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簡要(yao)描述:電(dian)介(jie)質充(chong)放電(dian)測(ce)試系統/其(qi)他(ta)采(cai)用(yong)特(te)殊(shu)高壓(ya)開關(guan),通過(guo)單(dan)刀雙擲控(kong)制充(chong)電(dian)和(he)放電(dian)過(guo)程,開關(guan)可(ke)以(yi)承受(shou)10kV高壓(ya),寄(ji)生電(dian)容小,動(dong)作時(shi)間短。
產品分(fen)類(lei)
Product Category相(xiang)關(guan)文章(zhang)
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| 品牌(pai) | 華(hua)測(ce)儀器 | 重(zhong)量 | 40kg |
|---|---|---|---|
| 應(ying)用領域(yu) | 電(dian)子(zi)/電(dian)池,航空(kong)航天,綜(zong)合(he) |
產(chan)品名稱(cheng):電(dian)介(jie)質充(chong)放電(dian)測(ce)試系統
型(xing)號:Huace-DCS10KV
儀(yi)器簡(jian)介(jie):
目(mu)前常(chang)規的方法是通過(guo)電(dian)滯回線(xian)計算(suan)高壓(ya)下電(dian)介(jie)質的(de)能量密(mi)度(du),測試時,樣品的(de)電(dian)荷(he)是放(fang)回到高壓(ya)源上,而不(bu)是釋(shi)放到負載(zai)上(shang),通過(guo)電(dian)滯回線(xian)測(ce)得的(de)儲能密度(du)壹般會(hui)大(da)於樣(yang)品實際釋(shi)放的(de)能量密(mi)度(du),無法(fa)正確評估(gu)電(dian)介(jie)質材(cai)料(liao)的正常(chang)放電(dian)。電(dian)介(jie)質充(chong)放電(dian)測(ce)試系統采(cai)用(yong)特(te)殊(shu)高壓(ya)開關(guan),通過(guo)單(dan)刀雙擲控(kong)制充(chong)電(dian)和(he)放電(dian)過(guo)程,開關(guan)可(ke)以(yi)承受(shou)10kV高壓(ya),寄(ji)生電(dian)容小,動(dong)作時(shi)間短。可(ke)以(yi)實現欠(qian)阻尼(ni)和(he)過(guo)阻尼(ni)兩(liang)種(zhong)測(ce)試模式(shi),欠(qian)阻尼(ni)測(ce)試時,放電(dian)回路(lu)短路(lu),不(bu)使(shi)用電(dian)阻負載(zai),過(guo)阻尼(ni)測(ce)試時,使用較(jiao)大(da)的(de)無感電(dian)阻作為放電(dian)負(fu)載(zai)。通過(guo)示波(bo)器(qi)采(cai)集(ji)數據(ju),能直接(jie)計算(suan)高壓(ya)下電(dian)介(jie)質的(de)能量密(mi)度(du)。
儀(yi)器特(te)點(dian):
內置直流高壓(ya)模塊(kuai),大電(dian)壓(ya)10kV,電(dian)流6mA;
通過(guo)電(dian)流探(tan)頭監測(ce)放電(dian)電(dian)流,可(ke)達(da)100A;
定(ding)制載(zai)樣(yang)平(ping)臺(tai),適用於陶瓷(ci)和(he)薄(bo)膜樣(yang)品測(ce)試;
可(ke)以(yi)變(bian)溫測(ce)試,RT-250℃;
可(ke)以(yi)疲(pi)勞測試。
主(zhu)要參(can)數:
電(dian)流探(tan)頭帶寬(kuan):120MHz
峰值(zhi)電(dian)流:100A
電(dian)流采(cai)集(ji)精(jing)度(du):1mA
高壓(ya)源模塊(kuai):DC 10kV(6mA)
開關(guan)適用:100萬次,耐(nai)壓(ya)15kV
溫(wen)控範圍(wei):RT-250℃
溫(wen)度(du)穩定(ding)性和(he)精度(du):0.1℃
測(ce)試樣品:薄(bo)膜,厚(hou)膜,陶瓷(ci),玻(bo)璃(li)等
配(pei)置:
控(kong)制主(zhu)機(ji)(含10kV高壓(ya)源模塊(kuai)) 1臺
電(dian)流探(tan)頭 1根(gen)
示(shi)波器(qi)(350M 5GSa/s) 1臺(tai) 可(ke)選配
電(dian)腦(nao)主(zhu)機(ji)(含數據(ju)采(cai)集(ji)系(xi)統(tong)) 1臺 可(ke)選配
電(dian)介(jie)質充(chong)放電(dian)測(ce)試系統/其(qi)他(ta)
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