gu)電容器的(de)溫度穩(wen)定性、預測其(qi)使用(yong)壽(shou)命以(yi)及(ji)優化(hua)電路設(she)計(ji)具有重(zhong)要意(yi)義。
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儲能新(xin)材料電學測試(shi)/TSDC熱刺激(ji)極(ji)化電流

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-07-24

型號(hao)：

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儲能新(xin)材料電學綜合測試(shi)系統可(ke)進行(xing)電壓(ya)擊(ji)穿(chuan)（介(jie)電場(chang)強）、高(gao)低頻介(jie)電頻譜、溫譜、高(gao)溫絕緣(yuan)電阻、熱(re)釋(shi)電測試(shi)、TSDC熱刺激(ji)極(ji)化電流、充(chong)放電儲能密度測試(shi)、電聲(sheng)脈(mai)沖法空間(jian)電荷測量(liang)、靜(jing)電電壓(ya)等。儲能新(xin)材料電學測試(shi)/TSDC熱刺激(ji)極(ji)化電流
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電容器溫度特(te)性評(ping)估(gu)系(xi)統

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-07-24

型號(hao)：

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電容器溫度特(te)性評(ping)估(gu)系(xi)統，自動記(ji)錄(lu)電容器的(de)溫度和頻率特(te)性，是將(jiang)環(huan)境(jing)試(shi)驗箱與(yu)測量(liang)和評估(gu)系(xi)統相結合，高(gao)效采(cai)集數(shu)據的自動化(hua)多(duo)通(tong)道系(xi)統。
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