揭秘(mi)：以(yi)塞貝克(ke)系數(shu)測(ce)試儀如(ru)何(he)革新(xin)熱電(dian)材(cai)料(liao)檢(jian)測(ce)

揭秘(mi)：以(yi)塞貝克(ke)系數(shu)測(ce)試儀如(ru)何(he)革新(xin)熱電(dian)材(cai)料(liao)檢(jian)測(ce)

應用(yong)領(ling)域(yu)

熱(re)電(dian)材(cai)料(liao)開(kai)發與性(xing)能(neng)優(you)化

• 測(ce)量(liang)半導(dao)體、方鈷(gu)礦、Skutterudite等(deng)熱電(dian)材(cai)料(liao)的(de)塞(sai)貝克(ke)系數(shu)與電(dian)導(dao)率(lv)，計算ZT值(zhi)（熱(re)電(dian)優(you)值）；

• 評(ping)估(gu)材(cai)料在高(gao)溫(wen)（如(ru)1500℃）或惡劣(lie)環(huan)境（真(zhen)空(kong)/還原(yuan)氣氛(fen)）下(xia)的(de)熱(re)電(dian)轉(zhuan)換效率。

能(neng)源材料與器件研究

• 鋰離子(zi)電(dian)池(chi)電(dian)極(ji)材(cai)料(liao)、固(gu)態(tai)電(dian)解(jie)質(zhi)的(de)電(dian)阻(zu)率(lv)與界面(mian)接(jie)觸(chu)特性(xing)分析(xi)；

• 燃料電(dian)池(chi)催化(hua)劑在氧(yang)化(hua)/還原(yuan)氣氛(fen)中(zhong)的(de)導(dao)電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)試。

電(dian)子(zi)與功(gong)能(neng)材料表征

• 半(ban)導(dao)體薄(bo)膜(mo)、導電(dian)高(gao)分子(zi)、金(jin)屬(shu)氧化物的(de)電(dian)輸(shu)運(yun)特(te)性(xing)研究；

• 高(gao)溫(wen)超導材料、陶(tao)瓷基復合(he)材(cai)料的(de)電(dian)阻(zu)-溫(wen)度(du)關(guan)系曲(qu)線(xian)測(ce)定。

工(gong)業(ye)材(cai)料(liao)質(zhi)量(liang)控制與工藝優(you)化

• 合(he)金(jin)、陶(tao)瓷、碳材(cai)料(liao)的(de)熱(re)-電(dian)協(xie)同(tong)性(xing)能(neng)檢測(ce)，指導燒(shao)結(jie)工藝(yi)參數(shu)調(tiao)整(zheng)；

• 高(gao)溫(wen)塗層(ceng)、耐(nai)腐(fu)蝕材料在模擬(ni)工(gong)況（如(ru)真(zhen)空(kong)、惰(duo)性(xing)氣氛(fen)）下的(de)電(dian)學行(xing)為評估(gu)。

科(ke)研(yan)與標(biao)準(zhun)化測(ce)試

• 高(gao)校(xiao)及科研(yan)院(yuan)所用(yong)於(yu)熱(re)電(dian)效(xiao)應、導電(dian)機(ji)制等(deng)基礎理(li)論(lun)研(yan)究；

• 依(yi)據(ju)國際(ji)標(biao)準(zhun)（如(ru)ASTM E1225）開(kai)展材料(liao)熱電(dian)性(xing)能(neng)認證測(ce)試。

特(te)點(dian)

• 文(wen)本(ben)編輯(ji)

• 重(zhong)復測(ce)量(liang)可(ke)少的(de)輸(shu)入(ru)參數(shu)

• 實(shi)時測(ce)量(liang)分析(xi)

• 測(ce)量(liang)曲(qu)線(xian)比較：多達32條(tiao)曲(qu)線(xian)

• 曲(qu)線(xian)扣除(chu)

• 曲(qu)線(xian)放大(da)縮小(xiao)

• 壹(yi)階(jie)/二階(jie)求(qiu)導(dao)

• 多重峰分析(xi)

• 樣(yang)品(pin)溫(wen)度(du)多點校(xiao)正

• 多種(zhong)方法(fa)分析(xi)（DSC TG 、TMA、DIL等(deng)）

• 焓(han)變(bian)多點校(xiao)正

• 熱(re)流(liu)Cp測(ce)量(liang)

• 評(ping)估(gu)結(jie)果保(bao)存及導出(chu)

• ASCII數(shu)據(ju)導(dao)入(ru)與導出

• 數(shu)據(ju)生(sheng)成(cheng)到(dao)MS Excel

• 信號(hao)控(kong)制測(ce)量(liang)測(ce)序

產(chan)品(pin)優(you)勢

寬(kuan)溫(wen)區(qu)覆(fu)蓋與高適應性(xing)

l 支(zhi)持 RT 至(zhi) 1500℃ 超(chao)寬溫(wen)度(du)範(fan)圍，兼(jian)容(rong)低溫(wen)至超高溫(wen)測(ce)試，滿足熱(re)電(dian)材(cai)料(liao)、高(gao)溫(wen)合(he)金(jin)等(deng)多種(zhong)材(cai)料(liao)研(yan)究需求(qiu)；

l 提供惰(duo)性(xing)、氧化(hua)、還原(yuan)、真(zhen)空(kong)多氣氛(fen)環境，適配材(cai)料在不(bu)同(tong)反(fan)應條(tiao)件下的(de)性(xing)能(neng)評估(gu)。

高(gao)精(jing)度(du)與多功(gong)能(neng)集(ji)成(cheng)

l 塞(sai)貝克(ke)系數(shu)測(ce)量(liang)範(fan)圍 1～2500μV/K ，準(zhun)確(que)度(du)達 ±7% ，重復性(xing) ±3% ，精準(zhun)捕(bu)捉微(wei)弱熱(re)電(dian)效(xiao)應；

l 電(dian)導(dao)率(lv)測(ce)量(liang)範(fan)圍覆(fu)蓋 0.01～2×105 S/cm ，準(zhun)確(que)度(du) ±5～8% ，支(zhi)持從(cong)絕(jue)緣體到(dao)導(dao)體的(de)全(quan)品(pin)類(lei)材料(liao)電(dian)阻(zu)率(lv)分析(xi)；

l 采(cai)用(yong)靜態(tai)直流(liu)法（塞(sai)貝克(ke)系數(shu)）與四端法(fa)（電(dian)阻(zu)率(lv)），確(que)保(bao)測(ce)量(liang)結(jie)果穩(wen)定可(ke)靠(kao)。

靈活兼(jian)容(rong)性(xing)與操(cao)作(zuo)便捷(jie)性(xing)

l 支(zhi)持圓(yuan)柱(zhu)形(xing)（φ6mm）、棱(leng)柱(zhu)形(xing)（2~5mm面(mian)寬）及圓盤(pan)狀(zhuang)（10~25.4mm）多種(zhong)樣(yang)品(pin)尺(chi)寸，適配復雜(za)形(xing)狀試樣；

l 可(ke)調(tiao)探(tan)頭距(ju)離（4/6/8mm）與三明(ming)治(zhi)夾(jia)持(chi)結(jie)構，保(bao)障樣品(pin)接(jie)觸(chu)穩定(ding)性(xing)，減(jian)少測(ce)量(liang)誤差(cha)；

l 電(dian)極(ji)材(cai)料(liao)可(ke)選鎳(nie)（-100～500℃）或鉑(bo)（-100～1500℃），靈活應對(dui)不(bu)同(tong)溫(wen)區(qu)與材料特(te)性(xing)。

高(gao)穩(wen)定性(xing)與長(chang)周(zhou)期(qi)測(ce)試能(neng)力

l 電(dian)源(yuan)輸(shu)出(chu) 0～1A ，具備長(chang)期穩(wen)定(ding)性(xing)，支(zhi)持連續(xu)高溫(wen)實(shi)驗(yan)與長(chang)時間數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)；

l 配(pei)備K/S/C型熱(re)電(dian)偶(ou)，實(shi)現(xian)精準(zhun)溫(wen)度(du)監(jian)控(kong)與閉環控(kong)制。