固(gu)體絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)耐(nai)電(dian)弧試(shi)驗(yan)儀HCND-20kv

   固(gu)體絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)耐(nai)電(dian)弧試(shi)驗(yan)儀HCND-20kv

固(gu)體絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)耐(nai)電(dian)弧試(shi)驗(yan)儀HCND-20kv產品(pin)簡(jian)介

耐(nai)電(dian)弧測試(shi)儀器(qi)是根據(ju)GB 1411-78《固(gu)體電(dian)工絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)高(gao)壓小(xiao)電(dian)流間歇(xie)耐(nai)電(dian)弧試(shi)驗(yan)方法(fa)》、IEC 61621及ASTM D495設計、制(zhi)造(zao)的(de)，並符合JEC 149、UL 746A等(deng)試(shi)驗(yan)方法(fa)。

符合標(biao)準(zhun)：
●《GB/T 1411-2002 幹固(gu)體絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao) 耐(nai)高(gao)電(dian)壓、小(xiao)電(dian)流電(dian)弧放(fang)電(dian)的試(shi)驗(yan)》
●ASTM D495-1999(2004) Standard Test Method for High-Voltage,Low-Current,Dry Arc Resistance of Solid E     lectrical Insulation》
● IEC 61621-1997 Dry,Solid Insulating Materials. Resistance Test to High-Voltage,Low-Current Arc
Discharges Materiaux Isolants Solides Secs. Essai De Resistance Aux Decharges A L′Arc Haute
Tension,Faible Courant First Edition》
●IPC-TM-650、JEC149、UL746A等(deng)試(shi)驗(yan)方法(fa)

儀器(qi)優(you)勢(shi):
采(cai)用PLC系(xi)統，光電(dian)隔(ge)離、穩(wen)定；
瞬間抑(yi)制(zhi)浪(lang)湧對控(kong)制(zhi)系統的沖(chong)擊
多級(ji)循(xun)環(huan)電(dian)壓采(cai)集(ji)技術(shu)、保證(zheng)試(shi)驗(yan)測試(shi)精(jing)度；


●多級(ji)循(xun)環(huan)采(cai)集(ji)技術(shu)：
  華測(ce)自(zi)主(zhu)開發(fa)的多級(ji)循(xun)環(huan)電(dian)壓采(cai)集(ji)方式(shi)，大大提(ti)高(gao)目前電(dian)弧試(shi)驗(yan)普(pu)遍(bian)采(cai)用手(shou)動及幹擾狀(zhuang)態(tai)下(xia)電(dian)壓及電(dian)流采(cai)集(ji)方式(shi)。
●低通(tong)濾波(bo)監測技術(shu):
材(cai)料(liao)耐(nai)電(dian)弧試(shi)驗(yan)在(zai)10-40mA電(dian)流下(xia)進(jin)行(xing)，電(dian)磁幹擾(rao)不僅(jin)影(ying)響試(shi)驗(yan)精(jing)度，同時也造(zao)成通訊中斷(duan)等(deng)壹(yi)系(xi)列(lie)問題。
為好(hao)解(jie)決這(zhe)壹(yi)難題，華(hua)測(ce)將低通(tong)濾波(bo)技術(shu)在(zai)電(dian)弧試(shi)驗(yan)儀器(qi)運用。
●遠程技術(shu)：
 將遠程技術(shu)在(zai)電(dian)弧試(shi)驗(yan)儀上應(ying)用，試(shi)驗(yan)人(ren)員(yuan)可(ke)遠距(ju)離控(kong)制(zhi)，同時可(ke)通(tong)過(guo)互(hu)聯網(wang)進(jin)行(xing)在(zai)線(xian)診(zhen)斷(duan)、升(sheng)壓、維護等(deng)壹(yi)系(xi)列(lie)問題。

軟件(jian)功(gong)能：

●操作系(xi)統：支持XP，win7,win8系(xi)統(tong)，操作人(ren)性(xing)化(hua)；
●數(shu)據(ju)導(dao)出(chu)：試(shi)驗(yan)結果(guo)方(fang)便(bian)導(dao)出。
●實驗(yan)報(bao)告(gao)：自(zi)定義報(bao)告(gao)名稱(cheng)，並(bing)對實(shi)驗報(bao)告(gao)進(jin)行(xing)打印(yin)；
●試(shi)驗(yan)方式(shi)：手(shou)動(dong)試(shi)驗(yan)、自(zi)動(dong)試(shi)驗(yan)；
●試(shi)驗(yan)方法(fa)：IEC  ASTM多種選擇；
●參數(shu)設置：可(ke)以(yi)根(gen)據(ju)不同的試(shi)驗(yan)方式(shi)及試(shi)驗(yan)方法(fa)靈(ling)活(huo)設置所(suo)需的(de)不同參數(shu)值
●功能：可(ke)針對設備進(jin)行(xing)設置