高(gao)頻(pin)高(gao)壓(ya)絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)、介(jie)電測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)是什(shen)麽？

產品概(gai)述(shu)：

系(xi)統(tong)通過(guo)測(ce)量(liang)被(bei)測(ce)物(wu)絕(jue)緣(yuan)各個頻率下的(de)泄漏(lou)電流(liu)，利(li)用(yong)數據(ju)模(mo)型(xing)對(dui)測(ce)量結(jie)果進行(xing)分(fen)析(xi)從而得到(dao)固體絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)的(de)電導(dao)率(lv)、絕(jue)緣(yuan)油(you)的(de)電導(dao)率(lv)/介損以(yi)及參(can)考(kao)溫(wen)度下的(de)介損(sun)、電阻(zu)等(deng)參(can)數，由(you)於模(mo)型(xing)能夠精(jing)確(que)補償溫(wen)度對(dui)測(ce)試結(jie)果的(de)影響(xiang)，因此(ci)測試可在任何(he)溫(wen)度下進行(xing)。絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)評(ping)價平臺可以(yi)用(yong)於測(ce)量(liang)電路(lu)或材料在交流(liu)信(xin)號(hao)作(zuo)用(yong)下的(de)阻(zu)抗(kang)特性(xing)的(de)高(gao)精(jing)度電子(zi)儀器。也可以(yi)測量(liang)直(zhi)流(liu)電壓(ya)下的(de)阻(zu)抗(kang)參(can)數，其(qi)基本原(yuan)理基於交(jiao)流(liu)電路(lu)理論(lun)，通過(guo)向被(bei)測(ce)對(dui)象施(shi)加壹(yi)定頻(pin)率(lv)和(he)幅(fu)值(zhi)的(de)交流(liu)電壓(ya)（或直(zhi)流(liu)電壓(ya)），測量(liang)由(you)此(ci)產生的(de)電流(liu)（或電壓(ya)）響(xiang)應，進而計算(suan)得(de)到阻(zu)抗(kang)值(zhi)（包(bao)括(kuo)實(shi)部(bu)電阻(zu)R和(he)虛部電抗(kang)X，通(tong)常(chang)以(yi)復(fu)數形式Z=R+jX表(biao)示(shi)）。這(zhe)壹過(guo)程(cheng)利(li)用(yong)了(le)歐(ou)姆定律(lv)及(ji)相(xiang)量分(fen)析(xi)的(de)方法(fa)，能(neng)夠揭示被(bei)測(ce)對(dui)象在不同頻(pin)率下的(de)阻(zu)抗(kang)特性(xing)，對(dui)於分(fen)析(xi)電路(lu)性(xing)能、材(cai)料導電性(xing)及(ji)評(ping)估元(yuan)器件質(zhi)量(liang)具(ju)有重要(yao)意義。對(dui)於直(zhi)流(liu)測(ce)量(liang)因(yin)為(wei)系(xi)統(tong)內置高(gao)壓(ya)功率(lv)放(fang)大(da)器，也可輸(shu)出(chu)直(zhi)流(liu)電壓(ya)。進行(xing)絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)的(de)直(zhi)流(liu)電壓(ya)下的(de)電阻(zu)參(can)數。

工(gong)作(zuo)原(yuan)理：

系(xi)統(tong)工作原(yuan)理：工控機(ji)控制(zhi)FPGA信號源(yuan)向高(gao)壓(ya)功率(lv)放(fang)大器(qi)施(shi)加壹(yi)定頻(pin)率(lv)和(he)幅(fu)值(zhi)的(de)交流(liu)電壓(ya)信號(hao)（或直(zhi)流(liu)電壓(ya)信號(hao)），高(gao)壓(ya)功率(lv)放(fang)大(da)器進行(xing)放(fang)大(da)到測量(liang)所(suo)需要(yao)的(de)不同頻(pin)率的(de)交流(liu)或直(zhi)流(liu)電壓(ya)，同時(shi)施(shi)加在樣(yang)品兩(liang)端(duan)，通過(guo)電壓(ya)采集(ji)模塊(kuai)測量(liang)實(shi)際(ji)電壓(ya)。通過(guo)電流(liu)采集(ji)模塊(kuai)測量(liang)實(shi)際(ji)流(liu)過(guo)的(de)電流(liu)。測(ce)量(liang)由(you)此產生的(de)電流(liu)（或電壓(ya)）響(xiang)應，進而計算(suan)得(de)到阻(zu)抗(kang)值(zhi)（包(bao)括(kuo)實(shi)部(bu)電阻(zu)R和虛(xu)部(bu)電抗(kang)X，通(tong)常(chang)以(yi)復(fu)數形式Z=R+jX表(biao)示(shi)），也可以(yi)直(zhi)接輸出(chu)電阻(zu)或電導(dao)參(can)數。

產(chan)品(pin)六(liu)大(da)優(you)勢(shi)：

寬(kuan)頻(pin)測試(shi)範圍(wei)：支(zhi)持從低頻到高(gao)頻(pin)的(de)廣(guang)泛(fan)頻(pin)率(lv)範(fan)圍(wei)測試，滿足不(bu)同應(ying)用(yong)場景(jing)需求。

高(gao)精(jing)度測量(liang)：采用(yong)先(xian)進的(de)測量(liang)技(ji)術(shu)和(he)算(suan)法(fa)，確(que)保測量結果的(de)準確(que)性和穩定性(xing)。

自動掃(sao)頻功(gong)能(neng)：自(zi)動(dong)進行(xing)多頻(pin)點阻(zu)抗(kang)掃(sao)描(miao)，提(ti)高(gao)測(ce)試(shi)效(xiao)率(lv)。

實(shi)時(shi)顯(xian)示與(yu)存儲：實(shi)時(shi)顯(xian)示測試曲(qu)線(xian)，支持數據(ju)保(bao)存與(yu)導出(chu)，便(bian)於後(hou)續分(fen)析(xi)。

多種(zhong)測(ce)量(liang)模(mo)式：流(liu)控(kong)制(zhi)等(deng)多種(zhong)測(ce)量(liang)模(mo)式，適(shi)應(ying)不同測(ce)試要(yao)求。

用(yong)戶(hu)界(jie)面(mian)友(you)好(hao)：直(zhi)觀的(de)操(cao)作(zuo)界(jie)面(mian)，簡化操(cao)作(zuo)流(liu)程(cheng)，降(jiang)低操(cao)作(zuo)難度。

產品(pin)參(can)數：

端(duan)口：INPUT，OUTPUT，采集(ji)，通訊(xun)，接地

輸(shu)出(chu)電壓(ya)幅值(zhi)範(fan)圍(wei) ：0 ~ 500V（AC\DC），電壓(ya)上(shang)升(sheng)速率150V/μs

交流(liu)測(ce)試(shi)頻(pin)率範圍： 1mHz ~ 1KHz

輸(shu)出(chu)電壓(ya)直(zhi)流(liu)偏(pian)置： ≤1V

高(gao)壓(ya)電源(yuan)內部(bu)電容(rong)：300pF

有效(xiao)測(ce)量電流(liu)範(fan)圍(wei)：2×10^-13 ~ 2×10^-3A（交(jiao)流(liu)峰(feng)值(zhi)）

測(ce)試(shi)絕(jue)緣(yuan)阻(zu)抗(kang)範圍：5000 ~ 10¹⁵Ω

電流(liu)測(ce)量(liang)誤(wu)差(cha)：≤1%

過(guo)流(liu)保(bao)護(hu)啟(qi)動：交流(liu)峰(feng)值(zhi)達(da)到40mA，5ms

校正：允(yun)許(xu)現場校正