新(xin)品推薦(jian)_第(di)(15)頁(ye)-北(bei)京(jing)華(hua)測(ce)試(shi)驗(yan)儀器有限(xian)公(gong)司

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多通(tong)道電(dian)流(liu)矩(ju)陣(zhen)模塊鐵電(dian)分析儀高壓功(gong)率放(fang)大(da)器(qi) 塞貝克(ke)系數(shu)電(dian)阻測(ce)試(shi)儀先進(jin)功(gong)能(neng)材(cai)料電(dian)測(ce)綜合測(ce)試(shi)系統- 絕緣電(dian)阻劣化(hua)（離(li)子(zi)遷移(yi)）評(ping)估(gu)系統儲能(neng)新(xin)材(cai)料電(dian)學綜(zong)合測(ce)試(shi)系統半(ban)導體封(feng)裝(zhuang)材(cai)料真(zhen)空(kong)探針(zhen)臺(tai) 空(kong)間(jian)電(dian)荷測(ce)試(shi)系統電(dian)容(rong)器溫(wen)度(du)特性(xing)評(ping)估(gu)系統高頻高壓絕緣電(dian)阻、介(jie)電(dian) 多通(tong)道極化(hua)裝(zhuang)置絕緣電(dian)阻率測(ce)試(shi)儀高低(di)溫(wen)冷熱臺測(ce)試(shi)系統 50點(dian)耐壓測(ce)試(shi)儀電(dian)壓擊(ji)穿測(ce)定儀耐電(dian)弧試(shi)驗(yan)儀探針(zhen)臺(tai) 漏(lou)電(dian)起痕(hen)試(shi)驗(yan)儀多通(tong)道介電(dian)與電(dian)阻測(ce)試(shi)系統

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HCDJC—100KV華(hua)測(ce)工(gong)頻(pin)擊(ji)穿電(dian)壓試(shi)驗(yan)設(she)備(bei)

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HCDJC-100KV耐電(dian)壓強(qiang)度(du)試(shi)驗(yan)儀

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耐(nai)電(dian)壓強(qiang)度(du)試(shi)驗(yan)儀采用(yong)計(ji)算(suan)機控(kong)制(zhi)，試(shi)驗(yan)過程(cheng)中可(ke)在(zai)線觀察試(shi)驗(yan)曲(qu)線；自(zi)動存(cun)儲(chu)試(shi)驗(yan)條(tiao)件(jian)及試(shi)驗(yan)結(jie)果等(deng)數據，並可(ke)存(cun)取、顯(xian)示、打印。本試(shi)驗(yan)機采(cai)用(yong)立式箱體結(jie)構(gou)，極大(da)的(de)節省試(shi)驗(yan)室(shi)內占(zhan)地空(kong)間(jian)，地腳(jiao)采用滑(hua)輪結(jie)構(gou)，方便(bian)移(yi)動和(he)擺放(fang)，安(an)放(fang)時(shi)需要(yao)另配(pei)安(an)裝臺(tai)的情況(kuang)。
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HCLD-3產(chan)品*可(ke)靠(kao)漏(lou)電(dian)起痕(hen)試(shi)驗(yan)機測(ce)試(shi)儀器

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產(chan)品*可(ke)靠(kao)漏(lou)電(dian)起痕(hen)試(shi)驗(yan)機測(ce)試(shi)儀器HCLD-III為(wei)華測(ce)公司2013年重點(dian)科研產品之壹，高壓漏(lou)電(dian)試(shi)驗(yan)儀采用(yong)控制系統精(jing)度(du)高，擯棄了(le)現有的(de)低(di)壓切(qie)斷原(yuan)原理，采用(yong)高壓真(zhen)空(kong)切(qie)斷技(ji)術，使試(shi)驗(yan)過程(cheng)合理。采用(yong)5組(zu)電(dian)流(liu)傳(chuan)感器用以控制每組(zu)試(shi)驗(yan)的(de)高壓切(qie)斷，使數(shu)據采(cai)集(ji)精(jing)確(que)，同時(shi)本設備(bei)采(cai)用電(dian)力(li)系統過壓過流(liu)保(bao)護(hu)裝(zhuang)置，使儀器。
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HCLD-3高壓漏(lou)電(dian)起痕(hen)試(shi)驗(yan)機符合國(guo)標(biao)GB/T6553-2003

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高壓漏(lou)電(dian)起痕(hen)試(shi)驗(yan)機符合國(guo)標(biao)GB/T6553-2003，高壓漏(lou)電(dian)試(shi)驗(yan)儀采用(yong)控制系統，擯棄了(le)現有的(de)低(di)壓切(qie)斷原(yuan)原理，采用(yong)高壓真(zhen)空(kong)切(qie)斷技(ji)術，使試(shi)驗(yan)過程(cheng)合理。采用(yong)5組(zu)電(dian)流(liu)傳(chuan)感器用以控制每組(zu)試(shi)驗(yan)的(de)高壓切(qie)斷，使數(shu)據采(cai)集(ji)精(jing)確(que)，同時(shi)本設備(bei)采(cai)用電(dian)力(li)系統過壓過流(liu)保(bao)護(hu)裝(zhuang)置。
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HCLD-III固(gu)體絕緣材(cai)料漏(lou)電(dian)起痕(hen)試(shi)驗(yan)機

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固(gu)體絕緣材(cai)料漏(lou)電(dian)起痕(hen)試(shi)驗(yan)機，測(ce)試(shi)儀器HCLD-III適(shi)用於對電(dian)工(gong)電(dian)子(zi)產(chan)品、家用電(dian)器及其(qi)材(cai)料進(jin)行耐電(dian)痕(hen)化(hua)和(he)蝕(shi)損(sun)的(de)試(shi)驗(yan)，模擬(ni)在(zai)工(gong)頻(pin)（48Hz - 62Hz）下(xia)，用液體汙染(ran)物(wu)和(he)斜面試(shi)樣(yang)，通(tong)過耐(nai)電(dian)痕(hen)化(hua)和(he)蝕(shi)損(sun)的(de)測(ce)量(liang)評(ping)定(ding)環境(jing)條(tiao)件(jian)下(xia)使用(yong)的(de)電(dian)氣(qi)絕緣材(cai)料的(de)耐(nai)電(dian)痕(hen)化(hua)和(he)蝕(shi)損(sun)等(deng)級。
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HCLD-III電(dian)氣(qi)絕緣材(cai)料漏(lou)電(dian)起痕(hen)測(ce)試(shi)儀

更新(xin)時(shi)間(jian)：2024-06-13

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電(dian)氣(qi)絕緣材(cai)料漏(lou)電(dian)起痕(hen)測(ce)試(shi)儀，HCLD-III適用(yong)於對電(dian)工(gong)電(dian)子(zi)產(chan)品、家用電(dian)器及其(qi)材(cai)料進(jin)行耐電(dian)痕(hen)化(hua)和(he)蝕(shi)損(sun)的(de)試(shi)驗(yan)，模擬(ni)在(zai)工(gong)頻(pin)（48Hz - 62Hz）下(xia)，用液體汙染(ran)物(wu)和(he)斜面試(shi)樣(yang)，通(tong)過耐(nai)電(dian)痕(hen)化(hua)和(he)蝕(shi)損(sun)的(de)測(ce)量(liang)評(ping)定(ding)在(zai)嚴酷(ku)環境(jing)條(tiao)件(jian)下(xia)使用(yong)的(de)電(dian)氣(qi)絕緣材(cai)料的(de)耐(nai)電(dian)痕(hen)化(hua)和(he)蝕(shi)損(sun)等(deng)級。本機是(shi)嚴格按照(zhao)GB/T6553-2003 及 IEC60587-1984設(she)計(ji)制(zhi)造。
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