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簡要描述:Huace-4S小(xiao)型(xing)探針臺最大(da)可用(yong)於6英寸以(yi)內樣品測試 ;可滿(man)足I-V/C-V,PIV測(ce)試,光電測(ce)試等(deng)。
產品分(fen)類
Product Category相(xiang)關文(wen)章
Related Articles詳(xiang)細介紹(shao)
| 品牌 | 華(hua)測(ce)儀器(qi) | 產地(di)類別 | 國(guo)產 |
|---|---|---|---|
| 應用(yong)領域(yu) | 化(hua)工(gong),電(dian)子/電(dian)池(chi),航(hang)空(kong)航天(tian),電(dian)氣(qi),綜(zong)合 |
Huace-4S小(xiao)型(xing)探針臺
產品簡介:
探針臺是(shi)壹(yi)種(zhong)輔助執行(xing)機構(gou),測(ce)試人(ren)員(yuan)把(ba)需(xu)要量測(ce)的(de)器(qi)件放(fang)到探針臺載(zai)物臺(chuck)上(shang),在(zai)顯(xian)微(wei)鏡(jing)配(pei)合下(xia),X-Y移(yi)動(dong)器(qi)件,找到(dao)需要探測的(de)位(wei)置。接(jie)下(xia)來測(ce)試人(ren)員(yuan)通過(guo)旋(xuan)轉(zhuan)探針座上(shang)的(de)X-Y-Z的(de)三(san)向旋(xuan)鈕(niu),控制前部(bu)探針(射頻(pin)或(huo)直(zhi)流(liu)探針),精準紮到被(bei)測點,從而(er)使其訊(xun)號(hao)線與外部(bu)測試機導通,通過(guo)測(ce)試機測(ce)試人(ren)員(yuan)可以(yi)得(de)到所需(xu)要的(de)電(dian)性(xing)能參數。
產品特(te)點及應用(yong):
◆ 滿(man)足I-V/C-V,PIV測(ce)試,光電測(ce)試等(deng);
◆ 可用(yong)於6英寸以(yi)內樣品測試;
◆ 同(tong)軸(zhou)絲(si)杠(gang)傳(chuan)動(dong)結構,線(xian)性(xing)移(yi)動(dong);
◆ 可放(fang)置於手套(tao)箱(xiang)內(nei)使用(yong);
◆ 形(xing)狀(zhuang)輕巧,操作(zuo)方便,價格(ge)實惠。
Huace-4S小(xiao)型(xing)探針臺技(ji)術參數:
臺(tai)體(ti)規(gui)格 | |
尺(chi)寸(cun) | 4英寸/6英寸 |
水(shui)平旋(xuan)轉(zhuan) | 可360°旋(xuan)轉(zhuan),可微(wei)調15°,精度0.1°,帶角(jiao)度鎖死裝(zhuang)置 |
X-Y移(yi)動(dong)行(xing)程 | 4英寸×4英寸 |
X-Y移(yi)動(dong)精(jing)度(du) | 10μm |
樣品臺Z軸(zhou)調節(jie) | 可升降(jiang)10mm |
樣品固定(ding) | 真空(kong)吸(xi)附(fu),中(zhong)心(xin)吸(xi)附(fu)孔(kong),多(duo)圈吸(xi)附(fu)環 |
針(zhen)座平臺 | U型(xing)針(zhen)座平臺,**可放(fang)置6個(ge)探針座 |
背(bei)電(dian)極(ji)測(ce)試 | 樣品臺電(dian)學(xue)獨立懸(xuan)空(kong),4mm插(cha)孔(kong)可接(jie)背(bei)電極(ji) |
外形(xing)尺寸 | 400mm長*400mm寬*500mm高(gao) |
設(she)備重(zhong)量 | 約(yue)20KG |
光(guang)學(xue)系統(tong) | |
顯(xian)微(wei)鏡(jing)類型 | 單筒(tong)顯(xian)微(wei)鏡(jing)/體(ti)式(shi)顯(xian)微(wei)鏡(jing) |
放(fang)大(da)倍(bei)率(lv) | 16X-200X |
移(yi)動(dong)行(xing)程 | 水(shui)平方向繞立柱360°旋(xuan)轉(zhuan),Z軸(zhou)50.8毫(hao)米(mi) |
光(guang)源 | 外置(zhi)LED無(wu)極(ji)調節(jie)亮度環形(xing)光源 |
CCD | 200萬(wan)像(xiang)素(su)/500萬(wan)像(xiang)素(su)/1200萬(wan)像(xiang)素(su) |
定(ding)位(wei)器 | |
X-Y-Z移(yi)動(dong)行(xing)程 | 12mm*12mm*12mm |
移(yi)動(dong)精(jing)度(du) | 10μm/2μm/0.7μm/0.5μm |
吸(xi)附(fu)方式(shi) | 磁(ci)力吸(xi)附(fu),真空(kong)吸(xi)附(fu) |
線(xian)纜(lan) | 同(tong)軸(zhou)線(xian)/三軸(zhou)線(xian) |
漏電精度 | 10pA/100fA/10fA |
固(gu)定(ding)探針 | 彈(dan)簧(huang)固(gu)定/管狀(zhuang)固(gu)定 |
接(jie)頭(tou)類型 | BNC/三(san)軸(zhou)/香蕉(jiao)頭/鱷(e)魚夾(jia)/接線(xian)端(duan)子 |
針(zhen)尖(jian)直(zhi)徑 | 0.2μm/1μm/2μm/5μm/10μm/20μm |
針(zhen)尖(jian)材(cai)質(zhi) | 鎢(wu)鋼;鈹(pi)銅(tong) |
可選附(fu)件:
加熱臺(tai);
顯(xian)示器;
轉(zhuan)接(jie)頭(tou);
射頻(pin)測試配(pei)件;
屏(ping)蔽(bi)箱(xiang);
光(guang)學(xue)平臺(tai);
鍍金(jin)卡(ka)盤(pan);
光(guang)電測試配(pei)件;
探針臺可根(gen)據客戶(hu)要求定制
公(gong)司主營產品:
幾(ji)大(da)系列:*功能材(cai)料(liao)電(dian)學(xue)綜合測(ce)試系統(tong)、絕(jue)緣診(zhen)斷測(ce)試系統(tong)、高(gao)低(di)溫介電(dian)溫譜(pu)測試儀、極(ji)化(hua)裝置與(yu)電(dian)源、高壓(ya)放(fang)大(da)器(qi)、PVDV薄(bo)膜極(ji)化(hua)、高低(di)溫冷(leng)熱臺(tai)、鐵(tie)電(dian)壓電熱釋電測(ce)試儀、絕(jue)緣材(cai)料(liao)電(dian)學(xue)性(xing)能綜合測(ce)試平臺、電(dian)擊穿強(qiang)度試驗儀、耐(nai)電弧(hu)試驗儀、高(gao)壓漏電起痕(hen)測試儀、沖(chong)擊電(dian)壓試驗儀、儲(chu)能材(cai)料(liao)電(dian)學(xue)測控系統(tong)、壓(ya)電傳(chuan)感(gan)器(qi)測控系統(tong)。
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