儲(chu)能新材(cai)料電(dian)學綜合(he)測(ce)試(shi)系統(tong)

隨著能(neng)源(yuan)需求的不斷增加(jia)以及(ji)對環(huan)境友(you)好能(neng)源(yuan)的需(xu)求，新型(xing)能源(yuan)儲(chu)能材(cai)料的研究成為(wei)了當前(qian)的熱(re)門(men)領域(yu)之壹。在(zai)開發(fa)新壹代的儲(chu)能新材(cai)料時，對其性(xing)能的測(ce)試(shi)與分(fen)析(xi)是(shi)至關重要(yao)的壹(yi)環(huan)，儲(chu)能新材(cai)料電(dian)學綜合(he)測(ce)試(shi)系統(tong)可(ke)以(yi)通過(guo)各功(gong)能(neng)測(ce)試(shi)模(mo)塊(kuai)，系統(tong)的幫組科(ke)研人(ren)員從(cong)能量(liang)密度、功(gong)率密度、循環(huan)壽(shou)命(ming)、安(an)全性(xing)四個(ge)方(fang)面(mian)對新材(cai)料性(xing)能進(jin)行分(fen)析(xi)檢(jian)測，評估(gu)材(cai)料的性(xing)能指(zhi)標(biao)，判(pan)斷是否(fou)符(fu)合應(ying)用要(yao)求。

測試(shi)模(mo)塊(kuai)

01.電壓(ya)擊穿(chuan)（介電場強(qiang)）

由能(neng)量(liang)密度可知(zhi)，擊穿(chuan)場強(qiang)相(xiang)對於(yu)介電(dian)常(chang)數對於(yu)材(cai)料能(neng)量(liang)密度的影(ying)響更為突(tu)出(chu)，獲(huo)得(de)高能(neng)量(liang)密度對復(fu)合(he)材(cai)料擊穿(chuan)場強(qiang)提出(chu)了更高的要(yao)求。

通過(guo)上位(wei)機系(xi)統(tong)控(kong)制(zhi)高壓擊穿(chuan)測試(shi)模(mo)塊(kuai)，可以(yi)安全、便捷(jie)、準確(que)的對測(ce)試(shi)樣(yang)品(pin)進(jin)行工頻(pin)下的交(jiao)流(liu)、高壓直(zhi)流(liu)擊穿(chuan)試(shi)驗，測試(shi)出(chu)擊穿(chuan)場強(qiang)。甚(shen)至可以通過(guo)測試(shi)軟件(jian)設(she)置直流(liu)輸出(chu)時間，以完(wan)成樣(yang)品(pin)的極(ji)化(hua)過(guo)程。

02.高低(di)頻(pin)介電(dian)頻(pin)譜(pu)、溫(wen)譜(pu)

用於(yu)分(fen)析(xi)寬(kuan)頻(pin)、高低(di)溫(wen)環(huan)境下儲(chu)能新材(cai)料的阻(zu)抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感(gan)L、介電(dian)損耗D、品(pin)質(zhi)因數Q等物理(li)量(liang)，同時還可(ke)以(yi)分(fen)析(xi)被測樣(yang)品(pin)隨溫度、頻(pin)率、時間、偏壓(ya)變(bian)化(hua)的曲(qu)線(xian)。

03.高溫(wen)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)

高精(jing)度的電(dian)壓(ya)輸出(chu)與電流(liu)測量(liang)，即使(shi)在(zai)高低(di)溫(wen)環(huan)境下可(ke)能(neng)很(hen)好的屏(ping)蔽(bi)背(bei)景(jing)電(dian)流(liu)，保障(zhang)測(ce)試(shi)品(pin)質(zhi)，適用與儲(chu)能新材(cai)料在(zai)不同環(huan)境溫度下絕(jue)緣性(xing)能的檢(jian)測(ce)。

04.熱釋電(dian)測試(shi)

不論是(shi)薄(bo)膜還是(shi)塊(kuai)體(ti)形式(shi)的儲(chu)能材(cai)料，都可對其進(jin)行熱(re)釋電(dian)性(xing)能測(ce)試(shi)。采用(yong)電(dian)流(liu)法進行測量(liang)，材(cai)料的熱(re)釋電(dian)電流(liu)、熱釋電(dian)系數、剩余(yu)極(ji)化(hua)強(qiang)度對溫(wen)度和時間的曲(qu)線(xian)。

05.TSDC熱刺(ci)激極(ji)化(hua)電(dian)流(liu)

熱刺(ci)激電(dian)流(liu)（TSC）是研究熱(re)釋電(dian)材(cai)料中陷(xian)阱(jing)結構和(he)陷(xian)阱(jing)結構所(suo)控(kong)制(zhi)的空間電荷(he)存貯(zhu)及運輸特性(xing)的工具，同時也(ye)是(shi)研究熱(re)點材(cai)料結(jie)構轉(zhuan)變(bian)和分(fen)子(zi)運(yun)動的重(zhong)要(yao)手段。諸(zhu)如：分(fen)子(zi)弛(chi)豫(yu)、相轉(zhuan)變(bian)、玻璃(li)化(hua)溫(wen)度等等(deng)，通過(guo)TSDC技術(shu)也(ye)可(ke)以直(zhi)觀(guan)的研究材(cai)料的弛(chi)豫(yu)時間、活化(hua)能(neng)等相關介(jie)電(dian)特性(xing)、

06.充放(fang)電儲(chu)能密度測試(shi)

用於(yu)研究介(jie)電(dian)儲(chu)能材(cai)料高(gao)電壓(ya)放(fang)電性(xing)能，同目(mu)前(qian)常(chang)見(jian)的方(fang)法是通過(guo)電滯回(hui)線(xian)計(ji)算(suan)高壓(ya)下電(dian)介質(zhi)能量(liang)密度，測試(shi)時，樣(yang)品(pin)的電(dian)荷(he)釋放(fang)至高壓源(yuan)上，而(er)非(fei)釋放(fang)至負(fu)載(zai)上(shang)，也(ye)就(jiu)是(shi)說，通過(guo)電滯回(hui)線(xian)測(ce)得(de)的能(neng)量(liang)密度會大與樣(yang)品(pin)實(shi)際(ji)釋放(fang)的能(neng)量(liang)密度，不能(neng)正(zheng)確(que)評估(gu)儲(chu)能材(cai)料的正(zheng)常(chang)放(fang)電性(xing)能。華(hua)測充(chong)放(fang)電測(ce)試(shi)具有專(zhuan)門設(she)計(ji)的電(dian)容(rong)放(fang)電電(dian)路來(lai)測量(liang)，首(shou)先將(jiang)測試(shi)材(cai)料充(chong)電到給(gei)定電(dian)壓(ya)，之後(hou)通過(guo)閉合高速MOS高壓(ya)開關(guan)，將(jiang)存儲(chu)在儲(chu)能材(cai)料中的能(neng)量(liang)釋放(fang)到電阻(zu)器(qi)負(fu)載(zai)中，更符(fu)合電(dian)介質(zhi)充放(fang)電原(yuan)理(li)。

07.電聲(sheng)脈沖法空間電荷(he)測(ce)量(liang)

空間電荷(he)是(shi)指(zhi)在(zai)材(cai)料特定(ding)區(qu)域內(nei)電荷(he)分(fen)布不均(jun)勻的現(xian)象(xiang)。該(gai)現(xian)象(xiang)是(shi)由(you)於(yu)載(zai)流(liu)子(zi)的擴(kuo)散和(he)漂移運(yun)動所(suo)導致的，在(zai)材(cai)料的局(ju)部(bu)區(qu)域產生(sheng)了電荷(he)累積(ji)，從(cong)而使(shi)材(cai)料改變(bian)了原(yuan)本的電(dian)中性(xing)狀態(tai)。空間電荷(he)的存在對材(cai)料的電(dian)學(xue)性(xing)能有著重(zhong)要(yao)的影(ying)響，可(ke)能(neng)導致電場畸(ji)變(bian)、絕(jue)緣性(xing)能下(xia)降等(deng)問(wen)題(ti)。

電聲(sheng)脈沖法（PEA）空間電荷(he)測(ce)試(shi)可以(yi)便(bian)捷(jie)準確(que)地測量(liang)固體(ti)儲(chu)能材(cai)料內(nei)部(bu)空間電荷(he)分(fen)布,電(dian)聲脈沖法可以測量(liang)較(jiao)厚的介(jie)質(zhi)，可以(yi)在帶電(dian)狀態(tai)下(xia)直接(jie)測量(liang)絕(jue)緣測(ce)試(shi)樣(yang)品(pin)中的空間電荷(he)分(fen)布，最(zui)小可測空間電荷(he)密度為4μC·cm^-3,最(zui)小可測試(shi)樣(yang)厚度為0.2mm。

08.靜電電(dian)壓

靜電是(shi)壹種處於(yu)靜止狀態(tai)的電(dian)荷(he)，雖然(ran)其總電(dian)荷量(liang)不大，但(dan)其瞬(shun)間釋放(fang)所(suo)產生(sheng)的高(gao)電(dian)壓與大電(dian)流(liu)非(fei)常(chang)容(rong)易對周(zhou)邊電(dian)路(lu)、設(she)備(bei)乃(nai)至人(ren)員造(zao)成損害。對儲(chu)能材(cai)料的靜電性(xing)能（包(bao)括面(mian)電荷(he)密度與電阻(zu)）進(jin)行測試(shi)，可以(yi)對後(hou)期防(fang)靜電工程設(she)計(ji)和改善(shan)儲(chu)能系(xi)統的抗靜電性(xing)能設(she)計(ji)提供(gong)數據(ju)支持，對周(zhou)圍(wei)電路的靜電敏(min)感(gan)電(dian)子(zi)元(yuan)器(qi)件選(xuan)型(xing)提供(gong)參考(kao)依據(ju)。

配置(zhi)模(mo)塊(kuai)

儲(chu)能新材(cai)料電(dian)學綜合(he)測(ce)試(shi)系統(tong)可(ke)進(jin)行電(dian)壓(ya)擊穿(chuan)（介電場強(qiang)）、高(gao)低(di)頻(pin)介電(dian)頻(pin)譜(pu)、溫(wen)譜(pu)、高(gao)溫(wen)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)、熱(re)釋電(dian)測試(shi)、TSDC熱刺(ci)激極(ji)化(hua)電(dian)流(liu)、充放(fang)電儲(chu)能密度測試(shi)、電聲(sheng)脈沖法空間電荷(he)測(ce)量(liang)、靜電電(dian)壓等(deng)。

儲(chu)能新材(cai)料電(dian)學綜合(he)測(ce)試(shi)系統(tong)/靜電電(dian)壓

儲(chu)能新材(cai)料電(dian)學綜合(he)測(ce)試(shi)系統(tong)/靜電電(dian)壓