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簡要描述:MLCC電容器溫度特(te)性測試(shi)系(xi)統 通過模擬(ni)電(dian)容器在實際應(ying)用(yong)中可(ke)能(neng)遇到的(de)各種溫度條(tiao)件(jian),測量並(bing)記(ji)錄(lu)電容器的關鍵(jian)參(can)數(shu)(如電容值、損耗(hao)角(jiao)正(zheng)切(qie)值(zhi)等)隨(sui)溫度的(de)變(bian)化情(qing)況。這(zhe)些數(shu)據(ju)對於評(ping)估電(dian)容器的溫度穩(wen)定性、預測其使(shi)用(yong)壽(shou)命(ming)以及(ji)優化電路(lu)設(she)計具(ju)有(you)重(zhong)要意義。
產(chan)品(pin)分(fen)類(lei)
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| 品(pin)牌(pai) | 華(hua)測儀器(qi) | 應(ying)用(yong)領域 | 化工,電(dian)子(zi)/電池,鋼(gang)鐵(tie)/金屬,電氣,綜(zong)合 |
|---|
MLCC電(dian)容器溫度特(te)性測試(shi)系(xi)統
(電容器溫度特(te)性評(ping)估(gu)系統)

電化學遷移(yi)評價系統
電化學遷移(yi)評估(gu)系統可以輕(qing)松(song)有效(xiao)地(di)評估產(chan)品(pin)壽(shou)命(ming)和(he)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu),從低(di)壓(ya)測試(shi)到高(gao)壓(ya)測試(shi)都(dou)有許多應(ying)用(yong)。
l 評價目(mu)標(biao)
l 印刷(shua)電(dian)路板
l 絕(jue)緣(yuan)材料(liao)
l 半導體材料(liao)
容器泄(xie)漏測試(shi)系(xi)統
電容器泄(xie)漏測試(shi)系(xi)統自動(dong)評(ping)估高(gao)溫和高(gao)溫/高濕環境(jing)下(xia)電容器的絕(jue)緣(yuan)退(tui)化特(te)性。
l 評價目(mu)標(biao)
l 電容器
Platinous J 系列(lie)恒(heng)溫試(shi)驗箱(xiang)
作(zuo)為(wei)行(xing)業(ye)標(biao)準(zhun)試(shi)驗箱(xiang)的壹條(tiao)線(xian),Platinous系列(lie)除了可(ke)靠(kao)性、性能(neng)、可(ke)操(cao)作(zuo)性和(he)安(an)全(quan)性外(wai),還追(zhui)求(qiu)理(li)想的、生態友好(hao)的環(huan)境(jing)試(shi)驗箱(xiang)的新(xin)環(huan)境(jing)標(biao)準(zhun)。
型號(hao) | 溫度範圍 | 內(nei)部容積L |
PU | -40 ~ +100℃ | 120, 225, 408, 800 |
PG | -70 ~ +100℃ | 306, 800 |
型號(hao)
範圍 迷妳(ni)零(ling)下(xia)Compact 超低(di)溫室
Mini Subzero 支持(chi)覆蓋超低(di)溫範圍的較(jiao)寬(kuan)溫度範圍(-75℃/-85℃ ) to the high-85℃)至高溫範圍(+ 100℃/+ 180℃)。該滅(mie)菌(jun)室還提(ti)供(gong)遠(yuan)程監(jian)測和操(cao)作(zuo)。
型號(hao) | 溫度範圍 | 內(nei)部容積L |
MC-712 | -75 ~ +100℃ | 64 |
MC-812 | -85 ~ +180℃ |
內(nei)部容積 (L)

特(te)征(zheng)
該系(xi)統可(ke)用(yong)於(yu)評(ping)估特(te)定溫度環(huan)境下(xia)電容器和各種材料(liao)的(de)靜電(dian)容量 (C)、損耗(hao)因子(zi) (D) 和阻(zu)抗(kang) (Z)。
☆ 最(zui)多(duo)64個(ge)通道(dao)的(de)自動(dong)測量
該系(xi)統可(ke)以測量不(bu)同(tong)溫度環(huan)境下(xia)的靜(jing)電(dian)容量 (C)、損耗(hao)因子(zi) (D) 和阻(zu)抗(kang) (Z) 的多通道(dao)。
您(nin)可(ke)以選(xuan)擇8個(ge)通道(dao)的(de)倍數(shu),最(zui)多(duo)64個(ge)通道(dao)。
☆ 圖形(xing)功(gong)能允(yun)許實時查看測量結(jie)果
收集(ji)的(de)數(shu)據(ju),包括(kuo)不(bu)同(tong)溫度、頻率和(he)時間(jian)下(xia)的電(dian)特(te)性值(zhi)和(he)變(bian)化率,可(ke)以通過各種圖形(xing)函數(shu)進(jin)行(xing)實時審查。
☆ 可從不(bu)同(tong)測試(shi)模(mo)式選(xuan)擇
溫度特(te)性評(ping)價試(shi)驗、恒(heng)定(ding)運(yun)行(xing)試(shi)驗和(he)頻率特(te)性試(shi)驗。
<溫度特(te)性評(ping)估(gu)測試(shi)>
在此測試(shi)模(mo)式下(xia),自動(dong)記(ji)錄(lu)特(te)性數(shu)據(ju),並與溫度變(bian)化同(tong)步(bu),最(zui)多(duo)40步(bu)。
<持續(xu)運行(xing)測試(shi)>
該測試(shi)模(mo)式測量以下(xia)參數(shu)的變(bian)化特(te)定中隨(sui)時間(jian)推(tui)移(yi)的特(te)征(zheng)自動(dong)記(ji)錄(lu)數(shu)據(ju)。
<頻率特(te)性評(ping)價試(shi)驗>
該試(shi)驗模(mo)式在(zai)特(te)定溫度環(huan)境下(xia)改變(bian)頻率的(de)同(tong)時,自動(dong)記(ji)錄(lu)不(bu)同(tong)頻率下(xia)的特(te)性數(shu)據(ju)。測試(shi)可(ke)與溫度特(te)性評(ping)價測試(shi)或(huo)恒(heng)定(ding)運(yun)行(xing)測試(shi)相結合。
☆ 多種(zhong)可選(xuan)夾具(ju) 適(shi)用於(yu)不(bu)同(tong)的(de)試(shi)驗樣(yang)本(ben)(可(ke)選(xuan))
除了 SMD 組(zu)件的(de)專用(yong)夾具(ju)外(wai),我們(men)還提(ti)供(gong)了根(gen)據(ju)離(li)散(san)設(she)備形(xing)狀(zhuang)定制(zhi)的夾具(ju)。
應(ying)用(yong)程序(xu)
l 電容器
l 靜電(dian)容量 (C)
l 損失(shi)因(yin)子(zi) (D)
l 阻(zu)抗(kang)的溫度特(te)性 (Z)
l 頻率特(te)征(zheng)
l 電子(zi)材料(liao)
l 印刷(shua)電(dian)路板
l 通量(liang)
l 絕(jue)緣(yuan)材料(liao)(樹(shu)脂(zhi)、薄(bo)膜(mo)等)
l 介電(dian)材料(liao)(鈦、陶(tao)瓷、鉭、鋁(lv)電(dian)解(jie)材料(liao)等)

①系統(tong)控制(zhi)器
用於(yu)登記系統管(guan)理的計算機和(he)監(jian)視器測試(shi)條(tiao)件(jian),檢(jian)查工作(zuo) 狀態(tai),並進(jin)行(xing)數(shu)據(ju)處理(li)。
②不(bu)間(jian)斷電源
系統(tong)控制(zhi)器的備用電源(yuan)。
③ RS-232C
操(cao)作(zuo)員控制(zhi)並監(jian)測來(lai)自系(xi)統(tong)控制(zhi)器的環境(jing)測試(shi)系(xi)統。
④ 掃描(miao)裝置
該裝(zhuang)置測量靜(jing)電(dian)容量 (C)、損耗(hao)因子(zi)(D) 和帶有(you)測量電(dian)纜(lan)前沿(yan)的(de)標(biao)準(zhun)8通(tong)道(dao)的(de)阻(zu)抗(kang) (Z)。
您(nin)可(ke)以將每臺(tai)器械(xie)的(de)通(tong)道(dao)數(shu)增(zeng)加(jia)到64個(ge),增(zeng)量(liang)為8個(ge)通道(dao)。
⑤ 測量電(dian)纜(lan)
由聚(ju)四氟(fu)乙(yi)烯制(zhi)成的(de)同(tong)軸(zhou)電(dian)纜連(lian)接(jie)到樣(yang)品(pin)或(huo)試(shi)驗系(xi)統(tong)內(nei)部夾(jia)具(ju)。
⑥ 繼電(dian)器單(dan)元(yuan)
該裝(zhuang)置將測量電(dian)纜(lan)連(lian)接(jie)到樣(yang)本(ben)上(shang)或(huo)測試(shi)系(xi)統內(nei)部夾(jia)具(ju)至(zhi)掃(sao)描儀(yi)裝置。繼(ji)電(dian)器(qi)單(dan)元(yuan)使(shi)連(lian)接(jie)變(bian)得(de)容易。
⑦ 樣(yang)品(pin)連(lian)接(jie)夾(jia)具(ju)(可(ke)選(xuan))
用於(yu)連(lian)接(jie) SMD 組(zu)件或(huo)離(li)散(san)設(she)備的卡扣(kou)式夾(jia)具(ju)。
⑧ LCR儀表(biao)
該儀(yi)表(biao)測量靜(jing)電(dian)容量 (C)、損耗(hao)因子(zi) (D)、和阻(zu)抗(kang)(Z)。
⑨ 絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)測試(shi)儀(yi)(選(xuan)配)
該測試(shi)人(ren)員測量絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)。您(nin)可(ke)以將每臺(tai)器械(xie)的(de)通(tong)道(dao)數(shu)增(zeng)加(jia)到64個(ge),增(zeng)量(liang)為8個(ge)通道(dao)。
⑩RS-485(可選(xuan))
從環境測試(shi)系(xi)統選(xuan)項菜(cai)單(dan),RS-485可(ke)將通信選(xuan)作(zuo)系(xi)統控制(zhi)器和環境(jing)測試(shi)系(xi)統的通信協議(yi)。


MLCC電容器溫度特(te)性測試(shi)系(xi)統
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