塞貝克系數電阻測試儀(yi)的主(zhu)要(yao)功(gong)能(neng)、測試範圍(wei)及(ji)測試條(tiao)件綜合(he)說明？

塞貝克系數電阻測試儀(yi)的主(zhu)要(yao)功(gong)能(neng)、測試範圍(wei)及(ji)測試條(tiao)件綜合(he)說明

壹、主(zhu)要(yao)功(gong)能(neng)

雙參數同(tong)步(bu)測試

l 塞貝克系數：采(cai)用(yong)靜態直流法，測量(liang)材(cai)料在(zai)溫差(cha)下的熱電勢（單位：μV/K）。

l 電阻率/電導(dao)率：通過四端法測量(liang)電阻，計(ji)算電導(dao)率（單(dan)位：S/cm）。

l 數(shu)據(ju)集(ji)成(cheng)分析：支持(chi)同(tong)步(bu)獲取(qu)塞貝克系數和(he)電阻率數(shu)據(ju)，直接計(ji)算熱電優(you)值（ZT值），用於(yu)評估(gu)材(cai)料的(de)熱電轉(zhuan)換效(xiao)率。

智(zhi)能(neng)軟件(jian)系(xi)統

l 自(zi)動(dong)完(wan)成(cheng)信(xin)號(hao)激(ji)勵、數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)、實(shi)時處(chu)理及(ji)結果(guo)輸出(chu)，支持(chi)曲(qu)線比較、壹階/二階求導(dao)、多(duo)重(zhong)峰(feng)分析等(deng)功(gong)能(neng)。

l 支持(chi)數據(ju)導出(chu)至(zhi)Excel、ASCII格式，兼容樣品溫度(du)多(duo)點(dian)校正和(he)焓變(bian)校正。

二、測試範圍(wei)

三(san)、測試條(tiao)件

環境(jing)控(kong)制(zhi)

l 氣(qi)氛(fen)類(lei)型：惰性、氧化(hua)、還原(yuan)、真空環(huan)境(jing)。

l 適(shi)用(yong)場景：高溫合(he)金在(zai)還(hai)原(yuan)氣(qi)氛(fen)下的穩定性(xing)測試、燃料電池(chi)催(cui)化(hua)劑的(de)氧化(hua)環境(jing)導(dao)電性(xing)分析等(deng)。

l 樣(yang)品兼容性

樣品形(xing)狀(zhuang)：圓柱(zhu)形(xing)或(huo)棱(leng)柱形(xing)：2 至(zhi) 5 mm（面寬(kuan)），23mmφ6mm，23mm、圓盤(pan)狀(zhuang)（10、 12.7、 25.4 mm）。

l 夾(jia)持(chi)結構： 三(san)明(ming)治夾持(chi)設(she)計(ji)，探頭距(ju)離可調(tiao)（4/6/8mm），確保(bao)接觸穩定性(xing)。

l 電極(ji)材(cai)料： 鎳(nie)電極(ji)（-100～500℃）、鉑電極(ji)（-100～1500℃）。

l 長(chang)期(qi)穩定性(xing)：電源(yuan)輸(shu)出(chu)0~1A，支持(chi)連(lian)續高(gao)溫實(shi)驗(yan)（如(ru)1500℃下長周(zhou)期(qi)測試）。

四(si)、典(dian)型(xing)應(ying)用場景

l 熱電材(cai)料開發：半導(dao)體(ti)、方(fang)鈷礦等(deng)材(cai)料的(de)ZT值計(ji)算。

l 能(neng)源器(qi)件研究：鋰(li)電電極(ji)電阻率、固(gu)態(tai)電解(jie)質(zhi)界(jie)面特性分析。

l 惡(e)劣環(huan)境(jing)測試：高(gao)溫超(chao)導材(cai)料在(zai)真空/還(hai)原(yuan)氣(qi)氛(fen)下的電輸(shu)運特性。