HC-RD-1100塞貝克(ke)系數電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀

塞貝克(ke)系數電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀

HC-RD-1100塞貝克(ke)系數電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀產品(pin)介(jie)紹(shao)

熱(re)電(dian)效(xiao)應描(miao)述(shu)了(le)材料(liao)中(zhong)溫度和(he)電(dian)的(de)相(xiang)互(hu)影響(xiang)，它(ta)基於三(san)個基(ji)本效(xiao)應：塞貝(bei)克(ke)效(xiao)應、珀(po)爾帖(tie)效(xiao)應和(he)湯(tang)姆森(sen)效(xiao)應。塞貝(bei)克(ke)效(xiao)應是(shi)1821年由(you)德國物(wu)理(li)學家J. T. Seebeck發(fa)現(xian)的(de)，描述(shu)了(le)在電(dian)絕(jue)緣(yuan)導(dao)體(ti)中(zhong)施(shi)加(jia)溫度梯度時(shi)電(dian)場(chang)的(de)形成(cheng)。與(yu)之相(xiang)反，熱(re)電(dian)冷(leng)卻(que)效(xiao)應描(miao)述(shu)通過(guo)施(shi)加(jia)電(dian)流獲得溫度差(cha)的(de)現(xian)象。電(dian)能(neng)和(he)熱(re)能(neng)的(de)轉換(huan)效(xiao)率(lv)是(shi)材料(liao)物(wu)理(li)特性，用(yong)塞貝克(ke)系數S表(biao)征，其與(yu)溫度相(xiang)關。

目(mu)前(qian)，使用(yong)化石燃(ran)料生成(cheng)的(de)二氧化(hua)碳(tan)導(dao)致(zhi)*變(bian)暖(nuan)加(jia)劇(ju)，而(er)人們(men)也面(mian)臨能(neng)源枯竭(jie)的(de)問題(ti)，利用(yong)熱電(dian)轉換(huan)元(yuan)件(jian)收(shou)集(ji)余熱並有效(xiao)利(li)用(yong)引起人們(men)的(de)廣泛註意。另外(wai)，利用(yong)熱電(dian)冷(leng)卻(que)效(xiao)應進(jin)行(xing)制冷(leng)是(shi)熱(re)電(dian)特(te)性(xing)的(de)重(zhong)要應用(yong)。

隨著化石燃(ran)料越來(lai)越(yue)少(shao)，二氧化(hua)碳(tan)排(pai)放量不(bu)斷(duan)增(zeng)加(jia)，*變暖(nuan)也在加(jia)劇(ju)，因(yin)此有效(xiao)的(de)熱電(dian)轉換(huan)越來(lai)越(yue)受關註。利(li)用(yong)熱電(dian)發(fa)電(dian)機(ji)（TEG）收(shou)集(ji)熱(re)機(ji)余熱（如汽車或(huo)傳(chuan)統發(fa)電(dian)廠(chang)），並(bing)將(jiang)其轉換(huan)成電(dian)能(neng)，以(yi)提高(gao)其轉換(huan)效(xiao)率(lv)。同(tong)時，通(tong)過(guo)帕爾貼進行(xing)冷(leng)卻(que)的(de)應用(yong)也越(yue)來(lai)越(yue)受關註，例如激(ji)光(guang)器(qi)中(zhong)的(de)恒(heng)溫溫度臨(lin)界(jie)元(yuan)件(jian)、優(you)異熱(re)電(dian)材料(liao)。通(tong)常(chang)根(gen)據(ju)無量綱優(you)值(zhi)ZT來(lai)衡(heng)量材料(liao)的(de)熱電(dian)轉換(huan)效(xiao)率(lv)，由(you)熱導(dao)率(lv)、塞貝克(ke)系數和(he)導(dao)電(dian)率(lv)計算得出。

由(you)此，華(hua)測儀器(qi)研(yan)發(fa)了(le)壹系列(lie)簡單(dan)易(yi)用(yong)和(he)優(you)異的(de)材料(liao)表(biao)征儀器(qi)。華(hua)測儀器(qi)的(de)HC-RD-1100可(ke)以同(tong)時(shi)測(ce)定(ding)樣品(pin)在RT至1500℃溫度範圍內(nei)的(de)塞貝克(ke)系數和(he)電(dian)阻(zu)率(lv)。

熱(re)功(gong)率、熱(re)電(dian)勢、或(huo)塞貝克(ke)系數描(miao)述的(de)都是(shi)材料(liao)在壹定(ding)溫差(cha)條(tiao)件(jian)下產生感(gan)應熱(re)電(dian)電(dian)壓(ya)的(de)大(da)小，單(dan)位(wei)是V/K。

近(jin)年來(lai)直(zhi)接(jie)將(jiang)熱能轉化(hua)成電(dian)能(neng)的(de)方(fang)法(fa)引起人們(men)的(de)廣泛興(xing)趣(qu)。通(tong)過(guo)熱(re)電(dian)裝(zhuang)置(zhi)收(shou)集(ji)熱(re)發(fa)動(dong)機(ji)和(he)燃(ran)燒系統余熱並轉換(huan)成電(dian)能(neng)可(ke)以節(jie)省(sheng)數十億(yi)美元(yuan)。

為(wei)了(le)應對壹系列(lie)挑(tiao)戰性的(de)應用(yong)，華測(ce)儀器(qi)已(yi)經開發(fa)出HC-RD-1100 塞貝克(ke)系數/電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)試(shi)系統用(yong)於分(fen)析(xi)材料(liao)和(he)器(qi)件(jian)的(de)特性(xing)。

HC-RD-1100塞貝克(ke)系數電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀應用(yong)領域

熱(re)電(dian)材料(liao)開發(fa)與(yu)性(xing)能優(you)化(hua)

• 測(ce)量半(ban)導(dao)體(ti)、方(fang)鈷(gu)礦(kuang)、Skutterudite等熱(re)電(dian)材料(liao)的(de)塞貝(bei)克(ke)系數與(yu)電(dian)導(dao)率(lv)，計算ZT值(zhi)（熱(re)電(dian)優(you)值(zhi)）；

• 評(ping)估(gu)材料(liao)在高(gao)溫（如1500℃）或(huo)惡(e)劣環境(jing)（真空(kong)/還原氣(qi)氛）下的(de)熱電(dian)轉換(huan)效(xiao)率(lv)。

能(neng)源材料(liao)與(yu)器(qi)件(jian)研(yan)究(jiu)

• 鋰離(li)子電(dian)池電(dian)極(ji)材料(liao)、固(gu)態電(dian)解(jie)質(zhi)的(de)電(dian)阻(zu)率(lv)與(yu)界(jie)面(mian)接(jie)觸特(te)性分(fen)析(xi)；

• 燃(ran)料電(dian)池催(cui)化劑在氧化/還原氣(qi)氛中的(de)導(dao)電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)試(shi)。

電(dian)子與(yu)功(gong)能材料(liao)表(biao)征

• 半(ban)導(dao)體(ti)薄膜、導(dao)電(dian)高(gao)分(fen)子、金屬(shu)氧化(hua)物(wu)的(de)電(dian)輸(shu)運特(te)性研(yan)究(jiu)；

• 高(gao)溫超(chao)導(dao)材料(liao)、陶(tao)瓷基復(fu)合(he)材料(liao)的(de)電(dian)阻(zu)-溫度關系曲(qu)線(xian)測定(ding)。

工(gong)業(ye)材料(liao)質(zhi)量控(kong)制(zhi)與(yu)工(gong)藝優(you)化(hua)

• 合(he)金、陶(tao)瓷、碳(tan)材料(liao)的(de)熱-電(dian)協(xie)同(tong)性(xing)能檢測，指(zhi)導(dao)燒(shao)結(jie)工藝(yi)參數調整；

• 高(gao)溫塗(tu)層(ceng)、耐(nai)腐蝕(shi)材料(liao)在模擬工(gong)況（如真(zhen)空(kong)、惰性(xing)氣(qi)氛）下的(de)電(dian)學(xue)行(xing)為(wei)評估(gu)。

科(ke)研(yan)與(yu)標(biao)準(zhun)化測(ce)試(shi)

• 高(gao)校(xiao)及科(ke)研(yan)院所用(yong)於熱(re)電(dian)效(xiao)應、導(dao)電(dian)機(ji)制(zhi)等(deng)基礎理論(lun)研(yan)究(jiu)；

• 依(yi)據(ju)國際標(biao)準(zhun)（如ASTM E1225）開展(zhan)材料(liao)熱(re)電(dian)性(xing)能(neng)認(ren)證測試(shi)。

產(chan)品(pin)參數

產(chan)品(pin)型(xing)號(hao)：HC-RD-1100

溫度範圍：RT ～ 800/1100/1500℃

測(ce)量原理；塞貝(bei)克(ke)系數：靜態直(zhi)流法(fa) ； 電(dian)阻(zu)率(lv)：四(si)端(duan)法(fa)

氣(qi)氛：惰(duo)性(xing)、氧(yang)化、還原、真空(kong)

樣(yang)品(pin)支(zhi)架(jia)：三(san)明治結(jie)構(gou)夾與(yu)兩(liang)電(dian)極(ji)之間

樣(yang)品(pin)尺(chi)寸(cun)（圓柱形或棱柱形）：2 至 5 mm（面(mian)寬），23mmφ6mm，23mm

樣(yang)品(pin)尺(chi)寸(cun)（圓盤(pan)狀）：10、 12.7、 25.4 mm

可(ke)調探頭(tou)距離(li)：4、 6、 8 mm

塞貝(bei)克(ke)系數測(ce)量範圍：1 ～ 2500μV/K  準(zhun)確(que)度(du)±7%；重(zhong)復(fu)性(xing)±3%

電(dian)導(dao)率(lv)測(ce)量範圍：0.01 ～ 2*10 5 s/cm  準(zhun)確(que)度(du)±5-8%；再(zai)現(xian)性±3%

電(dian)源：0 ～ 1A，具長(chang)期穩定(ding)性

電(dian)極(ji)材料(liao)：鎳(nie)（-100至500°C）/鉑(bo)（-100至+1500°C）

熱(re)電(dian)偶：K/S/C型(xing)