高低溫(wen)環境(jing)試(shi)驗設備-北京華(hua)測(ce)試(shi)驗(yan)儀器有(you)限公司(si)

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高低溫(wen)環境(jing)試(shi)驗設備

高低溫(wen)烘箱小(xiao)型探(tan)針臺(tai) 高低溫(wen)冷(leng)熱(re)臺(tai)

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HCP650-PM華(hua)測(ce)半導(dao)體材料(liao)封裝高低溫(wen)冷(leng)熱(re)臺(tai)

更新(xin)時(shi)間：2025-04-03

型(xing)號：HCP650-PM

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華(hua)測(ce)半導(dao)體材料(liao)封裝高低溫(wen)冷(leng)熱(re)臺(tai) 防止高溫(wen)氧(yang)化(hua)負(fu)溫(wen)結(jie)霜，高低溫(wen)冷(leng)熱(re)臺(tai)是壹款溫(wen)度(du)範圍(wei)-190C~600C的溫(wen)控探(tan)針(zhen)臺。使用時還(hai)可對樣(yang)品(pin)氣(qi)氛進行(xing)控制(zhi)。這樣既可以保(bao)證(zheng)，即使在極低(di)溫(wen)度(du)下，腔體也不(bu)產(chan)生(sheng)結霜影響(xiang)實驗，又(you)可以防止樣(yang)品(pin)發生(sheng)氧化。
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HC9023絕緣材(cai)料電阻評(ping)價(jia)平(ping)臺測試設備/自主(zhu)研發

更新(xin)時(shi)間：2024-12-12

型(xing)號：HC9023

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絕緣材(cai)料電阻評(ping)價(jia)平(ping)臺測試設備/自主(zhu)研發運(yun)用(yong)平(ping)行(xing)板(ban)法(fa)設計原理測量(liang)。利用(yong)特殊的電阻測(ce)試(shi)系(xi)統，重(zhong)復(fu)性(xing)與(yu)穩(wen)定性(xing)好(hao)，提(ti)升(sheng)了(le)夾具的抗(kang)幹擾能(neng)力(li)，同時(shi)大(da)大(da)提(ti)高精確度(du),可應用於產(chan)品(pin)檢(jian)測以及(ji)新(xin)材料(liao)電學(xue)性(xing)能(neng)研(yan)究等用途。
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Huace-6 中(zhong)端(duan)探(tan)針臺

更新(xin)時(shi)間：2024-12-12

型(xing)號：

瀏覽量(liang)：2600

Huace-6 中(zhong)端(duan)探(tan)針臺可兼容高倍率金(jin)相(xiang)顯(xian)微(wei)鏡(jing)，可微調移(yi)動；可升(sheng)級(ji)做(zuo)射(she)頻，大(da)電流(liu)方(fang)面(mian)的測(ce)試(shi)和激光修(xiu)復應(ying)用(yong)
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Huace-4S小(xiao)型(xing)探針臺

更新(xin)時(shi)間：2024-12-12

型(xing)號：

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Huace-4S小型(xing)探針臺最(zui)大(da)可用於6英(ying)寸(cun)以(yi)內(nei)樣(yang)品(pin)測(ce)試；可滿足I-V/C-V，PIV測試(shi)，光(guang)電(dian)測試等。
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Huace-4簡易探(tan)針臺(tai)

更新(xin)時(shi)間：2024-12-12

型(xing)號：Huace-4

瀏覽量(liang)：2389

Huace-4系(xi)列(lie)簡易探(tan)針臺(tai)可滿足I-V/C-V，PIV測試(shi)，光(guang)電(dian)測試等；外形(xing)輕(qing)盈(ying)，操(cao)作方便，價(jia)格(ge)實惠(hui)；
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華(hua)測(ce)測(ce)試(shi)儀器 HCMP手(shou)動(dong)探針臺

更新(xin)時(shi)間：2024-12-12

型(xing)號：

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華(hua)測(ce)測(ce)試(shi)儀器 HCMP手(shou)動(dong)探針臺是壹款專(zhuan)門(men)用於材(cai)料電學(xue)表(biao)征和測(ce)量(liang)的微(wei)型桌面(mian)型電(dian)學(xue)測(ce)量(liang)臺，主(zhu)要用於介(jie)電、壓(ya)電(dian)、鐵(tie)電、熱釋(shi)電、光電等材料(liao)的(de)電學(xue)表(biao)征和測(ce)量(liang)，還可以在真空(kong)、氣(qi)氛環境(jing)下(xia)對材(cai)料進(jin)行(xing)電(dian)學(xue)測(ce)量(liang)評(ping)估(gu)，是實(shi)驗室測量(liang)薄(bo)膜(mo)材(cai)料(liao)電(dian)學(xue)材(cai)料(liao)常用工具，廣(guang)泛用於高校、科(ke)研、航(hang)天航(hang)空(kong)、軍工院所(suo)等領域(yu)。
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半導(dao)體參數(shu)測(ce)試(shi)儀與(yu)MM探(tan)針臺/系(xi)統集(ji)成(cheng)

更新(xin)時(shi)間：2023-08-28

型(xing)號：

瀏覽量(liang)：4407

半導(dao)體參數(shu)測(ce)試(shi)儀與(yu)MM探(tan)針臺/系(xi)統集(ji)成(cheng)支(zhi)持二(er)極(ji)管、三(san)極管、MOS管等半導(dao)體器件(jian)以及(ji)材(cai)料的(de)直(zhi)流(liu)電(dian)流(liu)-電(dian)壓(ya)（I-V）測(ce)量(liang)，準(zhun)靜態(tai)和中(zhong)頻電(dian)容-電壓(ya)（C-V）測(ce)量(liang)，時域(yu)測(ce)量(liang)等。
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