耐(nai)電(dian)弧試(shi)驗儀(yi)、北(bei)京市(shi)海澱區(qu)華(hua)測(ce)*HCND-20kv

耐電(dian)弧試(shi)驗儀(yi)、北(bei)京市(shi)海澱區(qu)華(hua)測(ce)*HCND-20kv

本(ben)儀器是(shi)在相(xiang)距6.35mm的(de)兩(liang)鎢(wu)棒電(dian)極(ji)上，由(you)間(jian)隙(xi)到(dao)連(lian)續(xu)施(shi)加(jia)12500Ｖ電(dian)壓(ya)和10～40mA工(gong)頻的電(dian)弧電(dian)流，使試(shi)樣(yang)表(biao)面經受逐漸燃(ran)弧(hu)條件，從(cong)而較(jiao)細(xi)地分(fen)辨(bian)出材(cai)料的耐(nai)電(dian)弧性(xing)，以從電(dian)弧產(chan)生(sheng)至材料破壞所(suo)經(jing)過的全(quan)部(bu)時間(jian)作為(wei)評(ping)定結果。

耐電(dian)弧試(shi)驗儀(yi)、北(bei)京市(shi)海澱區(qu)華(hua)測(ce)*HCND-20kv符合標準(zhun)：
●《GB/T 1411-2002 幹固(gu)體(ti)絕緣材(cai)料 耐高(gao)電(dian)壓(ya)、小(xiao)電(dian)流電(dian)弧放(fang)電(dian)的試(shi)驗》
●ASTM D495-1999(2004) Standard Test Method for High-Voltage,Low-Current,Dry Arc Resistance of Solid E     lectrical Insulation》
● IEC 61621-1997 Dry,Solid Insulating Materials. Resistance Test to High-Voltage,Low-Current Arc
Discharges Materiaux Isolants Solides Secs. Essai De Resistance Aux Decharges A L′Arc Haute
Tension,Faible Courant First Edition》
●IPC-TM-650、JEC149、UL746A等試(shi)驗方(fang)法(fa)
儀器(qi)優勢:

采用PLC系(xi)統，光(guang)電(dian)隔離(li)、穩定；
瞬(shun)間(jian)抑(yi)制浪(lang)湧對控(kong)制系(xi)統的(de)沖(chong)擊(ji)
多(duo)級(ji)循(xun)環電(dian)壓(ya)采集(ji)技(ji)術(shu)、保(bao)證(zheng)試(shi)驗測(ce)試(shi)精(jing)度(du)；


●多(duo)級(ji)循(xun)環采集(ji)技(ji)術(shu)：
  華測(ce)自(zi)主開發(fa)的(de)多(duo)級(ji)循(xun)環電(dian)壓(ya)采集(ji)方(fang)式(shi)，大大(da)提高目前(qian)電(dian)弧試(shi)驗普遍(bian)采用手(shou)動(dong)及(ji)幹(gan)擾(rao)狀(zhuang)態下(xia)電(dian)壓(ya)及電(dian)流采集(ji)方(fang)式(shi)。
●低通濾(lv)波監(jian)測(ce)技(ji)術(shu):
材料耐電(dian)弧試(shi)驗在(zai)10-40mA電(dian)流下進行，電(dian)磁幹擾不(bu)僅(jin)影(ying)響(xiang)試(shi)驗精(jing)度(du)，同時也造成(cheng)通訊中斷等壹(yi)系(xi)列(lie)問題(ti)。
為好解(jie)決(jue)這(zhe)壹(yi)難(nan)題(ti)，華(hua)測(ce)將低通濾(lv)波技(ji)術(shu)在(zai)電(dian)弧試(shi)驗儀(yi)器(qi)運(yun)用(yong)。
●遠(yuan)程技(ji)術(shu)：
  將遠(yuan)程技(ji)術(shu)在(zai)電(dian)弧試(shi)驗儀(yi)上(shang)應(ying)用(yong)，試(shi)驗人員可遠(yuan)距離(li)控(kong)制，同時可通過互(hu)聯(lian)網進行在(zai)線診斷(duan)、升(sheng)壓(ya)、維(wei)護等(deng)壹(yi)系(xi)列(lie)問題(ti)。

軟件功(gong)能(neng)：

●操作系(xi)統：支(zhi)持(chi)XP，win7,win8系(xi)統，操(cao)作人性(xing)化；
●數(shu)據(ju)導(dao)出(chu)：試(shi)驗結(jie)果(guo)方(fang)便(bian)導(dao)出(chu)。
●實驗報(bao)告(gao)：自(zi)定義報(bao)告(gao)名稱，並(bing)對實(shi)驗報(bao)告(gao)進行打印；
●試(shi)驗方(fang)式(shi)：手動(dong)試(shi)驗、自(zi)動(dong)試(shi)驗；
●試(shi)驗方(fang)法(fa)：IEC  ASTM多(duo)種(zhong)選擇(ze)；
●參(can)數(shu)設置：可以根據(ju)不(bu)同的試(shi)驗方(fang)式(shi)及試(shi)驗方(fang)法(fa)靈(ling)活設置所需的(de)不(bu)同參(can)數(shu)值
●功(gong)能(neng)：可(ke)針(zhen)對設(she)備(bei)進行設(she)置