儲能新(xin)材料(liao)電(dian)學(xue)綜(zong)合(he)測試系統

隨著(zhe)能(neng)源(yuan)需求的(de)不斷(duan)增(zeng)加以及對(dui)環(huan)境(jing)友(you)好(hao)能(neng)源(yuan)的(de)需(xu)求，新(xin)型能源(yuan)儲能材料(liao)的(de)研(yan)究(jiu)成(cheng)為(wei)了(le)當前的(de)熱(re)門(men)領(ling)域之壹。在(zai)開發(fa)新(xin)壹(yi)代的(de)儲能新(xin)材料(liao)時(shi)，對(dui)其(qi)性(xing)能(neng)的(de)測試與分(fen)析是至(zhi)關重(zhong)要(yao)的(de)壹(yi)環(huan)，儲能新(xin)材料(liao)電(dian)學(xue)綜(zong)合(he)測試系統可以通過各功(gong)能測試模(mo)塊(kuai)，系統的(de)幫組(zu)科研(yan)人(ren)員從能(neng)量密(mi)度、功(gong)率密(mi)度、循環(huan)壽(shou)命、安(an)全(quan)性(xing)四(si)個方(fang)面(mian)對(dui)新(xin)材料(liao)性(xing)能(neng)進行(xing)分(fen)析檢(jian)測，評(ping)估(gu)材料(liao)的(de)性(xing)能(neng)指(zhi)標(biao)，判(pan)斷是否(fou)符合(he)應(ying)用要(yao)求。

系統配(pei)置(zhi)

測試模(mo)塊(kuai)

01.電壓(ya)擊穿(chuan)（介(jie)電(dian)場(chang)強）

由能(neng)量密(mi)度可知(zhi)，擊穿(chuan)場(chang)強相(xiang)對(dui)於(yu)介(jie)電(dian)常(chang)數對(dui)於(yu)材料(liao)能(neng)量(liang)密(mi)度的(de)影(ying)響(xiang)更(geng)為(wei)突(tu)出，獲得高(gao)能(neng)量密(mi)度對(dui)復合(he)材料(liao)擊穿(chuan)場(chang)強提(ti)出了(le)更(geng)高的(de)要(yao)求。

通過上位機(ji)系統控制(zhi)高壓(ya)擊穿(chuan)測試模(mo)塊(kuai)，可以安(an)全(quan)、便捷(jie)、準(zhun)確(que)的(de)對(dui)測試樣品(pin)進行(xing)工(gong)頻下(xia)的(de)交流、高壓(ya)直流擊穿(chuan)試(shi)驗(yan)，測試出(chu)擊穿(chuan)場(chang)強。甚至(zhi)可以通過測試軟(ruan)件(jian)設置(zhi)直流輸(shu)出(chu)時(shi)間，以完成(cheng)樣品(pin)的(de)極化(hua)過程。

02.高低(di)頻介(jie)電(dian)頻譜(pu)、溫譜(pu)

用於(yu)分(fen)析寬頻、高低(di)溫環(huan)境(jing)下(xia)儲能新(xin)材料(liao)的(de)阻(zu)抗(kang)Z、電抗(kang)X、導納(na)Y、電導(dao)G、電納(na)B、電感(gan)L、介(jie)電(dian)損(sun)耗(hao)D、品(pin)質(zhi)因數(shu)Q等(deng)物理量，同時(shi)還(hai)可以分(fen)析被(bei)測樣品(pin)隨溫度、頻率、時(shi)間、偏(pian)壓(ya)變(bian)化(hua)的(de)曲(qu)線(xian)。

03.高溫絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)

高精(jing)度的(de)電(dian)壓(ya)輸(shu)出(chu)與電流測量，即(ji)使在(zai)高低(di)溫環(huan)境(jing)下(xia)可能很(hen)好的(de)屏(ping)蔽(bi)背(bei)景(jing)電流，保障(zhang)測試品(pin)質(zhi)，適(shi)用與儲能新(xin)材料(liao)在(zai)不同環(huan)境(jing)溫度下(xia)絕(jue)緣(yuan)性(xing)能(neng)的(de)檢(jian)測。

04.熱釋(shi)電測試

不論(lun)是薄(bo)膜還(hai)是塊(kuai)體形(xing)式的(de)儲能材料(liao)，都(dou)可對其(qi)進行(xing)熱釋(shi)電性(xing)能(neng)測試。采(cai)用(yong)電流法進行(xing)測量，材料(liao)的(de)熱(re)釋(shi)電電(dian)流、熱釋(shi)電系數(shu)、剩余(yu)極化(hua)強(qiang)度對(dui)溫度和(he)時間的(de)曲(qu)線(xian)。

05.TSDC熱刺(ci)激(ji)極化(hua)電(dian)流

熱刺(ci)激(ji)電(dian)流（TSC）是研(yan)究(jiu)熱(re)釋(shi)電材料(liao)中(zhong)陷(xian)阱結構(gou)和(he)陷(xian)阱結構(gou)所控制(zhi)的(de)空間電(dian)荷(he)存(cun)貯及運輸(shu)特(te)性(xing)的(de)工(gong)具(ju)，同時(shi)也(ye)是研(yan)究(jiu)熱(re)點(dian)材料(liao)結構(gou)轉(zhuan)變和(he)分(fen)子(zi)運動(dong)的(de)重(zhong)要(yao)手段(duan)。諸(zhu)如(ru)：分(fen)子(zi)弛(chi)豫、相(xiang)轉(zhuan)變、玻(bo)璃化(hua)溫度等(deng)等(deng)，通(tong)過TSDC技(ji)術也(ye)可以直觀的(de)研(yan)究(jiu)材料(liao)的(de)弛(chi)豫時間、活(huo)化(hua)能(neng)等(deng)相(xiang)關介(jie)電(dian)特(te)性、

06.充(chong)放電(dian)儲能密(mi)度測試

用於(yu)研(yan)究(jiu)介(jie)電(dian)儲能材料(liao)高(gao)電(dian)壓(ya)放電(dian)性能(neng)，同目(mu)前常見的(de)方(fang)法是通(tong)過電滯(zhi)回(hui)線(xian)計算(suan)高壓(ya)下(xia)電(dian)介(jie)質(zhi)能(neng)量密(mi)度，測試時(shi)，樣品(pin)的(de)電(dian)荷(he)釋(shi)放至(zhi)高壓(ya)源(yuan)上，而非釋(shi)放至(zhi)負載(zai)上(shang)，也(ye)就是說(shuo)，通過電滯(zhi)回(hui)線(xian)測得的(de)能(neng)量(liang)密(mi)度會大與樣品(pin)實(shi)際釋(shi)放的(de)能(neng)量(liang)密(mi)度，不能(neng)正確(que)評(ping)估(gu)儲能材料(liao)的(de)正常放電(dian)性能(neng)。華(hua)測充(chong)放電(dian)測試具(ju)有(you)專門設計(ji)的(de)電(dian)容(rong)放電(dian)電路(lu)來測量，首(shou)先(xian)將(jiang)測試材料(liao)充(chong)電(dian)到給定電(dian)壓(ya)，之後通過閉合(he)高速MOS高壓(ya)開關，將(jiang)存(cun)儲在(zai)儲能材料(liao)中(zhong)的(de)能(neng)量(liang)釋(shi)放到(dao)電阻(zu)器(qi)負(fu)載中，更(geng)符合(he)電介(jie)質(zhi)充(chong)放電(dian)原理。

07.電聲(sheng)脈沖(chong)法空間電(dian)荷(he)測量

空間電(dian)荷(he)是指(zhi)在(zai)材料(liao)特(te)定區(qu)域內電荷分(fen)布(bu)不均勻(yun)的(de)現象。該(gai)現象是由(you)於載(zai)流子的(de)擴(kuo)散(san)和漂移(yi)運動(dong)所導致的(de)，在(zai)材料(liao)的(de)局(ju)部區(qu)域產生了(le)電荷(he)累積，從而(er)使材料(liao)改(gai)變了(le)原本(ben)的(de)電(dian)中(zhong)性(xing)狀態。空間電(dian)荷(he)的(de)存(cun)在(zai)對材料(liao)的(de)電(dian)學(xue)性(xing)能有(you)著(zhe)重(zhong)要(yao)的(de)影(ying)響(xiang)，可能導(dao)致電(dian)場(chang)畸(ji)變、絕(jue)緣(yuan)性(xing)能(neng)下(xia)降等(deng)問題(ti)。

電聲(sheng)脈沖(chong)法（PEA）空間電(dian)荷(he)測試可以便捷(jie)準(zhun)確(que)地(di)測量固(gu)體儲能材料(liao)內部空間電(dian)荷(he)分(fen)布(bu),電(dian)聲脈(mai)沖(chong)法可以測量較厚(hou)的(de)介(jie)質(zhi)，可以在(zai)帶電(dian)狀態下(xia)直接(jie)測量絕(jue)緣(yuan)測試樣品(pin)中的(de)空間電(dian)荷(he)分(fen)布(bu)，最小(xiao)可測空間電(dian)荷(he)密(mi)度為(wei)4μC·cm^-3,最小(xiao)可測試樣厚(hou)度為(wei)0.2mm。

08.靜(jing)電(dian)電壓

靜(jing)電(dian)是壹(yi)種處於靜(jing)止(zhi)狀態的(de)電(dian)荷(he)，雖(sui)然其(qi)總(zong)電(dian)荷量不大，但其(qi)瞬間釋(shi)放所產生的(de)高(gao)電(dian)壓(ya)與大電流非常容(rong)易(yi)對周(zhou)邊(bian)電路(lu)、設備(bei)乃(nai)至(zhi)人(ren)員造成(cheng)損(sun)害。對儲能材料(liao)的(de)靜(jing)電(dian)性能（包(bao)括(kuo)面(mian)電(dian)荷(he)密(mi)度與電阻(zu)）進行(xing)測試，可以對後期防靜(jing)電(dian)工(gong)程設計(ji)和改(gai)善儲能系統的(de)抗(kang)靜(jing)電(dian)性能設計(ji)提(ti)供數據(ju)支持(chi)，對周圍電路(lu)的(de)靜(jing)電(dian)敏感(gan)電(dian)子(zi)元器(qi)件(jian)選(xuan)型提(ti)供參考依(yi)據(ju)。

配(pei)置(zhi)模(mo)塊(kuai)

儲能新(xin)材料(liao)電(dian)學(xue)綜(zong)合(he)測試系統可進行(xing)電壓(ya)擊穿(chuan)（介(jie)電(dian)場(chang)強）、高(gao)低(di)頻介(jie)電(dian)頻譜(pu)、溫譜(pu)、高(gao)溫絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)、熱釋(shi)電測試、TSDC熱刺(ci)激(ji)極化(hua)電(dian)流、充(chong)放電(dian)儲能密(mi)度測試、電(dian)聲(sheng)脈沖(chong)法空間電(dian)荷(he)測量、靜(jing)電(dian)電壓等(deng)。

儲能新(xin)材料(liao)電(dian)學(xue)綜(zong)合(he)測試系統/熱釋(shi)電測試

儲能新(xin)材料(liao)電(dian)學(xue)綜(zong)合(he)測試系統/熱釋(shi)電測試