儲(chu)能新(xin)材料電(dian)學綜(zong)合測試系(xi)統

隨著(zhe)能(neng)源需求的不(bu)斷增加以及(ji)對(dui)環境友好能(neng)源的需求，新型能源儲(chu)能材料的(de)研究成(cheng)為(wei)了(le)當(dang)前(qian)的(de)熱門領(ling)域之壹。在(zai)開(kai)發(fa)新壹(yi)代(dai)的(de)儲(chu)能新(xin)材料時(shi)，對其性(xing)能的測試與(yu)分(fen)析(xi)是(shi)至(zhi)關(guan)重要(yao)的壹(yi)環，儲(chu)能新(xin)材料電(dian)學綜(zong)合測試系(xi)統可(ke)以通過(guo)各(ge)功(gong)能(neng)測試模塊(kuai)，系(xi)統的(de)幫(bang)組(zu)科研(yan)人(ren)員從(cong)能(neng)量(liang)密度、功(gong)率(lv)密度、循環壽命(ming)、安全(quan)性四個(ge)方(fang)面(mian)對(dui)新材料性(xing)能進(jin)行(xing)分(fen)析(xi)檢(jian)測，評(ping)估材料的(de)性能(neng)指(zhi)標，判斷是(shi)否(fou)符(fu)合(he)應用要(yao)求。

測試模塊(kuai)

01.電壓擊穿（介(jie)電場強）

由能量(liang)密度可知(zhi)，擊穿場(chang)強相(xiang)對(dui)於介電(dian)常(chang)數對於材料能(neng)量(liang)密度的影響(xiang)更為(wei)突(tu)出(chu)，獲得高(gao)能(neng)量(liang)密度對復合(he)材料擊穿場(chang)強提出了更高(gao)的(de)要(yao)求。

通過(guo)上位機系(xi)統控(kong)制高(gao)壓擊穿測試模塊(kuai)，可(ke)以安全(quan)、便捷(jie)、準(zhun)確(que)的對測試樣品(pin)進(jin)行(xing)工頻(pin)下(xia)的(de)交(jiao)流、高(gao)壓直流擊穿試(shi)驗，測試出擊穿場(chang)強。甚(shen)至(zhi)可以通過(guo)測試軟件設置(zhi)直流輸(shu)出時間，以完成(cheng)樣(yang)品(pin)的(de)極化(hua)過(guo)程。

02.高(gao)低(di)頻(pin)介(jie)電頻譜、溫譜

用於分(fen)析(xi)寬(kuan)頻、高(gao)低(di)溫環境下(xia)儲(chu)能新(xin)材料的(de)阻(zu)抗(kang)Z、電抗(kang)X、導(dao)納(na)Y、電導(dao)G、電納(na)B、電感L、介電(dian)損(sun)耗D、品(pin)質因數Q等(deng)物理(li)量(liang)，同(tong)時還(hai)可以分(fen)析(xi)被(bei)測樣品(pin)隨(sui)溫度、頻(pin)率(lv)、時間、偏(pian)壓變(bian)化的(de)曲(qu)線(xian)。

03.高(gao)溫絕(jue)緣電阻(zu)

高(gao)精(jing)度的電壓輸(shu)出與(yu)電流測量(liang)，即使(shi)在(zai)高(gao)低(di)溫環境下(xia)可(ke)能很好的屏蔽背景(jing)電(dian)流，保障測試品(pin)質，適用(yong)與(yu)儲(chu)能新(xin)材料在(zai)不同(tong)環境溫度下(xia)絕(jue)緣性能(neng)的(de)檢測。

04.熱釋電(dian)測試

不論(lun)是(shi)薄膜(mo)還是(shi)塊(kuai)體(ti)形式(shi)的儲(chu)能材料，都(dou)可對其進(jin)行(xing)熱釋電(dian)性能測試。采(cai)用電流法(fa)進(jin)行(xing)測量(liang)，材料的(de)熱釋電(dian)電流、熱釋電(dian)系(xi)數、剩余(yu)極(ji)化強度(du)對溫度和(he)時(shi)間的(de)曲(qu)線(xian)。

05.TSDC熱刺激極化電(dian)流

熱刺激電流（TSC）是(shi)研(yan)究熱釋電(dian)材料中(zhong)陷阱(jing)結(jie)構和(he)陷阱(jing)結(jie)構所(suo)控制的(de)空間電(dian)荷(he)存貯及(ji)運(yun)輸(shu)特性的工(gong)具(ju)，同(tong)時也(ye)是(shi)研(yan)究熱點材料結(jie)構轉變(bian)和(he)分(fen)子(zi)運動的重(zhong)要(yao)手(shou)段(duan)。諸如：分(fen)子(zi)弛豫、相(xiang)轉變(bian)、玻璃(li)化(hua)溫度等(deng)等(deng)，通過(guo)TSDC技術(shu)也(ye)可以直觀(guan)的研(yan)究材料的(de)弛豫(yu)時間、活(huo)化(hua)能等(deng)相(xiang)關(guan)介電(dian)特性、

06.充放(fang)電(dian)儲(chu)能密度測試

用於研究介電(dian)儲(chu)能材料高(gao)電(dian)壓放(fang)電(dian)性能，同(tong)目(mu)前常(chang)見的方(fang)法(fa)是(shi)通(tong)過(guo)電滯回線(xian)計(ji)算(suan)高(gao)壓下(xia)電(dian)介質能量(liang)密度，測試時，樣品(pin)的(de)電荷(he)釋放(fang)至(zhi)高(gao)壓源上，而(er)非(fei)釋放(fang)至(zhi)負載上(shang)，也(ye)就是(shi)說，通過(guo)電滯回線(xian)測得的(de)能量(liang)密度會大與(yu)樣品(pin)實(shi)際釋放(fang)的(de)能量(liang)密度，不能正(zheng)確(que)評(ping)估儲(chu)能材料的(de)正(zheng)常(chang)放(fang)電(dian)性能。華(hua)測充放(fang)電(dian)測試具有專門設計(ji)的(de)電(dian)容放(fang)電(dian)電路(lu)來(lai)測量(liang)，首先將測試材料充(chong)電到給(gei)定(ding)電(dian)壓，之後通(tong)過(guo)閉合(he)高(gao)速MOS高(gao)壓開(kai)關(guan)，將存儲(chu)在儲(chu)能材料中(zhong)的能(neng)量(liang)釋放(fang)到電阻(zu)器負載中(zhong)，更符(fu)合(he)電介(jie)質充放(fang)電(dian)原理。

07.電聲(sheng)脈沖法(fa)空(kong)間電(dian)荷(he)測量(liang)

空間電(dian)荷(he)是(shi)指(zhi)在(zai)材料特定(ding)區域內電(dian)荷(he)分(fen)布不(bu)均勻(yun)的現(xian)象。該現(xian)象是(shi)由於載流子(zi)的擴散(san)和(he)漂(piao)移(yi)運動所(suo)導(dao)致(zhi)的，在(zai)材料的(de)局部(bu)區域產生(sheng)了(le)電(dian)荷(he)累(lei)積，從(cong)而(er)使(shi)材料改(gai)變(bian)了原本(ben)的(de)電中(zhong)性狀(zhuang)態(tai)。空(kong)間電(dian)荷(he)的存在對(dui)材料的(de)電學(xue)性能有(you)著(zhe)重要(yao)的影響(xiang)，可能(neng)導(dao)致(zhi)電場(chang)畸(ji)變(bian)、絕(jue)緣性能(neng)下(xia)降等(deng)問(wen)題。

電聲(sheng)脈沖法(fa)（PEA）空(kong)間電(dian)荷(he)測試可以便捷準(zhun)確(que)地(di)測量(liang)固(gu)體(ti)儲(chu)能材料內(nei)部空(kong)間電(dian)荷(he)分(fen)布,電(dian)聲脈沖法(fa)可(ke)以測量(liang)較厚的介質，可以在帶電(dian)狀(zhuang)態(tai)下(xia)直接(jie)測量(liang)絕(jue)緣測試樣品(pin)中(zhong)的空(kong)間電(dian)荷(he)分(fen)布，最(zui)小可測空間電(dian)荷(he)密度為(wei)4μC·cm^-3,最(zui)小(xiao)可(ke)測試樣厚度為(wei)0.2mm。

08.靜電(dian)電(dian)壓

靜電(dian)是(shi)壹(yi)種(zhong)處(chu)於靜止(zhi)狀態(tai)的(de)電荷(he)，雖(sui)然其總電荷(he)量(liang)不大，但其瞬(shun)間釋放(fang)所(suo)產生的(de)高(gao)電(dian)壓與(yu)大電流非(fei)常(chang)容易(yi)對(dui)周(zhou)邊(bian)電路(lu)、設備(bei)乃(nai)至(zhi)人(ren)員造成(cheng)損(sun)害。對(dui)儲(chu)能材料的(de)靜電(dian)性能（包括(kuo)面電(dian)荷(he)密度與(yu)電阻(zu)）進(jin)行(xing)測試，可以對後期防靜電(dian)工程設計(ji)和(he)改(gai)善儲(chu)能系(xi)統的(de)抗靜(jing)電性能(neng)設計(ji)提供數據(ju)支(zhi)持(chi)，對(dui)周(zhou)圍(wei)電路(lu)的(de)靜(jing)電敏感電子(zi)元器件選(xuan)型提供參考(kao)依據(ju)。

配置(zhi)模塊(kuai)

該綜(zong)合測試系(xi)統可(ke)進行(xing)電壓擊穿（介(jie)電場強）、高(gao)低(di)頻(pin)介(jie)電頻譜、溫譜、高(gao)溫絕(jue)緣電阻(zu)、熱釋電(dian)測試、TSDC熱刺激極化電(dian)流、充放(fang)電(dian)儲(chu)能密度測試、電聲脈沖法(fa)空(kong)間電(dian)荷(he)測量(liang)、靜電(dian)電(dian)壓等(deng)。

北京(jing)華(hua)測試驗儀器有(you)限公(gong)司為(wei)高(gao)新(xin)技術(shu)企業(ye)，專註於絕(jue)緣材料與(yu)*功(gong)能(neng)新材料電(dian)性能(neng)檢測以及(ji)材料電(dian)學測控設備(bei)的(de)研(yan)發(fa)、生產(chan)、銷售(shou)和(he)服務(wu)，目(mu)前公(gong)司產品(pin)已(yi)應用於全(quan)國二十(shi)多(duo)個(ge)省(sheng)、市(shi)、自治區。

公(gong)司有功(gong)能(neng)材料、電(dian)氣(qi)絕(jue)緣材料兩個(ge)電(dian)學試驗(yan)室(shi)；涉及(ji)材料測試儀器、器件的放(fang)大、調理(li)、采(cai)集(ji)、控制(zhi)；傳感器性(xing)能(neng)綜合(he)評(ping)價(jia)等(deng)相(xiang)關(guan)儀器。