高(gao)頻高(gao)壓絕緣(yuan)電(dian)阻介(jie)電(dian)測(ce)試(shi)

高(gao)頻高(gao)壓絕緣(yuan)電(dian)阻介(jie)電(dian)測(ce)試(shi)系統

高(gao)頻高(gao)壓絕緣(yuan)電(dian)阻介(jie)電(dian)測(ce)試(shi)系統產(chan)品(pin)概(gai)述：

      系統通(tong)過(guo)測量(liang)被測(ce)物絕緣(yuan)各個頻(pin)率下(xia)的泄漏(lou)電(dian)流(liu)，利用數(shu)據(ju)模(mo)型(xing)對(dui)測(ce)量結(jie)果進(jin)行分析從(cong)而得到固體(ti)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)的電(dian)導率、絕緣(yuan)油(you)的電(dian)導率/介(jie)損(sun)以(yi)及(ji)參考溫(wen)度下的介(jie)損(sun)、電(dian)阻等參數，由(you)於(yu)模(mo)型(xing)能(neng)夠精確補償(chang)溫(wen)度對測試(shi)結(jie)果的影響(xiang)，因(yin)此測(ce)試(shi)可(ke)在任何溫(wen)度下進行。絕緣(yuan)電(dian)阻評價平臺可以(yi)用於(yu)測(ce)量電(dian)路(lu)或(huo)材料(liao)在交流(liu)信(xin)號作用下(xia)的阻抗(kang)特性的高(gao)精度電(dian)子(zi)儀器(qi)。也可以(yi)測量(liang)直流(liu)電(dian)壓(ya)下(xia)的阻抗(kang)參數，其(qi)基本原理(li)基於交流(liu)電(dian)路(lu)理(li)論，通(tong)過(guo)向被(bei)測(ce)對象(xiang)施(shi)加壹定(ding)頻(pin)率和幅(fu)值的交流(liu)電(dian)壓(ya)（或(huo)直流(liu)電(dian)壓(ya)），測(ce)量由此產(chan)生的電(dian)流(liu)（或(huo)電(dian)壓(ya)）響(xiang)應，進而計算得到阻抗(kang)值（包括(kuo)實部(bu)電(dian)阻R和虛部(bu)電(dian)抗(kang)X，通常(chang)以(yi)復數(shu)形式(shi)Z=R+jX表示(shi)）。這壹過(guo)程利用了歐姆定(ding)律及(ji)相(xiang)量分析的方法(fa)，能(neng)夠揭示(shi)被(bei)測對象(xiang)在不(bu)同頻(pin)率下(xia)的阻抗(kang)特性，對於(yu)分析電(dian)路(lu)性(xing)能、材料(liao)導電(dian)性(xing)及(ji)評估(gu)元器(qi)件(jian)質(zhi)量(liang)具(ju)有重要意義(yi)。對(dui)於直流(liu)測(ce)量(liang)因(yin)為(wei)系統內(nei)置高(gao)壓功率放(fang)大器(qi)，也可輸(shu)出(chu)直流(liu)電(dian)壓(ya)。進(jin)行絕緣(yuan)材(cai)料(liao)的直流(liu)電(dian)壓(ya)下(xia)的電(dian)阻參數。

工(gong)作原(yuan)理(li)：

  系統工(gong)作原(yuan)理(li)：工(gong)控機(ji)控制(zhi)FPGA信號源向高(gao)壓功率放(fang)大器(qi)施加壹定(ding)頻(pin)率和幅(fu)值的交流(liu)電(dian)壓(ya)信(xin)號（或直流(liu)電(dian)壓(ya)信(xin)號），高(gao)壓功率放(fang)大器(qi)進行放大到測量(liang)所(suo)需(xu)要(yao)的不(bu)同頻(pin)率的交流(liu)或(huo)直流(liu)電(dian)壓(ya)，同(tong)時施(shi)加在樣(yang)品兩(liang)端，通(tong)過(guo)電(dian)壓(ya)采集模(mo)塊測量(liang)實際(ji)電(dian)壓(ya)。通(tong)過(guo)電(dian)流(liu)采集模(mo)塊測量(liang)實際(ji)流(liu)過(guo)的電(dian)流(liu)。測(ce)量由此產(chan)生的電(dian)流(liu)（或(huo)電(dian)壓(ya)）響(xiang)應，進而計算得到阻抗(kang)值（包括(kuo)實部(bu)電(dian)阻R和虛部(bu)電(dian)抗(kang)X，通常(chang)以(yi)復數(shu)形式(shi)Z=R+jX表示(shi)），也(ye)可以(yi)直接(jie)輸(shu)出(chu)電(dian)阻或電(dian)導參數。

產(chan)品(pin)六大優勢(shi)：

寬(kuan)頻(pin)測(ce)試(shi)範圍：支(zhi)持從(cong)低頻到高(gao)頻的廣泛(fan)頻(pin)率範圍測(ce)試(shi)，滿(man)足(zu)不(bu)同應(ying)用場景需(xu)求。

高(gao)精度測量：采用優(you)良(liang)的測量(liang)技術(shu)和算法(fa)，確(que)保(bao)測(ce)量結(jie)果的準(zhun)確性和穩定(ding)性(xing)。

自動掃(sao)頻(pin)功(gong)能(neng)：自動進行多頻(pin)點(dian)阻抗(kang)掃(sao)描(miao)，提高(gao)測試效率。

實時顯(xian)示(shi)與(yu)存儲：實時顯(xian)示(shi)測(ce)試曲線(xian)，支持數據(ju)保(bao)存(cun)與(yu)導出(chu)，便(bian)於後(hou)續分析。

多種(zhong)測量(liang)模(mo)式(shi)：流控制(zhi)等多(duo)種(zhong)測量(liang)模(mo)式(shi)，適應不(bu)同測(ce)試要(yao)求。

用戶(hu)界(jie)面(mian)友好：直觀(guan)的操(cao)作界(jie)面(mian)，簡(jian)化操(cao)作流(liu)程，降低操(cao)作難(nan)度。

產(chan)品(pin)參數：

端口(kou)：INPUT，OUTPUT，采集，通(tong)訊(xun)，接(jie)地

輸(shu)出(chu)電(dian)壓(ya)幅(fu)值範圍 ：0 ~ 500V（AC\DC），電(dian)壓(ya)上(shang)升(sheng)速率150V/μs

交流(liu)測(ce)試頻(pin)率範圍： 1mHz ~ 1KHz

輸(shu)出(chu)電(dian)壓(ya)直流(liu)偏(pian)置： ≤1V

高(gao)壓電(dian)源(yuan)內(nei)部(bu)電(dian)容(rong)：300pF

有效測量(liang)電(dian)流(liu)範圍：2×10^-13 ~ 2×10^-3A（交流(liu)峰(feng)值）

測(ce)試(shi)絕緣(yuan)阻抗(kang)範圍：5000 ~ 10¹⁵Ω

電(dian)流(liu)測(ce)量誤(wu)差：≤1%

過(guo)流保(bao)護(hu)啟動：交流(liu)峰(feng)值達到40mA，5ms

校正：允(yun)許現(xian)場校正

系(xi)統軟件(jian)：