計(ji)算(suan)機(ji)控制(zhi)、耐電弧試(shi)驗儀HCND-20kv

計(ji)算(suan)機(ji)控制(zhi)、耐電弧試(shi)驗儀HCND-20kv

本儀器是(shi)在相(xiang)距(ju)6.35mm的兩(liang)鎢棒(bang)電極(ji)上，由間(jian)隙到(dao)連(lian)續(xu)施(shi)加(jia)12500Ｖ電壓和(he)10～40mA工(gong)頻的電弧電流，使(shi)試(shi)樣(yang)表面(mian)經(jing)受逐(zhu)漸燃(ran)弧條(tiao)件(jian)，從(cong)而較細地(di)分(fen)辨(bian)出(chu)材料(liao)的耐電弧性(xing)，以(yi)從(cong)電弧產(chan)生至材料(liao)破(po)壞所經過(guo)的全(quan)部(bu)時(shi)間(jian)作(zuo)為評定(ding)結(jie)果(guo)。

計(ji)算(suan)機(ji)控制(zhi)、耐電弧試(shi)驗儀HCND-20kv

符合(he)標(biao)準(zhun)：
●《GB/T 1411-2002 幹固(gu)體(ti)絕(jue)緣(yuan)材料(liao) 耐高(gao)電壓、小(xiao)電流電弧放(fang)電的試(shi)驗》
●ASTM D495-1999(2004) Standard Test Method for High-Voltage,Low-Current,Dry Arc Resistance of Solid E     lectrical Insulation》
● IEC 61621-1997 Dry,Solid Insulating Materials. Resistance Test to High-Voltage,Low-Current Arc
Discharges Materiaux Isolants Solides Secs. Essai De Resistance Aux Decharges A L′Arc Haute
Tension,Faible Courant First Edition》
●IPC-TM-650、JEC149、UL746A等(deng)試(shi)驗方(fang)法(fa)
儀器優(you)勢:

采(cai)用(yong)PLC系統(tong)，光(guang)電隔離(li)、穩定；
瞬(shun)間(jian)抑制(zhi)浪湧對控制(zhi)系統(tong)的沖(chong)擊(ji)
多(duo)級(ji)循環電壓采(cai)集技(ji)術(shu)、保證(zheng)試(shi)驗測(ce)試(shi)精度；


●多(duo)級(ji)循環采(cai)集技(ji)術(shu)：
  華(hua)測自(zi)主開(kai)發的多(duo)級(ji)循環電壓采(cai)集方(fang)式，大大提高(gao)目前電弧試(shi)驗普(pu)遍采(cai)用(yong)手動(dong)及(ji)幹擾狀態下電壓及(ji)電流采(cai)集方(fang)式。
●低(di)通(tong)濾(lv)波監測技(ji)術(shu):
材料(liao)耐電弧試(shi)驗在10-40mA電流下進行，電磁幹擾不僅(jin)影響試(shi)驗精度，同時(shi)也(ye)造成通(tong)訊中(zhong)斷(duan)等壹(yi)系列問題(ti)。
為好解(jie)決這壹難題(ti)，華(hua)測將(jiang)低(di)通(tong)濾(lv)波技(ji)術(shu)在電弧試(shi)驗儀器運用(yong)。
●遠程(cheng)技(ji)術(shu)：
  將(jiang)遠程(cheng)技(ji)術(shu)在電弧試(shi)驗儀上應(ying)用(yong)，試(shi)驗人(ren)員可(ke)遠距(ju)離(li)控制(zhi)，同時(shi)可(ke)通(tong)過互聯網(wang)進(jin)行在線(xian)診斷(duan)、升壓(ya)、維護等壹系列問題(ti)。

軟(ruan)件(jian)功(gong)能(neng)：

●操(cao)作(zuo)系統(tong)：支(zhi)持XP，win7,win8系統(tong)，操(cao)作(zuo)人(ren)性(xing)化；
●數(shu)據導(dao)出(chu)：試(shi)驗結(jie)果方(fang)便(bian)導(dao)出(chu)。
●實驗報告(gao)：自(zi)定義(yi)報告(gao)名(ming)稱(cheng)，並對實驗報告(gao)進行打印；
●試(shi)驗方(fang)式：手動(dong)試(shi)驗、自(zi)動試(shi)驗；
●試(shi)驗方(fang)法(fa)：IEC  ASTM多(duo)種選擇；
●參數設置：可(ke)以(yi)根據不同的試(shi)驗方(fang)式及(ji)試(shi)驗方(fang)法(fa)靈(ling)活(huo)設置所需的不同參數值
●功(gong)能(neng)：可(ke)針對設(she)備進行設置