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          當(dang)前位(wei)置(zhi):首頁(ye) > 產品中(zhong)心(xin) > 標(biao)準(zhun)設備(bei) > 高壓、低壓漏(lou)電(dian)起(qi)痕 > HCLD-III絕緣材(cai)料高壓漏(lou)電(dian)起(qi)痕試(shi)驗裝置

          絕緣材(cai)料高壓漏(lou)電(dian)起(qi)痕試(shi)驗裝置

          簡(jian)要(yao)描(miao)述(shu):HCDH-200絕緣材(cai)料高壓漏(lou)電(dian)起(qi)痕試(shi)驗裝置是在(zai)固體(ti)絕緣材(cai)料表面(mian)上(shang),在(zai)規定尺寸(cun)( 2mm × 5mm )的(de)鉑(bo)電(dian)極之間,施加(jia)某(mou)壹(yi)電(dian)壓並定時(30s)定高度(du)( 35mm )滴(di)下(xia)規定液滴(di)體(ti)積(ji)的(de)汙染(ran)液(ye)體(ti)(0.1%NH 4 CL),用(yong)以評(ping)價(jia)固體(ti)絕緣材(cai)料表面(mian)在(zai)電(dian)場(chang)和(he)汙染(ran)介質(zhi)聯(lian)合作用(yong)下(xia)的(de)耐(nai)受能力(li),測定其(qi)相(xiang)比(bi)電(dian)痕化指(zhi)數(shu)(CT1)和耐(nai)電(dian)痕化指(zhi)數(shu)(PT1)。

          • 產品型(xing)號(hao):HCLD-III
          • 廠(chang)商(shang)性質(zhi):生產廠家(jia)
          • 更(geng)新(xin)時(shi)間:2024-06-05
          • 訪  問(wen)  量(liang):2417

          詳(xiang)細(xi)介紹(shao)

          品(pin)牌華(hua)測儀(yi)器(qi)產地類(lei)別(bie)國產
          應用(yong)領(ling)域石油(you),能(neng)源,電(dian)子/電(dian)池,航空(kong)航天,電(dian)氣

          絕緣材(cai)料高壓漏(lou)電(dian)起(qi)痕試(shi)驗裝置


          絕緣材(cai)料高壓漏(lou)電(dian)起(qi)痕試(shi)驗裝置產品簡(jian)介

          耐(nai)漏(lou)電(dian)起(qi)痕試(shi)驗儀(yi)是根(gen)據GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體(ti)絕緣材(cai)料耐電(dian)痕化指(zhi)數(shu)和相(xiang)比(bi)電(dian)痕化指(zhi)數(shu)的(de)測(ce)定方法(fa)》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等(deng)標準(zhun)規定的(de)模擬(ni)試(shi)驗(yan)項(xiang)目。

          規(gui)格(ge)

          耐(nai)漏(lou)電(dian)起(qi)痕試(shi)驗儀(yi)是根(gen)據GB 4706.1-2008 GB 4207-2003 GB/T6553-2003 IEC60112 -2003《固體(ti)絕緣材(cai)料耐電(dian)痕化指(zhi)數(shu)和相(xiang)比(bi)電(dian)痕化指(zhi)數(shu)的(de)測(ce)定方法(fa)》,UL 746A、ASTM D 3638-92、DIN 53480等(deng)標準(zhun)規定的(de)模擬(ni)試(shi)驗(yan)項(xiang)目。
            HCDH-200耐(nai)漏(lou)電(dian)起(qi)痕試(shi)驗儀(yi)是在(zai)固體(ti)絕緣材(cai)料表面(mian)上(shang),在(zai)規定尺寸(cun)( 2mm × 5mm )的(de)鉑(bo)電(dian)極之間,施加(jia)某(mou)壹(yi)電(dian)壓並定時(30s)定高度(du)( 35mm )滴(di)下(xia)規定液滴(di)體(ti)積(ji)的(de)汙染(ran)液(ye)體(ti)(0.1%NH 4 CL),用(yong)以評(ping)價(jia)固體(ti)絕緣材(cai)料表面(mian)在(zai)電(dian)場(chang)和(he)汙染(ran)介質(zhi)聯(lian)合作用(yong)下(xia)的(de)耐(nai)受能力(li),測定其(qi)相(xiang)比(bi)電(dian)痕化指(zhi)數(shu)(CT1)和耐(nai)電(dian)痕化指(zhi)數(shu)(PT1)。
             HCDH-200漏(lou)電(dian)起(qi)痕試(shi)驗儀(yi)適(shi)用(yong)於照(zhao)明設備(bei)、低壓電(dian)器(qi)、家(jia)用(yong)電(dian)器(qi)、機床(chuang)電(dian)器(qi)、電(dian)機、電(dian)動(dong)工具、電(dian)子儀(yi)器(qi)、電(dian)工儀(yi)表、信(xin)息技(ji)術(shu)設備(bei)的(de)研(yan)究、生產和質(zhi)檢部(bu)門(men),也適用(yong)於絕緣材(cai)料、工程(cheng)塑(su)料、電(dian)氣連(lian)接件、輔件行業。,也適用(yong)於電(dian)氣能(neng)力(li)驗證(zheng)計(ji)劃與(yu)技(ji)術(shu)研(yan)討(tao)會中(zhong)的(de)有(you)關CHEARI-PT003耐(nai)電(dian)痕化指(zhi)數(shu)測試(shi)。
          技(ji)術(shu)參數(shu):
          控(kong)制系統(tong):PLC+觸摸(mo)屏控(kong)制系統(tong)。具有(you)精(jing)度(du)高,反應(ying)快等優(you)點(dian)。
          電(dian)極材(cai)料    試驗(yan)電(dian)極-純金(jin),電(dian)極接桿–純(chun)銀
          電(dian)極尺寸(cun)    (2mm ± 0.1mm)×(5mm ± 0.1mm)×(40mm ± 5mm ),電(dian)極5mm或12mm可(ke)選,30°±2°斜(xie)面(mian); 電(dian)極桿,純銀,電(dian)極頭(tou)純(chun)金(jin)
          電(dian)極距離(li)     4.0mm± 0.01mm,夾角60°;
          電(dian)極壓力(li)      1.00N±0.001N;
          試(shi)液(ye)電(dian)阻     A液0.1%  23℃,3.95±0.05Ωm,B液1.98±0.05Ωm;
          液(ye)滴(di)體(ti)積(ji)     20滴0.380g~0.480g,50滴(di)0.997g~1.147g (可(ke)微調(tiao)節);
          液(ye)滴(di)高度(du)     35mm± 5mm (可(ke)調(tiao)節);
          液(ye)滴(di)時(shi)間    30s±0.1s(數(shu)顯,可(ke)預置調(tiao)節),50滴時間24.5min±2min;
          液(ye)滴(di)滴(di)數(shu)     1~9999(數(shu)顯,可(ke)預置);
          試(shi)驗(yan)風(feng)速(su)      0.2m/s;
          試(shi)驗(yan)電(dian)壓    100V~600V(25V分度(du),可(ke)調(tiao)節);
          電(dian)源壓降(jiang)     1.0A± 0.1A時(shi)8%;
          起(qi)痕判(pan)斷(duan)    0.50A±10%,2.00s±10%;
          外(wai)形(xing)尺(chi)寸(cun)    寬(kuan)1120mm ×深(shen)520mm ×高1350mm,排(pai)氣(qi)孔(kong)徑(jing)Φ100mm;
          測(ce)量(liang)範圍:100-700V    50-60Hz。
          電(dian)    壓:220V  50-60Hz。




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