高壓、低(di)壓(ya)漏(lou)電(dian)起痕(hen)_第(2)頁(ye)-北(bei)京華測(ce)試驗儀(yi)器有限公司(si)

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HCLD-III高壓漏(lou)電(dian)起痕(hen)試驗裝(zhuang)置(zhi)測(ce)試(shi)儀器

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HCLD-III觸(chu)摸屏(ping)高壓漏(lou)電(dian)起痕(hen)試驗裝(zhuang)置(zhi)測(ce)試(shi)儀器

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觸(chu)摸屏(ping)高壓漏(lou)電(dian)起痕(hen)試驗裝(zhuang)置(zhi)測(ce)試(shi)儀器根(gen)據(ju)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固(gu)體(ti)絕(jue)緣材料(liao)耐(nai)電(dian)痕(hen)化指數(shu)和相(xiang)比(bi)電(dian)痕(hen)化指數(shu)的(de)測定(ding)方(fang)法(fa)》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等(deng)標準規定(ding)的(de)模(mo)擬(ni)試(shi)驗項(xiang)目。
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HCLD-III電(dian)痕(hen)化漏(lou)電(dian)起痕(hen)試驗儀(yi)測(ce)試儀(yi)器

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電(dian)痕(hen)化漏(lou)電(dian)起痕(hen)試驗儀(yi)測(ce)試儀(yi)器是根(gen)據(ju)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固(gu)體(ti)絕(jue)緣材料(liao)耐(nai)電(dian)痕(hen)化指數(shu)和相(xiang)比(bi)電(dian)痕(hen)化指數(shu)的(de)測定(ding)方(fang)法(fa)》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等(deng)標準規定(ding)的(de)模(mo)擬(ni)試(shi)驗項(xiang)目。
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