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          工(gong)程塑(su)料高壓漏(lou)電(dian)起(qi)痕試驗(yan)裝(zhuang)置(zhi)測試儀

          簡要(yao)描(miao)述:HCDH-200工(gong)程塑(su)料高壓漏(lou)電(dian)起(qi)痕試驗(yan)裝(zhuang)置(zhi)測試儀是(shi)在固(gu)體絕緣材料表面(mian)上(shang),在規(gui)定(ding)尺(chi)寸( 2mm × 5mm )的(de)鉑電極(ji)之間(jian),施(shi)加某(mou)壹電(dian)壓並定(ding)時(shi)(30s)定(ding)高度( 35mm )滴(di)下(xia)規(gui)定(ding)液(ye)滴(di)體積的汙染(ran)液(ye)體(0.1%NH 4 CL),用以評(ping)價(jia)固(gu)體絕緣材料表面(mian)在電(dian)場(chang)和(he)汙染(ran)介質(zhi)聯合作(zuo)用(yong)下(xia)的(de)耐(nai)受能(neng)力,測定(ding)其(qi)相比電(dian)痕化(hua)指數(shu)(CT1)和(he)耐(nai)電(dian)痕化(hua)指數(shu)(PT1)。

          • 產(chan)品(pin)型號(hao):HCLD-III
          • 廠商性(xing)質:生(sheng)產(chan)廠家
          • 更新時(shi)間(jian):2024-06-05
          • 訪  問(wen)  量(liang):2294

          詳細(xi)介紹(shao)

          品(pin)牌華測儀器產(chan)地(di)類別(bie)國產(chan)
          應用(yong)領域(yu)石(shi)油(you),能(neng)源(yuan),電(dian)子/電池,航空航天(tian),電(dian)氣(qi)

          工(gong)程塑(su)料高壓漏(lou)電(dian)起(qi)痕試驗(yan)裝(zhuang)置(zhi)測試儀


          工(gong)程塑(su)料高壓漏(lou)電(dian)起(qi)痕試驗(yan)裝(zhuang)置(zhi)測試儀產(chan)品(pin)簡介

          耐(nai)漏(lou)電(dian)起(qi)痕試驗(yan)儀是(shi)根(gen)據GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固(gu)體絕緣材料耐(nai)電(dian)痕化(hua)指數(shu)和(he)相比電(dian)痕化(hua)指數(shu)的測定(ding)方(fang)法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等(deng)標(biao)準規定(ding)的(de)模(mo)擬試驗(yan)項(xiang)目(mu)。

          規格(ge)

          耐(nai)漏(lou)電(dian)起(qi)痕試驗(yan)儀是(shi)根(gen)據GB 4706.1-2008 GB 4207-2003 GB/T6553-2003 IEC60112 -2003《固(gu)體絕緣材料耐(nai)電(dian)痕化(hua)指數(shu)和(he)相比電(dian)痕化(hua)指數(shu)的測定(ding)方(fang)法》,UL 746A、ASTM D 3638-92、DIN 53480等(deng)標(biao)準規定(ding)的(de)模(mo)擬試驗(yan)項(xiang)目(mu)。
            HCDH-200耐(nai)漏(lou)電(dian)起(qi)痕試驗(yan)儀是(shi)在固(gu)體絕緣材料表面(mian)上(shang),在規(gui)定(ding)尺(chi)寸( 2mm × 5mm )的(de)鉑電極(ji)之間(jian),施(shi)加某(mou)壹電(dian)壓並定(ding)時(shi)(30s)定(ding)高度( 35mm )滴(di)下(xia)規(gui)定(ding)液(ye)滴(di)體積的汙染(ran)液(ye)體(0.1%NH 4 CL),用以評(ping)價(jia)固(gu)體絕緣材料表面(mian)在電(dian)場(chang)和(he)汙染(ran)介質(zhi)聯合作(zuo)用(yong)下(xia)的(de)耐(nai)受能(neng)力,測定(ding)其(qi)相比電(dian)痕化(hua)指數(shu)(CT1)和(he)耐(nai)電(dian)痕化(hua)指數(shu)(PT1)。
             HCDH-200漏(lou)電(dian)起(qi)痕試驗(yan)儀適用(yong)於(yu)照明設(she)備、低(di)壓電(dian)器、家用(yong)電(dian)器、機床電器、電機、電(dian)動工(gong)具(ju)、電子(zi)儀器、電工(gong)儀表、信(xin)息技術(shu)設(she)備的研(yan)究(jiu)、生(sheng)產(chan)和(he)質檢部(bu)門,也適用(yong)於(yu)絕(jue)緣材料、工(gong)程塑(su)料、電(dian)氣(qi)連(lian)接(jie)件(jian)、輔(fu)件(jian)行(xing)業。,也適用(yong)於(yu)電(dian)氣能力驗(yan)證計(ji)劃(hua)與(yu)技術(shu)研討(tao)會(hui)中(zhong)的(de)有(you)關(guan)CHEARI-PT003耐(nai)電(dian)痕化(hua)指數(shu)測試。
          技術參(can)數(shu):
          控(kong)制(zhi)系(xi)統(tong):PLC+觸摸(mo)屏控(kong)制(zhi)系(xi)統(tong)。具(ju)有精度(du)高,反(fan)應(ying)快等優(you)點。
          電極(ji)材料    試驗(yan)電極(ji)-純金(jin),電(dian)極(ji)接桿(gan)–純銀
          電極(ji)尺寸    (2mm ± 0.1mm)×(5mm ± 0.1mm)×(40mm ± 5mm ),電(dian)極(ji)5mm或12mm可(ke)選,30°±2°斜面; 電極(ji)桿(gan),純銀,電(dian)極(ji)頭(tou)純(chun)金(jin)
          電極(ji)距(ju)離     4.0mm± 0.01mm,夾角60°;
          電極(ji)壓力      1.00N±0.001N;
          試液(ye)電阻(zu)     A液(ye)0.1%  23℃,3.95±0.05Ωm,B液(ye)1.98±0.05Ωm;
          液(ye)滴(di)體積     20滴(di)0.380g~0.480g,50滴(di)0.997g~1.147g (可(ke)微(wei)調節(jie));
          液(ye)滴(di)高度     35mm± 5mm (可(ke)調節(jie));
          液(ye)滴(di)時(shi)間(jian)    30s±0.1s(數(shu)顯(xian),可(ke)預置(zhi)調節(jie)),50滴(di)時(shi)間(jian)24.5min±2min;
          液(ye)滴(di)滴(di)數     1~9999(數(shu)顯(xian),可(ke)預置(zhi));
          試驗(yan)風速(su)      0.2m/s;
          試驗(yan)電壓(ya)    100V~600V(25V分(fen)度,可(ke)調節(jie));
          電源壓降(jiang)     1.0A± 0.1A時(shi)8%;
          起痕判(pan)斷    0.50A±10%,2.00s±10%;
          外(wai)形尺寸(cun)    寬(kuan)1120mm ×深520mm ×高1350mm,排(pai)氣(qi)孔(kong)徑Φ100mm;
          測量(liang)範(fan)圍(wei):100-700V    50-60Hz。
          電    壓:220V  50-60Hz。





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