多通道介電(dian)譜測試(shi)系統(tong)/特性評估系統(tong)

多(duo)通道介電(dian)譜測試(shi)系統(tong)/特性評估系統(tong)

（電容器溫度特性評估系統(tong)）

電(dian)化(hua)學(xue)遷(qian)移(yi)評價系統(tong)

電(dian)化(hua)學(xue)遷(qian)移(yi)評估系統(tong)可以輕(qing)松有效(xiao)地(di)評估產品壽命和絕(jue)緣(yuan)電阻，從(cong)低壓測(ce)試到高(gao)壓測(ce)試都有(you)許多(duo)應(ying)用(yong)。

l 評價目標(biao)

l 印刷(shua)電路板

l 絕(jue)緣(yuan)材料(liao)

l 半(ban)導體(ti)材(cai)料(liao)

容(rong)器泄(xie)漏測試系統(tong)

電(dian)容(rong)器泄(xie)漏測試系統(tong)自(zi)動評估高溫和高(gao)溫/高(gao)濕(shi)環境下電容(rong)器的(de)絕(jue)緣(yuan)退化特(te)性。

l 評價目標(biao)

l 電(dian)容(rong)器

Platinous J 系列恒溫試(shi)驗箱(xiang)

作(zuo)為(wei)行業(ye)標(biao)準(zhun)試(shi)驗箱的(de)壹(yi)條線，Platinous系列除了(le)可靠性、性能(neng)、可操(cao)作(zuo)性(xing)和安(an)全(quan)性外，還追(zhui)求理(li)想的、生(sheng)態友好的(de)環境試驗箱(xiang)的(de)新(xin)環境標(biao)準(zhun)。

型(xing)號(hao)

範(fan)圍(wei) 迷(mi)妳(ni)零(ling)下(xia)Compact 超低溫室(shi)

Mini Subzero 支(zhi)持(chi)覆蓋(gai)超低溫範(fan)圍(wei)的較寬(kuan)溫度範(fan)圍(wei)（-75℃/－85℃ ) to the high-85℃）至高溫範(fan)圍(wei)（+ 100℃/+ 180℃）。該滅(mie)菌室還提(ti)供(gong)遠程(cheng)監測和操(cao)作(zuo)。

內部(bu)容積 (L)

特(te)征

該(gai)系統(tong)可用於(yu)評估特定溫度環境下電容(rong)器和各(ge)種(zhong)材(cai)料(liao)的靜(jing)電容(rong)量(liang) (C)、損(sun)耗因(yin)子 (D) 和阻(zu)抗(kang) (Z)。

☆ 最(zui)多(duo)64個(ge)通(tong)道的(de)自(zi)動測(ce)量

該(gai)系統(tong)可以測(ce)量不(bu)同(tong)溫度環境下的靜(jing)電容(rong)量(liang) (C)、損(sun)耗因(yin)子 (D) 和阻(zu)抗(kang) (Z) 的(de)多(duo)通(tong)道。

您可(ke)以選擇8個(ge)通(tong)道的(de)倍數(shu)，最(zui)多(duo)64個(ge)通(tong)道。

☆ 圖(tu)形(xing)功能(neng)允許實(shi)時查看(kan)測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)

收(shou)集的(de)數(shu)據(ju)，包括(kuo)不同(tong)溫度、頻(pin)率(lv)和時間(jian)下(xia)的電特性(xing)值和變(bian)化率(lv)，可以(yi)通過(guo)各(ge)種(zhong)圖(tu)形(xing)函數(shu)進行實(shi)時審(shen)查。

☆ 可(ke)從(cong)不(bu)同(tong)測(ce)試模式選擇

溫度特性評價試驗、恒定運行試(shi)驗(yan)和頻(pin)率(lv)特性(xing)試驗(yan)。

<溫度特性評估測試(shi)>

在(zai)此(ci)測(ce)試(shi)模式下，自(zi)動記(ji)錄特性數(shu)據(ju)，並(bing)與(yu)溫度變(bian)化同步(bu)，最(zui)多(duo)40步(bu)。

<持(chi)續(xu)運行測(ce)試(shi)>

該(gai)測(ce)試(shi)模式測量以下參(can)數(shu)的變(bian)化特定中隨時間(jian)推(tui)移(yi)的(de)特征自(zi)動記(ji)錄數(shu)據(ju)。

<頻(pin)率(lv)特性(xing)評價試驗>

該(gai)試(shi)驗(yan)模式在特定溫度環境下改變(bian)頻(pin)率(lv)的同(tong)時，自(zi)動記(ji)錄不同頻(pin)率(lv)下的(de)特性(xing)數(shu)據(ju)。測試可與(yu)溫度特性評價測試或(huo)恒定運行測(ce)試(shi)相結(jie)合(he)。

☆ 多(duo)種(zhong)可(ke)選夾具 適用(yong)於(yu)不(bu)同的(de)試驗(yan)樣(yang)本（可選）

除(chu)了(le) SMD 組件的專用夾具外(wai)，我們還提(ti)供(gong)了(le)根(gen)據(ju)離(li)散設(she)備(bei)形(xing)狀(zhuang)定制的夾具(ju)。

應(ying)用(yong)程(cheng)序

l 電(dian)容(rong)器

l 靜(jing)電容(rong)量(liang) (C)

l 損(sun)失(shi)因(yin)子 (D)

l 阻(zu)抗(kang)的(de)溫度特性 (Z)

l 頻(pin)率(lv)特征

l 電(dian)子材料(liao)

l 印刷(shua)電路板

l 通(tong)量(liang)

l 絕(jue)緣(yuan)材料(liao)（樹脂(zhi)、薄(bo)膜等）

l 介電(dian)材(cai)料(liao)（鈦(tai)、陶瓷、鉭、鋁電(dian)解(jie)材(cai)料(liao)等）

①系統(tong)控制器

用(yong)於(yu)登記系統(tong)管理的(de)計(ji)算機和監視(shi)器測(ce)試(shi)條件，檢(jian)查工(gong)作(zuo) 狀(zhuang)態，並(bing)進行數(shu)據(ju)處理。

②不(bu)間(jian)斷(duan)電源

系統(tong)控制器的(de)備(bei)用(yong)電(dian)源(yuan)。

③ RS-232C

操(cao)作(zuo)員控制並(bing)監測來自(zi)系統(tong)控制器的(de)環境測試系統(tong)。

④ 掃(sao)描裝置(zhi)

該(gai)裝置(zhi)測量靜(jing)電容(rong)量(liang) (C)、損(sun)耗因(yin)子(D) 和帶(dai)有(you)測量電(dian)纜前(qian)沿的標(biao)準(zhun)8通(tong)道的(de)阻抗(kang) (Z)。

您可(ke)以將(jiang)每臺(tai)器械的通道數(shu)增加(jia)到64個(ge)，增量為(wei)8個(ge)通(tong)道。

⑤ 測(ce)量(liang)電(dian)纜(lan)

由(you)聚四氟(fu)乙(yi)烯制成的同(tong)軸(zhou)電纜(lan)連接到樣(yang)品或(huo)試(shi)驗(yan)系統(tong)內部(bu)夾具。

⑥ 繼(ji)電(dian)器單(dan)元(yuan)

該(gai)裝置(zhi)將(jiang)測量(liang)電纜連(lian)接到樣(yang)本上(shang)或(huo)測(ce)試(shi)系統(tong)內部(bu)夾具至(zhi)掃(sao)描儀裝置(zhi)。繼電器單(dan)元(yuan)使(shi)連(lian)接變(bian)得(de)容易。

⑦ 樣(yang)品(pin)連(lian)接夾具(ju)（可(ke)選）

用(yong)於(yu)連(lian)接 SMD 組件或(huo)離(li)散設(she)備(bei)的(de)卡扣式夾(jia)具。

⑧ LCR儀表

該(gai)儀表測(ce)量(liang)靜(jing)電容(rong)量(liang) (C)、損(sun)耗因(yin)子 (D)、和阻(zu)抗(kang)(Z)。

⑨ 絕(jue)緣(yuan)電阻測試儀（選配）

該(gai)測(ce)試(shi)人(ren)員測量(liang)絕(jue)緣(yuan)電阻。您可(ke)以將(jiang)每臺(tai)器械的通道數(shu)增加(jia)到64個(ge)，增量為(wei)8個(ge)通(tong)道。

⑩RS-485（可(ke)選）

從(cong)環境測試系統(tong)選項菜單(dan)，RS-485可(ke)將(jiang)通信(xin)選作系統(tong)控制器和環境測試系統(tong)的通信(xin)協議(yi)。

多(duo)通(tong)道介電(dian)譜測試(shi)系統(tong)/特性評估系統(tong)