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          當(dang)前位置(zhi):首(shou)頁 > 產(chan)品(pin)中心 > 標(biao)準(zhun)設(she)備 > 高壓(ya)、低(di)壓(ya)漏(lou)電起(qi)痕 > HCLD-III反(fan)應(ying)快(kuai)高壓(ya)漏(lou)電起(qi)痕試(shi)驗(yan)裝(zhuang)置(zhi)測(ce)試儀器

          反(fan)應(ying)快(kuai)高壓(ya)漏(lou)電起(qi)痕試(shi)驗(yan)裝(zhuang)置(zhi)測(ce)試儀器

          簡(jian)要(yao)描(miao)述:HCDH-200反(fan)應(ying)快(kuai)反(fan)應(ying)快(kuai)高壓(ya)漏(lou)電起(qi)痕試(shi)驗(yan)裝(zhuang)置(zhi)測(ce)試儀器是在固體(ti)絕緣(yuan)材料表(biao)面(mian)上,在規(gui)定(ding)尺(chi)寸(cun)( 2mm × 5mm )的(de)鉑電極之間(jian),施加(jia)某壹電壓並(bing)定時(shi)(30s)定(ding)高度(du)( 35mm )滴下(xia)規(gui)定(ding)液(ye)滴體積(ji)的(de)汙染(ran)液體(ti)(0.1%NH 4 CL),用以評價(jia)固體(ti)絕緣(yuan)材料表(biao)面(mian)在電場和(he)汙染(ran)介質聯(lian)合作用(yong)下(xia)的(de)耐受(shou)能力(li),測(ce)定其相比電痕化(hua)指數(CT1)和(he)耐電痕化(hua)指數(PT1)。

          • 產(chan)品(pin)型號(hao):HCLD-III
          • 廠商(shang)性(xing)質:生(sheng)產(chan)廠家
          • 更新時(shi)間(jian):2024-06-05
          • 訪  問  量(liang):2331

          詳細介(jie)紹(shao)

          品牌(pai)華(hua)測(ce)儀器產(chan)地(di)類(lei)別國(guo)產(chan)
          應(ying)用(yong)領(ling)域(yu)石(shi)油(you),能源(yuan),電子/電池,航(hang)空(kong)航天(tian),電氣

          反應(ying)快(kuai)高壓(ya)漏(lou)電起(qi)痕試(shi)驗(yan)裝(zhuang)置(zhi)測(ce)試儀器


          反(fan)應(ying)快(kuai)高壓(ya)漏(lou)電起(qi)痕試(shi)驗(yan)裝(zhuang)置(zhi)測(ce)試儀器產(chan)品(pin)簡(jian)介(jie)

          耐(nai)漏(lou)電起(qi)痕試(shi)驗(yan)儀是根(gen)據GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體(ti)絕緣(yuan)材料耐(nai)電痕化(hua)指數和(he)相比(bi)電痕化(hua)指數的(de)測(ce)定方(fang)法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等(deng)標(biao)準(zhun)規(gui)定(ding)的(de)模(mo)擬試(shi)驗(yan)項(xiang)目。

          規(gui)格(ge)

          耐(nai)漏(lou)電起(qi)痕試(shi)驗(yan)儀是根(gen)據GB 4706.1-2008 GB 4207-2003 GB/T6553-2003 IEC60112 -2003《固體(ti)絕緣(yuan)材料耐(nai)電痕化(hua)指數和(he)相比(bi)電痕化(hua)指數的(de)測(ce)定方(fang)法》,UL 746A、ASTM D 3638-92、DIN 53480等(deng)標(biao)準(zhun)規(gui)定(ding)的(de)模(mo)擬試(shi)驗(yan)項(xiang)目。
            HCDH-200耐(nai)漏(lou)電起(qi)痕試(shi)驗(yan)儀是在固體(ti)絕緣(yuan)材料表(biao)面(mian)上,在規(gui)定(ding)尺(chi)寸(cun)( 2mm × 5mm )的(de)鉑電極之間(jian),施加(jia)某壹電壓並(bing)定時(shi)(30s)定(ding)高度(du)( 35mm )滴下(xia)規(gui)定(ding)液(ye)滴體積(ji)的(de)汙染(ran)液體(ti)(0.1%NH 4 CL),用以評價(jia)固體(ti)絕緣(yuan)材料表(biao)面(mian)在電場和(he)汙染(ran)介質聯(lian)合作用(yong)下(xia)的(de)耐受(shou)能力(li),測(ce)定其相比電痕化(hua)指數(CT1)和(he)耐電痕化(hua)指數(PT1)。
             HCDH-200漏(lou)電起(qi)痕試(shi)驗(yan)儀適用於照明(ming)設(she)備、低(di)壓(ya)電器、家用(yong)電器、機(ji)床(chuang)電器、電機(ji)、電動(dong)工具(ju)、電子儀器、電工儀表(biao)、信(xin)息技術(shu)設(she)備的(de)研究、生(sheng)產(chan)和(he)質檢部(bu)門(men),也適(shi)用於絕緣(yuan)材料、工程(cheng)塑料、電氣連接(jie)件(jian)、輔(fu)件(jian)行(xing)業(ye)。,也(ye)適(shi)用於電氣能力(li)驗(yan)證(zheng)計(ji)劃(hua)與(yu)技術(shu)研討會(hui)中的(de)有關CHEARI-PT003耐電痕化(hua)指數測(ce)試。
          技術(shu)參數:
          控制(zhi)系(xi)統(tong):PLC+觸摸屏(ping)控制(zhi)系(xi)統(tong)。具(ju)有(you)精度高,反(fan)應(ying)快(kuai)等(deng)優(you)點。
          電極材(cai)料    試(shi)驗(yan)電極-純(chun)金(jin),電極接(jie)桿–純(chun)銀(yin)
          電極尺(chi)寸    (2mm ± 0.1mm)×(5mm ± 0.1mm)×(40mm ± 5mm ),電極5mm或(huo)12mm可(ke)選(xuan),30°±2°斜(xie)面; 電極桿(gan),純(chun)銀(yin),電極頭(tou)純(chun)金(jin)
          電極距(ju)離     4.0mm± 0.01mm,夾(jia)角(jiao)60°;
          電極壓(ya)力(li)      1.00N±0.001N;
          試(shi)液電阻(zu)     A液(ye)0.1%  23℃,3.95±0.05Ωm,B液1.98±0.05Ωm;
          液(ye)滴體積(ji)     20滴0.380g~0.480g,50滴0.997g~1.147g (可(ke)微調節(jie));
          液(ye)滴高度(du)     35mm± 5mm (可(ke)調(tiao)節(jie));
          液(ye)滴時(shi)間(jian)    30s±0.1s(數顯(xian),可(ke)預(yu)置調節(jie)),50滴時(shi)間(jian)24.5min±2min;
          液(ye)滴滴數     1~9999(數顯(xian),可(ke)預(yu)置);
          試(shi)驗(yan)風(feng)速      0.2m/s;
          試(shi)驗(yan)電壓    100V~600V(25V分(fen)度,可(ke)調(tiao)節(jie));
          電源(yuan)壓(ya)降     1.0A± 0.1A時(shi)8%;
          起(qi)痕判斷    0.50A±10%,2.00s±10%;
          外(wai)形尺(chi)寸    寬1120mm ×深520mm ×高1350mm,排氣孔徑(jing)Φ100mm;
          測(ce)量範圍:100-700V    50-60Hz。
          電    壓:220V  50-60Hz。





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