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        1. 您好(hao)!歡(huan)迎訪(fang)問北(bei)京華(hua)測(ce)試(shi)驗(yan)儀(yi)器有(you)限公(gong)司(si)網(wang)站!
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          電(dian)痕化(hua)高壓(ya)漏電(dian)起(qi)痕試(shi)驗(yan)裝(zhuang)置(zhi)測試(shi)儀器(qi)

          簡要描述:電(dian)痕化(hua)高壓(ya)漏電(dian)起(qi)痕試(shi)驗(yan)裝(zhuang)置(zhi)測試(shi)儀器(qi) 是(shi)在(zai)固(gu)體(ti)絕(jue)緣材料(liao)表(biao)面上,在(zai)規定尺寸(cun)( 2mm × 5mm )的(de)鉑(bo)電(dian)極之(zhi)間(jian),施加某壹電(dian)壓(ya)並(bing)定時(30s)定高度( 35mm )滴下(xia)規(gui)定液滴體(ti)積的汙染(ran)液(ye)體(ti)(0.1%NH 4 CL),用(yong)以(yi)評(ping)價(jia)固(gu)體(ti)絕(jue)緣材料(liao)表(biao)面在(zai)電(dian)場和汙染(ran)介質聯(lian)合作(zuo)用(yong)下(xia)的(de)耐(nai)受(shou)能力(li),測定其(qi)相(xiang)比(bi)電(dian)痕化(hua)指數(CT1)和耐電(dian)痕化(hua)指數(PT1)。

          • 產(chan)品型(xing)號:HCLD-III
          • 廠商(shang)性質:生產(chan)廠家
          • 更新時間(jian):2024-06-05
          • 訪  問  量(liang):2384

          詳細(xi)介紹(shao)

          品牌華(hua)測(ce)儀(yi)器產(chan)地類(lei)別國(guo)產
          應(ying)用(yong)領(ling)域(yu)石(shi)油,能源,電(dian)子(zi)/電(dian)池(chi),航空航天,電(dian)氣(qi)

              電(dian)痕化(hua)高壓(ya)漏電(dian)起(qi)痕試(shi)驗(yan)裝(zhuang)置(zhi)


          電(dian)痕化(hua)高壓(ya)漏電(dian)起(qi)痕試(shi)驗(yan)裝(zhuang)置(zhi)產(chan)品簡介

          耐(nai)漏電(dian)起(qi)痕試(shi)驗(yan)儀(yi)是(shi)根據GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固(gu)體(ti)絕(jue)緣材料(liao)耐電(dian)痕化(hua)指數和相比(bi)電(dian)痕化(hua)指數的(de)測(ce)定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biao)準規定的模(mo)擬試(shi)驗(yan)項(xiang)目(mu)。

          規(gui)格(ge)

          耐(nai)漏電(dian)起(qi)痕試(shi)驗(yan)儀(yi)是(shi)根據GB 4706.1-2008 GB 4207-2003 GB/T6553-2003 IEC60112 -2003《固(gu)體(ti)絕(jue)緣材料(liao)耐電(dian)痕化(hua)指數和相比(bi)電(dian)痕化(hua)指數的(de)測(ce)定方法》,UL 746A、ASTM D 3638-92、DIN 53480等標(biao)準規定的模(mo)擬試(shi)驗(yan)項(xiang)目(mu)。
            HCDH-200耐(nai)漏電(dian)起(qi)痕試(shi)驗(yan)儀(yi)是(shi)在(zai)固(gu)體(ti)絕(jue)緣材料(liao)表(biao)面上,在(zai)規定尺寸(cun)( 2mm × 5mm )的(de)鉑(bo)電(dian)極之(zhi)間(jian),施加某壹電(dian)壓(ya)並(bing)定時(30s)定高度( 35mm )滴下(xia)規(gui)定液滴體(ti)積的汙染(ran)液(ye)體(ti)(0.1%NH 4 CL),用(yong)以(yi)評(ping)價(jia)固(gu)體(ti)絕(jue)緣材料(liao)表(biao)面在(zai)電(dian)場和汙染(ran)介質聯(lian)合作(zuo)用(yong)下(xia)的(de)耐(nai)受(shou)能力(li),測定其(qi)相(xiang)比(bi)電(dian)痕化(hua)指數(CT1)和耐電(dian)痕化(hua)指數(PT1)。
             HCDH-200漏電(dian)起(qi)痕試(shi)驗(yan)儀(yi)適用(yong)於(yu)照(zhao)明(ming)設(she)備(bei)、低(di)壓(ya)電(dian)器(qi)、家(jia)用(yong)電(dian)器(qi)、機(ji)床電(dian)器(qi)、電(dian)機(ji)、電(dian)動(dong)工具(ju)、電(dian)子(zi)儀(yi)器(qi)、電(dian)工(gong)儀(yi)表(biao)、信(xin)息(xi)技術設(she)備(bei)的研究(jiu)、生產(chan)和質檢部門,也(ye)適用(yong)於(yu)絕(jue)緣材料(liao)、工程(cheng)塑料(liao)、電(dian)氣(qi)連(lian)接件(jian)、輔(fu)件行(xing)業(ye)。,也(ye)適用(yong)於(yu)電(dian)氣(qi)能力(li)驗(yan)證(zheng)計劃(hua)與技術研討會(hui)中(zhong)的有(you)關CHEARI-PT003耐(nai)電(dian)痕化(hua)指數測(ce)試(shi)。
          技術參(can)數:
          控(kong)制(zhi)系統(tong):PLC+觸(chu)摸屏(ping)控(kong)制(zhi)系統(tong)。具(ju)有精(jing)度(du)高,反(fan)應(ying)快(kuai)等優點。
          電(dian)極材料(liao)    試(shi)驗(yan)電(dian)極-純金,電(dian)極接桿(gan)–純銀(yin)
          電(dian)極尺(chi)寸(cun)    (2mm ± 0.1mm)×(5mm ± 0.1mm)×(40mm ± 5mm ),電(dian)極5mm或12mm可(ke)選,30°±2°斜(xie)面; 電(dian)極桿(gan),純銀(yin),電(dian)極頭(tou)純金
          電(dian)極距離(li)     4.0mm± 0.01mm,夾(jia)角60°;
          電(dian)極壓(ya)力(li)      1.00N±0.001N;
          試(shi)液電(dian)阻     A液0.1%  23℃,3.95±0.05Ωm,B液(ye)1.98±0.05Ωm;
          液(ye)滴體(ti)積     20滴0.380g~0.480g,50滴0.997g~1.147g (可(ke)微調節(jie));
          液(ye)滴高度(du)     35mm± 5mm (可(ke)調節(jie));
          液(ye)滴時間(jian)    30s±0.1s(數顯(xian),可(ke)預置(zhi)調節(jie)),50滴時間(jian)24.5min±2min;
          液(ye)滴滴數     1~9999(數(shu)顯(xian),可(ke)預置(zhi));
          試(shi)驗(yan)風(feng)速(su)      0.2m/s;
          試(shi)驗(yan)電(dian)壓(ya)    100V~600V(25V分(fen)度,可(ke)調節(jie));
          電(dian)源(yuan)壓(ya)降(jiang)     1.0A± 0.1A時8%;
          起(qi)痕判(pan)斷(duan)    0.50A±10%,2.00s±10%;
          外(wai)形(xing)尺(chi)寸(cun)    寬(kuan)1120mm ×深520mm ×高1350mm,排氣(qi)孔徑(jing)Φ100mm;
          測(ce)量(liang)範(fan)圍(wei):100-700V    50-60Hz。
          電(dian)    壓(ya):220V  50-60Hz。


          電(dian)痕化(hua)高壓(ya)漏電(dian)起(qi)痕試(shi)驗(yan)裝(zhuang)置(zhi)測試(shi)儀器(qi)

          電(dian)痕化(hua)高壓(ya)漏電(dian)起(qi)痕試(shi)驗(yan)裝(zhuang)置(zhi)測試(shi)儀器(qi)



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