
當前位(wei)置:首頁(ye) > 技(ji)術文章(zhang) > 高頻(pin)高(gao)壓絕(jue)緣電阻、介(jie)電測(ce)試系(xi)統(tong)工(gong)作(zuo)原(yuan)理(li)是(shi)什麽(me)?高(gao)頻(pin)高壓(ya)絕(jue)緣電阻、介(jie)電測(ce)試系(xi)統(tong)
產(chan)品概(gai)述:
系(xi)統(tong)通過測(ce)量(liang)被(bei)測(ce)物(wu)絕(jue)緣各(ge)個(ge)頻(pin)率(lv)下的泄漏電流,利用數據(ju)模型(xing)對測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)進(jin)行(xing)分析(xi)從而得(de)到(dao)固體絕(jue)緣材(cai)料(liao)的電導率(lv)、絕(jue)緣油的電導率(lv)/介(jie)損以(yi)及(ji)參考溫度下的介(jie)損、電阻等參數,由(you)於模型(xing)能(neng)夠(gou)精確(que)補(bu)償(chang)溫度對測(ce)試結(jie)果(guo)的影(ying)響,因(yin)此(ci)測(ce)試可(ke)在任何(he)溫度下進(jin)行(xing)。絕(jue)緣電阻評價(jia)平(ping)臺可(ke)以用於測(ce)量(liang)電路或材(cai)料(liao)在交流(liu)信(xin)號(hao)作(zuo)用下的阻抗特(te)性(xing)的高精(jing)度電子儀(yi)器。也可(ke)以測(ce)量(liang)直流電壓下的阻抗參數,其(qi)基本(ben)原(yuan)理基於交流(liu)電路理論,通過向(xiang)被(bei)測(ce)對象(xiang)施(shi)加(jia)壹定(ding)頻(pin)率(lv)和幅值的交流(liu)電壓(或直流電壓),測(ce)量(liang)由此(ci)產生(sheng)的電流(或電壓)響應(ying),進(jin)而(er)計(ji)算得(de)到(dao)阻抗值(包(bao)括實部電阻R和虛部電抗X,通常以(yi)復(fu)數形(xing)式(shi)Z=R+jX表(biao)示)。這(zhe)壹過程(cheng)利(li)用了(le)歐姆(mu)定(ding)律及(ji)相(xiang)量(liang)分析(xi)的方(fang)法(fa),能(neng)夠(gou)揭(jie)示被(bei)測(ce)對象(xiang)在(zai)不(bu)同(tong)頻率(lv)下的阻抗特(te)性(xing),對於分析(xi)電路性(xing)能(neng)、材(cai)料(liao)導電性(xing)及(ji)評估元器件質(zhi)量(liang)具有(you)重要(yao)意義。對於直流測(ce)量(liang)因為系(xi)統(tong)內(nei)置(zhi)高壓功(gong)率(lv)放(fang)大(da)器,也可(ke)輸出直流電壓。進行(xing)絕(jue)緣材(cai)料(liao)的直流電壓下的電阻參數。
工(gong)作(zuo)原理(li):
系(xi)統(tong)工(gong)作(zuo)原(yuan)理(li):工控機控制(zhi)FPGA信(xin)號(hao)源向高(gao)壓功(gong)率(lv)放(fang)大(da)器施加(jia)壹定(ding)頻(pin)率(lv)和幅值的交流(liu)電壓信(xin)號(hao)(或(huo)直流電壓信(xin)號(hao)),高(gao)壓功率(lv)放(fang)大(da)器進行(xing)放(fang)大(da)到(dao)測(ce)量(liang)所(suo)需(xu)要(yao)的不(bu)同(tong)頻率(lv)的交流(liu)或直流電壓,同時施加(jia)在樣(yang)品兩端(duan),通過電壓采集模塊(kuai)測(ce)量(liang)實際(ji)電壓。通過電流采集模塊(kuai)測(ce)量(liang)實際(ji)流過的電流。測(ce)量(liang)由此(ci)產生(sheng)的電流(或電壓)響應(ying),進(jin)而(er)計(ji)算得(de)到(dao)阻抗值(包(bao)括實部電阻R和虛部電抗X,通常以(yi)復(fu)數形(xing)式(shi)Z=R+jX表(biao)示),也可(ke)以直接輸出電阻或電導參數。

產(chan)品六(liu)大(da)優(you)勢(shi):
寬(kuan)頻(pin)測(ce)試範(fan)圍(wei):持(chi)從低頻(pin)到(dao)高頻的廣泛頻率(lv)範(fan)圍(wei)測(ce)試,滿(man)足不(bu)同(tong)應用場(chang)景需(xu)求(qiu)。
高(gao)精(jing)度測(ce)量(liang):采用(yong)先進的測(ce)量(liang)技(ji)術和算法(fa),確保(bao)測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)的準確(que)性(xing)和(he)穩(wen)定(ding)性(xing)。
自動掃(sao)頻功能(neng):自動進(jin)行(xing)多(duo)頻點(dian)阻抗掃(sao)描,提(ti)高測(ce)試效率(lv)。
實時顯(xian)示與(yu)存(cun)儲(chu):實時顯(xian)示測(ce)試曲(qu)線,支(zhi)持數據(ju)保(bao)存(cun)與(yu)導出,便(bian)於後續(xu)分析(xi)。
多(duo)種測(ce)量(liang)模式(shi):流(liu)控制(zhi)等多種測(ce)量(liang)模式(shi),適應(ying)不(bu)同(tong)測(ce)試要(yao)求(qiu)。
用(yong)戶(hu)界(jie)面(mian)友(you)好(hao):直觀的操作(zuo)界(jie)面(mian),簡(jian)化操作流(liu)程(cheng),降低(di)操(cao)作(zuo)難(nan)度。
產(chan)品參數:
端(duan)口(kou):INPUT,OUTPUT,采(cai)集,通訊(xun),接地
輸出電壓幅值範(fan)圍(wei) :0 ~ 500V(AC\DC),電壓上(shang)升速率(lv)150V/μs
交流(liu)測(ce)試頻(pin)率(lv)範(fan)圍(wei): 1mHz ~ 1KHz
輸出電壓直流偏(pian)置: ≤1V
高(gao)壓(ya)電源內(nei)部(bu)電容:300pF
有(you)效測(ce)量(liang)電流範(fan)圍(wei):2×10-13 ~ 2×10-3A(交流(liu)峰值(zhi))
測(ce)試絕(jue)緣阻(zu)抗範(fan)圍(wei):5000 ~ 1015Ω
電流測(ce)量(liang)誤差(cha):≤1%
過流(liu)保(bao)護(hu)啟(qi)動:交流(liu)峰值(zhi)達(da)到(dao)40mA,5ms
校(xiao)正:允許(xu)現(xian)場(chang)校(xiao)正

電話(hua)
微(wei)信(xin)掃(sao)壹掃(sao)