半(ban)導(dao)體(ti)封(feng)裝(zhuang)材(cai)料(liao)真(zhen)空(kong)探(tan)針(zhen)臺(tai)是壹種能夠(gou)在(zai)高真空(kong)環(huan)境下進行精確測量和實(shi)驗的(de)設備。其基本(ben)原(yuan)理是利(li)用真(zhen)空(kong)環(huan)境下的(de)物理現(xian)象(xiang)和(he)特(te)性，對(dui)樣品進行各(ge)種實(shi)驗和測量。在(zai)高真空(kong)環(huan)境中，氣體(ti)分子(zi)很少(shao)，這(zhe)有助(zhu)於減(jian)少空(kong)氣阻力、空(kong)氣振動(dong)和(he)其(qi)他(ta)幹擾因素，從而(er)獲(huo)得較(jiao)為(wei)準(zhun)確(que)和(he)可(ke)靠(kao)的(de)實(shi)驗數據(ju)。

半(ban)導(dao)體(ti)封(feng)裝(zhuang)材(cai)料(liao)高溫絕緣電(dian)阻測試系統運用(yong)三(san)電(dian)極(ji)法設計原理測量。利(li)用新(xin)穎的(de)電(dian)阻測試系統，重(zhong)復性與穩(wen)定性更好(hao)，提升(sheng)了(le)夾具(ju)的(de)抗(kang)幹擾能力(li)，同時大(da)大提(ti)高精確度,可(ke)應(ying)用(yong)於(yu)產(chan)品檢(jian)測以(yi)及(ji)新(xin)材(cai)料(liao)電(dian)學性能研(yan)究(jiu)等用(yong)途(tu)。

半(ban)導(dao)體(ti)封(feng)裝(zhuang)材(cai)料(liao)TSDC測試系統因為(wei)熱(re)刺激(ji)電(dian)流(liu)與材(cai)料(liao)的(de)這(zhe)些參(can)數（如(ru)h與(yu)τ）密(mi)切(qie)相關(guan)，故它是壹(yi)種(zhong)研(yan)究(jiu)介電(dian)材(cai)料(liao)、絕緣材(cai)料(liao)、半(ban)導(dao)體(ti)材(cai)料(liao)等(deng)的(de)有效(xiao)手(shou)段(duan)。tsc是指當樣品受(shou)到(dao)電(dian)場(chang)極化(hua)後，去(qu)掉電(dian)場(chang)，熱激(ji)時，樣(yang)品從極(ji)化(hua)態轉(zhuan)變(bian)到平衡(heng)態(tai)的(de)過程中，在(zai)外電(dian)路(lu)中得到(dao)的(de)電(dian)流(liu)，稱為(wei)熱(re)激(ji)退極化(hua)電(dian)流(liu)。