華(hua)測高溫四探針(zhen)測試儀(yi)

   華測高溫四探針(zhen)測試儀(yi)器(qi)采用四探針(zhen)雙(shuang)電測量方法(fa)，適用於生產(chan)企(qi)業(ye)、高等(deng)院校(xiao)、科研部(bu)門(men)，是檢驗和(he)分析(xi)導體(ti)材(cai)料(liao)和半導體(ti)材(cai)料(liao)在(zai)高溫、真(zhen)空(kong)及(ji)氣氛(fen)條(tiao)件下(xia)測量的(de)壹(yi)種(zhong)重要的工(gong)具(ju)。本(ben)儀(yi)器(qi)配置各類測量裝置可以(yi)測試不(bu)同(tong)材(cai)料(liao)。液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)，無需(xu)人工(gong)計算(suan)，並帶(dai)有溫度(du)補(bu)償(chang)功能(neng)。采用AD芯(xin)片控制(zhi)，恒(heng)流輸出，結構(gou)合理、質量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保(bao)存(cun)和(he)打印數(shu)據，自(zi)動(dong)生成(cheng)報(bao)表；本(ben)儀(yi)器(qi)可顯(xian)示(shi)電阻、電阻(zu)率(lv)、方阻(zu)、溫度(du)、單位換算(suan)、溫度(du)系數(shu)、電(dian)流、電壓、探針(zhen)形狀、探針(zhen)間(jian)距(ju)、厚(hou)度(du)、電導率(lv)，配置不(bu)同(tong)的測試治(zhi)具(ju)可以(yi)滿(man)足不(bu)同(tong)材(cai)料(liao)的測試要(yao)求。測試治(zhi)具(ju)可以(yi)根(gen)據產(chan)品及(ji)測試項目(mu)要求選購。

   雙電(dian)測數(shu)字(zi)式四探針(zhen)測試儀(yi)是運(yun)用直線或(huo)方形四探針(zhen)雙(shuang)位測量。該儀(yi)器(qi)設(she)計(ji)符(fu)合單晶(jing)矽(gui)物理測試方法(fa)標準(zhun)並參(can)考美(mei)國A.S.T.M標準(zhun)。利用電流探針(zhen)、電(dian)壓探針(zhen)的(de)變換，進(jin)行兩(liang)次電測量，對(dui)數(shu)據進(jin)行雙(shuang)電測分析(xi)，自(zi)動(dong)消除(chu)樣(yang)品幾何尺(chi)寸、邊界效(xiao)應(ying)以及(ji)探針(zhen)不(bu)等(deng)距(ju)和(he)機械(xie)遊(you)移等(deng)因素(su)對(dui)測量結(jie)果(guo)的影響(xiang)，它與(yu)單電(dian)測直線(xian)或(huo)方形四探針(zhen)相(xiang)比(bi)，大大提，也(ye)可應(ying)用於產(chan)品檢測以及(ji)新(xin)材(cai)料(liao)電學研究(jiu)等(deng)用途。

    采用開發電子護系統(tong)，設備(bei)的(de)性；選用熱電偶保定溫度(du)的采集(ji)有效(xiao)值、采用的SPWM電子升(sheng)壓(ya)技(ji)術(shu)，電(dian)壓(ya)輸(shu)出穩定性(xing)好。配備電(dian)壓、電(dian)流傳感器以(yi)保證(zheng)試驗(yan)數(shu)據的有效(xiao)性(xing)。

   系統搭(da)配Labview系統(tong)開發的hcpro軟件，具(ju)備彈(dan)性的(de)自(zi)定義(yi)功能(neng)，可進(jin)行電(dian)壓、電流、溫度(du)、時間(jian)等(deng)設置，符(fu)合導體(ti)、半導體(ti)材(cai)料(liao)與(yu)其它(ta)新(xin)材(cai)料(liao)測試多樣(yang)化(hua)的需(xu)求。

   高度(du)的輸(shu)出與(yu)測量規(gui)格(ge)，保障(zhang)檢測結果(guo)的(de)，適用於新(xin)材(cai)料(liao)數(shu)據的檢測。例如(ru)：多晶(jing)矽(gui)材(cai)料(liao)、石(shi)墨(mo)烯材(cai)料(liao)、導電(dian)功能(neng)薄膜材(cai)料(liao)、半導體(ti)材(cai)料(liao)，也(ye)可做(zuo)為(wei)科研院(yuan)所(suo)新(xin)材(cai)料(liao)的耐電(dian)弧(hu)性(xing)材(cai)料(liao)的測試。

   針對(dui)高溫四探針(zhen)測試儀(yi)做(zuo)了(le)多項設計(ji)，測試過(guo)程(cheng)中有過電(dian)壓(ya)、過(guo)電(dian)流(liu)、超溫等(deng)異常情況(kuang)以(yi)保證(zheng)測試過(guo)程(cheng)的；資料(liao)保存(cun)機制(zhi)：當(dang)遇到(dao)電腦(nao)異常瞬(shun)時(shi)斷(duan)電可將(jiang)資料(liao)保存(cun)於控制(zhi)器(qi)中，不(bu)丟(diu)失試(shi)驗(yan)數(shu)所(suo)新(xin)開(kai)啟動後可恢(hui)復原(yuan)有試驗(yan)數(shu)據。