MLCC高(gao)壓(ya)電(dian)容器(qi)高電(dian)場介電(dian)損耗電(dian)滯回線(xian)系(xi)統(tong)

MLCC高壓(ya)電(dian)容器(qi)高電(dian)場介電(dian)、損耗、電(dian)滯回線(xian)測試(shi)系(xi)統(tong)

MLCC高壓(ya)電(dian)容器(qi)高電(dian)場介電(dian)損耗電(dian)滯回線(xian)系(xi)統(tong)可(ke)實現(xian)從低(di)頻(pin)到高頻(pin)信號(hao)的輸(shu)出(chu)與(yu)測量(liang)，系(xi)統(tong)由工(gong)控機發出指令，單(dan)片(pian)機控制(zhi)FPGA發出測量波形(xing)，FPGA壹路信號(hao)控制(zhi)不(bu)同頻(pin)率幅(fu)值的信號(hao)由高壓(ya)放大器(qi)進行(xing)電(dian)壓(ya)放大後(hou)，施(shi)加在(zai)樣(yang)品上(shang)，另壹路施(shi)加在(zai)鎖相(xiang)放大器(qi)作為(wei)參考信號(hao)，不(bu)同頻(pin)率幅(fu)值的高壓(ya)信號(hao)加載(zai)樣(yang)樣(yang)品上(shang)，樣(yang)品測量的信號(hao)測量(liang)後(hou)，再回(hui)傳FPGA測試板(ban)卡(ka)。測量的(de)數(shu)據(ju)再由單(dan)片(pian)機回傳工(gong)控機進行(xing)數(shu)據(ju)處(chu)理(li)。

它使用真(zhen)正(zheng)的 AC DFR（介電(dian)頻(pin)率響(xiang)應(ying)），保持(chi)出(chu)色(se)的準確(que)性和提供(gong)可(ke)靠(kao)數(shu)據(ju)的能力(li)，可(ke)在(zai)高幹擾環(huan)境(jing)中獲得(de)可(ke)靠(kao)的測(ce)試(shi)結果(guo)。 該軟(ruan)件(jian)使測試既(ji)簡(jian)單(dan)又快捷(jie)，它(ta)可(ke)在(zai)進行(xing)不(bu)同溫(wen)度(du)，頻(pin)率下(xia)測量材料(liao)的(de)介電(dian)常(chang)數(shu)及(ji)介質(zhi)損(sun)耗因數(shu)。本套(tao)系(xi)統(tong)可(ke)以(yi)在(zai)任(ren)意(yi)電(dian)壓(ya)激勵(li)下(xia)的(de)介電(dian)響應(ying)測(ce)試(shi)根(gen)據(ju)需要自(zi)定義輸出(chu)任意(yi)電(dian)壓(ya)波形(xing)激(ji)勵(li)，滿(man)足對不(bu)同條件(jian)下(xia)不(bu)同絕(jue)緣(yuan)材料(liao)不(bu)同方(fang)面(mian)的測(ce)試需(xu)求，較好地適應(ying)用(yong)戶(hu)需(xu)求。

設計(ji)框圖(tu)

產品優勢(shi)

MLCC高壓(ya)電(dian)容器(qi)高電(dian)場介電(dian)損耗電(dian)滯回線(xian)系(xi)統(tong)對(dui)被測信號(hao)進行(xing)調(tiao)整(zheng)的(de)信號(hao)源，由鎖相(xiang)放大器(qi)的信號(hao)輸出(chu)端(duan)提供(gong)，采(cai)用內部(bu)參(can)考模式(shi)，這種模(mo)式(shi)幅(fu)於(yu)鎖相(xiang)放大器(qi)對直(zhi)接可(ke)以(yi)獲取(qu)的(de)參(can)考信號(hao)的幅(fu)度(du)及(ji)相(xiang)位，測量(liang)精度(du)更高。數(shu)字(zi)鎖相(xiang)放大器(qi)不(bu)會由於(yu)算法(fa)計(ji)算而引入或(huo)考增加噪聲(sheng)，並且(qie)基(ji)本不(bu)受外界環(huan)境(jing)的(de)幹擾。