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          MLCC電容器溫度特(te)性測試(shi)系(xi)統

          簡要描述:MLCC電容器溫度特(te)性測試(shi)系(xi)統 通過模擬(ni)電(dian)容器在實際應(ying)用(yong)中可(ke)能(neng)遇到的(de)各種溫度條(tiao)件(jian),測量並(bing)記(ji)錄(lu)電容器的關鍵(jian)參(can)數(shu)(如電容值、損耗(hao)角(jiao)正(zheng)切(qie)值(zhi)等)隨(sui)溫度的(de)變(bian)化情(qing)況。這(zhe)些數(shu)據(ju)對於評(ping)估電(dian)容器的溫度穩(wen)定性、預測其使(shi)用(yong)壽(shou)命(ming)以及(ji)優化電路(lu)設(she)計具(ju)有(you)重(zhong)要意義。

          • 產(chan)品(pin)型(xing)號(hao):HCCT-40H
          • 廠(chang)商(shang)性質(zhi):生產(chan)廠(chang)家(jia)
          • 更(geng)新(xin)時間(jian):2025-09-15
          • 訪  問(wen)  量:3978

          詳(xiang)細(xi)介(jie)紹

          品(pin)牌(pai)華(hua)測儀器(qi)應(ying)用(yong)領域化工,電(dian)子(zi)/電池,鋼(gang)鐵(tie)/金屬,電氣,綜(zong)合


          MLCC電(dian)容器溫度特(te)性測試(shi)系(xi)統  

          (電容器溫度特(te)性評(ping)估(gu)系統)


          MLCC電容器溫度特(te)性測試(shi)系(xi)統

          電化學遷移(yi)評價系統

          電化學遷移(yi)評估(gu)系統可以輕(qing)松(song)有效(xiao)地(di)評估產(chan)品(pin)壽(shou)命(ming)和(he)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu),從低(di)壓(ya)測試(shi)到高(gao)壓(ya)測試(shi)都(dou)有許多應(ying)用(yong)。

          l 評價目(mu)標(biao)

          l 印刷(shua)電(dian)路板

          l 絕(jue)緣(yuan)材料(liao)

          l 半導體材料(liao)

          容器泄(xie)漏測試(shi)系(xi)統

          電容器泄(xie)漏測試(shi)系(xi)統自動(dong)評(ping)估高(gao)溫和高(gao)溫/高濕環境(jing)下(xia)電容器的絕(jue)緣(yuan)退(tui)化特(te)性。

          l 評價目(mu)標(biao)

          l 電容器

          Platinous J 系列(lie)恒(heng)溫試(shi)驗箱(xiang)

          作(zuo)為(wei)行(xing)業(ye)標(biao)準(zhun)試(shi)驗箱(xiang)的壹條(tiao)線(xian),Platinous系列(lie)除了可(ke)靠(kao)性、性能(neng)、可(ke)操(cao)作(zuo)性和(he)安(an)全(quan)性外(wai),還追(zhui)求(qiu)理(li)想的、生態友好(hao)的環(huan)境(jing)試(shi)驗箱(xiang)的新(xin)環(huan)境(jing)標(biao)準(zhun)。

          型號(hao)

          溫度範圍

          內(nei)部容積L

          PU

          40 ~ +100℃

          120, 225, 408, 800

          PG

          70 ~ +100℃

          306, 800

          型號(hao)

          範圍 迷妳(ni)零(ling)下(xia)Compact 超低(di)溫室

          Mini Subzero 支持(chi)覆蓋超低(di)溫範圍的較(jiao)寬(kuan)溫度範圍(-75℃/-85℃ ) to the high-85℃)至高溫範圍(+ 100℃/+ 180℃)。該滅(mie)菌(jun)室還提(ti)供(gong)遠(yuan)程監(jian)測和操(cao)作(zuo)。

          型號(hao)

          溫度範圍

          內(nei)部容積L

          MC-712

          75 ~ +100℃

          64

          MC-812

          85 ~ +180℃

          內(nei)部容積 (L)

          MLCC電容器溫度特(te)性測試(shi)系(xi)統

          特(te)征(zheng)

          該系(xi)統可(ke)用(yong)於(yu)評(ping)估特(te)定溫度環(huan)境下(xia)電容器和各種材料(liao)的(de)靜電(dian)容量 (C)、損耗(hao)因子(zi) (D) 和阻(zu)抗(kang) (Z)。


          ☆ 最(zui)多(duo)64個(ge)通道(dao)的(de)自動(dong)測量

          該系(xi)統可(ke)以測量不(bu)同(tong)溫度環(huan)境下(xia)的靜(jing)電(dian)容量 (C)、損耗(hao)因子(zi) (D) 和阻(zu)抗(kang) (Z) 的多通道(dao)。

          您(nin)可(ke)以選(xuan)擇8個(ge)通道(dao)的(de)倍數(shu),最(zui)多(duo)64個(ge)通道(dao)。


          ☆ 圖形(xing)功(gong)能允(yun)許實時查看測量結(jie)果

          收集(ji)的(de)數(shu)據(ju),包括(kuo)不(bu)同(tong)溫度、頻率和(he)時間(jian)下(xia)的電(dian)特(te)性值(zhi)和(he)變(bian)化率,可(ke)以通過各種圖形(xing)函數(shu)進(jin)行(xing)實時審查。


          ☆ 可從不(bu)同(tong)測試(shi)模(mo)式選(xuan)擇

          溫度特(te)性評(ping)價試(shi)驗、恒(heng)定(ding)運(yun)行(xing)試(shi)驗和(he)頻率特(te)性試(shi)驗。

          <溫度特(te)性評(ping)估(gu)測試(shi)>

          在此測試(shi)模(mo)式下(xia),自動(dong)記(ji)錄(lu)特(te)性數(shu)據(ju),並與溫度變(bian)化同(tong)步(bu),最(zui)多(duo)40步(bu)。

          <持續(xu)運行(xing)測試(shi)>

          該測試(shi)模(mo)式測量以下(xia)參數(shu)的變(bian)化特(te)定中隨(sui)時間(jian)推(tui)移(yi)的特(te)征(zheng)自動(dong)記(ji)錄(lu)數(shu)據(ju)。

          <頻率特(te)性評(ping)價試(shi)驗>

          該試(shi)驗模(mo)式在(zai)特(te)定溫度環(huan)境下(xia)改變(bian)頻率的(de)同(tong)時,自動(dong)記(ji)錄(lu)不(bu)同(tong)頻率下(xia)的特(te)性數(shu)據(ju)。測試(shi)可(ke)與溫度特(te)性評(ping)價測試(shi)或(huo)恒(heng)定(ding)運(yun)行(xing)測試(shi)相結合。


          ☆ 多種(zhong)可選(xuan)夾具(ju) 適(shi)用於(yu)不(bu)同(tong)的(de)試(shi)驗樣(yang)本(ben)(可(ke)選(xuan))

          除了 SMD 組(zu)件的(de)專用(yong)夾具(ju)外(wai),我們(men)還提(ti)供(gong)了根(gen)據(ju)離(li)散(san)設(she)備形(xing)狀(zhuang)定制(zhi)的夾具(ju)。


          應(ying)用(yong)程序(xu)

          l 電容器

          l 靜電(dian)容量 (C)

          l 損失(shi)因(yin)子(zi) (D)

          l 阻(zu)抗(kang)的溫度特(te)性 (Z)

          l 頻率特(te)征(zheng)

          l 電子(zi)材料(liao)

          l 印刷(shua)電(dian)路板

          l 通量(liang)

          l 絕(jue)緣(yuan)材料(liao)(樹(shu)脂(zhi)、薄(bo)膜(mo)等)

          l 介電(dian)材料(liao)(鈦、陶(tao)瓷、鉭、鋁(lv)電(dian)解(jie)材料(liao)等)


          MLCC電(dian)容器溫度特(te)性測試(shi)系(xi)統

          ①系統(tong)控制(zhi)器

          用於(yu)登記系統管(guan)理的計算機和(he)監(jian)視器測試(shi)條(tiao)件(jian),檢(jian)查工作(zuo) 狀態(tai),並進(jin)行(xing)數(shu)據(ju)處理(li)。

          ②不(bu)間(jian)斷電源

          系統(tong)控制(zhi)器的備用電源(yuan)。

          ③ RS-232C

          操(cao)作(zuo)員控制(zhi)並監(jian)測來(lai)自系(xi)統(tong)控制(zhi)器的環境(jing)測試(shi)系(xi)統。

          ④ 掃描(miao)裝置

          該裝(zhuang)置測量靜(jing)電(dian)容量 (C)、損耗(hao)因子(zi)(D) 和帶有(you)測量電(dian)纜(lan)前沿(yan)的(de)標(biao)準(zhun)8通(tong)道(dao)的(de)阻(zu)抗(kang) (Z)。

          您(nin)可(ke)以將每臺(tai)器械(xie)的(de)通(tong)道(dao)數(shu)增(zeng)加(jia)到64個(ge),增(zeng)量(liang)為8個(ge)通道(dao)。

          ⑤ 測量電(dian)纜(lan)

          由聚(ju)四氟(fu)乙(yi)烯制(zhi)成的(de)同(tong)軸(zhou)電(dian)纜連(lian)接(jie)到樣(yang)品(pin)或(huo)試(shi)驗系(xi)統(tong)內(nei)部夾(jia)具(ju)。

          ⑥ 繼電(dian)器單(dan)元(yuan)

          該裝(zhuang)置將測量電(dian)纜(lan)連(lian)接(jie)到樣(yang)本(ben)上(shang)或(huo)測試(shi)系(xi)統內(nei)部夾(jia)具(ju)至(zhi)掃(sao)描儀(yi)裝置。繼(ji)電(dian)器(qi)單(dan)元(yuan)使(shi)連(lian)接(jie)變(bian)得(de)容易。

          ⑦ 樣(yang)品(pin)連(lian)接(jie)夾(jia)具(ju)(可(ke)選(xuan))

          用於(yu)連(lian)接(jie) SMD 組(zu)件或(huo)離(li)散(san)設(she)備的卡扣(kou)式夾(jia)具(ju)。

          ⑧ LCR儀表(biao)

          該儀(yi)表(biao)測量靜(jing)電(dian)容量 (C)、損耗(hao)因子(zi) (D)、和阻(zu)抗(kang)(Z)。

          ⑨ 絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)測試(shi)儀(yi)(選(xuan)配)

          該測試(shi)人(ren)員測量絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)。您(nin)可(ke)以將每臺(tai)器械(xie)的(de)通(tong)道(dao)數(shu)增(zeng)加(jia)到64個(ge),增(zeng)量(liang)為8個(ge)通道(dao)。

          ⑩RS-485(可選(xuan))

          從環境測試(shi)系(xi)統選(xuan)項菜(cai)單(dan),RS-485可(ke)將通信選(xuan)作(zuo)系(xi)統控制(zhi)器和環境(jing)測試(shi)系(xi)統的通信協議(yi)。

          MLCC電容器溫度特(te)性測試(shi)系(xi)統

          MLCC電容器溫度特(te)性測試(shi)系(xi)統


          MLCC電容器溫度特(te)性測試(shi)系(xi)統  













          產(chan)品(pin)咨詢(xun)

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