壹款可測量(liang)塞(sai)貝克系數和(he)電(dian)阻（電阻(zu)率(lv)）的(de)設(she)備？

塞(sai)貝克系數電(dian)阻(zu)測試儀(yi)測試軟(ruan)件：

  塞(sai)貝克系數電(dian)阻(zu)測試儀(yi)采用(yong)計(ji)算機控(kong)制，系統軟(ruan)件支持windows10/11,能(neng)實(shi)現(xian)自(zi)動完(wan)成(cheng)激勵(li)、測量(liang)、數(shu)據(ju)處(chu)理並顯(xian)示或(huo)輸(shu)出測試結(jie)果(guo),經過(guo)專(zhuan)家(jia)和(he)應(ying)用工程(cheng)師(shi)的(de)努力，華(hua)測開(kai)發出(chu)這(zhe)款使用(yong)便(bian)捷(jie)的(de)測量(liang)軟(ruan)件。

• 文(wen)本編(bian)輯(ji)

• 重復(fu)測量(liang)可(ke)少(shao)的輸入參數(shu)

• 實時測量(liang)分(fen)析

• 測量(liang)曲(qu)線比較：多(duo)達32條(tiao)曲(qu)線

• 曲(qu)線(xian)扣除(chu)

• 曲(qu)線放(fang)大(da)縮(suo)小

• 壹階/二階求(qiu)導

• 多(duo)重峰(feng)分析

• 樣品(pin)溫(wen)度(du)多(duo)點校正

• 多(duo)種方法(fa)分(fen)析（DSC TG 、TMA、DIL等(deng)）

• 焓變(bian)多(duo)點校正

• 熱(re)流(liu)Cp測量(liang)

• 評(ping)估結(jie)果(guo)保(bao)存及(ji)導(dao)出(chu)

• ASCII數(shu)據(ju)導(dao)入(ru)與(yu)導出(chu)

• 數(shu)據(ju)生成(cheng)到MS Excel

• 信(xin)號(hao)控(kong)制測量(liang)測序(xu)

塞(sai)貝克系數電(dian)阻(zu)測試儀(yi)技術指(zhi)標(biao)：

產品(pin)型號(hao)：HC-RD-1100

溫度(du)範(fan)圍：RT ～ 800/1100/1500℃

測量(liang)原(yuan)理：賽貝克系數：靜(jing)態(tai)直(zhi)流(liu)法(fa) ； 電阻率(lv)：四(si)端法(fa)

氣(qi)氛(fen)：惰性、氧(yang)化、還(hai)原(yuan)、真(zhen)空

樣品(pin)支架：三明治(zhi)結(jie)構(gou)夾與(yu)兩(liang)電極之(zhi)間

樣品(pin)尺(chi)寸（圓(yuan)柱形或棱柱(zhu)形）：2 至 5 mm（面(mian)寬(kuan)），23mm φ6mm，23mm

樣品(pin)尺(chi)寸（圓(yuan)盤狀）： 10、 12.7、 25.4 mm

可(ke)調(tiao)探(tan)頭距(ju)離(li)：4、 6、 8 mm

賽(sai)貝克系數測量(liang)範(fan)圍：1 ～ 2500μV/K 準(zhun)確度(du)±7%；重(zhong)復(fu)性(xing)±3%

電導率(lv)測量(liang)範(fan)圍：0.01 ～ 2*10 5 s/cm 準(zhun)確度(du)±5-8%；再(zai)現(xian)性(xing)±3%

電源(yuan)：0 ～ 1A，具長期(qi)穩定性

電極(ji)材料(liao)：鎳（-100至500°C）/鉑(bo)（-100至+1500°C）

熱(re)電(dian)偶(ou)：K/S/C型