改性(xing)塑(su)料(liao)試驗設備(bei)_第(di)(2)頁-北京(jing)華測試(shi)驗儀(yi)器(qi)有限公司(si)

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改性(xing)塑(su)料(liao)試驗設備(bei)

電壓(ya)擊(ji)穿(chuan)試(shi)驗儀(yi) 耐(nai)電弧(hu)測(ce)試(shi)儀(yi) 絕(jue)緣電阻(zu)試(shi)驗儀(yi) 電弱點試驗儀(yi) 電介(jie)質(zhi)充(chong)放(fang)電測(ce)試系(xi)統(tong) 高(gao)壓(ya)、低(di)壓(ya)漏電起(qi)痕試(shi)驗儀(yi) 50點(dian)耐壓測試(shi)儀(yi)

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HCRD-300全(quan)自(zi)動電弱點檢測儀(yi) 專業定制在(zai)線檢測(ce)

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-09-10

型(xing)號：HCRD-300

瀏覽(lan)量(liang)：1273

全(quan)自(zi)動電弱點檢測儀(yi) 專業定制在(zai)線檢測(ce)，提(ti)升(sheng)絕緣材(cai)料(liao)檢測(ce)效率主(zhu)要應用(yong)於(yu)新能(neng)源汽(qi)車(che)用鋰離(li)子電池(chi)隔膜電氣(qi)絕緣(yuan)缺(que)陷檢測。新能(neng)源(yuan)塑(su)料(liao)薄(bo)膜鋰(li)電池(chi)隔膜電弱點測試儀(yi)主(zhu)要用(yong)於(yu)鋰離(li)子電池(chi)隔膜、電容(rong)器(qi)用聚脂(zhi)薄(bo)膜、聚(ju)丙稀(xi)薄(bo)膜的(de)電弱點測試。
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HCRD-300計算機(ji)控制電弱點測試儀(yi)，精確檢(jian)測(ce)絕緣薄(bo)膜

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-07-24

型(xing)號：HCRD-300

瀏覽(lan)量(liang)：1465

計算機(ji)控制電弱點測試儀(yi)，精確檢(jian)測(ce)絕緣薄(bo)膜主(zhu)要應用(yong)於(yu)新能(neng)源汽(qi)車(che)用鋰離(li)子電池(chi)隔膜電氣(qi)絕緣(yuan)缺(que)陷檢測。新能(neng)源(yuan)塑(su)料(liao)薄(bo)膜鋰(li)電池(chi)隔膜電弱點測試儀(yi)主(zhu)要用(yong)於(yu)鋰離(li)子電池(chi)隔膜、電容(rong)器(qi)用聚脂(zhi)薄(bo)膜、聚(ju)丙稀(xi)薄(bo)膜的(de)電弱點測試。
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HCRD-300化(hua)工(gong)專用電弱點測試儀(yi)高(gao)效測定(ding)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)擊(ji)穿(chuan)

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-08-01

型(xing)號：HCRD-300

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化工(gong)專用電弱點測試儀(yi)高(gao)效測定(ding)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)擊(ji)穿(chuan)主(zhu)要應用(yong)於(yu)新能(neng)源汽(qi)車(che)用鋰離(li)子電池(chi)隔膜電氣(qi)絕緣(yuan)缺(que)陷檢測。新能(neng)源(yuan)塑(su)料(liao)薄(bo)膜鋰(li)電池(chi)隔膜電弱點測試儀(yi)主(zhu)要用(yong)於(yu)鋰離(li)子電池(chi)隔膜、電容(rong)器(qi)用聚脂(zhi)薄(bo)膜、聚(ju)丙稀(xi)薄(bo)膜的(de)電弱點測試。
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Huace-800華測-高(gao)溫絕緣電阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)專用儀(yi)器(qi)

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-07-29

型(xing)號：Huace-800

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華測-高(gao)溫絕緣電阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)專用儀(yi)器(qi)搭配Labview系統(tong)開(kai)發(fa)的Huacepro軟件(jian)，具備(bei)彈(dan)性的自(zi)定義功(gong)能(neng)，可(ke)進(jin)行電壓(ya)、電流(liu)、溫(wen)度(du)、時(shi)間(jian)等設(she)置，符合(he)絕(jue)緣材(cai)料(liao)與其(qi)它新(xin)材(cai)料(liao)測試(shi)多樣(yang)化的(de)需(xu)求(qiu)。
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低(di)壓漏電起(qi)痕/絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)測試(shi)儀(yi)

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-07-29

型(xing)號：

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低壓(ya)漏(lou)電起(qi)痕/絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)測試(shi)儀(yi)是(shi)在(zai)固體(ti)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)表面(mian)上(shang)，在(zai)規定(ding)尺(chi)寸(cun)（2mm×5mm）的鉑電極(ji)之(zhi)間(jian)，施加某(mou)壹電壓(ya)並(bing)定時(shi)（30S）定高度(du)（35mm）滴下規定(ding)液滴體(ti)積(ji)的汙(wu)染(ran)液體(ti)（0.1%NH4CL），用以(yi)評價固體(ti)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)表面(mian)在(zai)電場(chang)和汙(wu)染(ran)介質(zhi)聯合作(zuo)用(yong)下(xia)的耐受(shou)能(neng)力(li)，測定(ding)其(qi)相比電痕化(hua)指(zhi)數（CT1）和(he)耐(nai)電痕化(hua)指(zhi)數（PT1）。
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Huace1200G華測高(gao)溫絕緣電阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-07-29

型(xing)號：Huace1200G

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華測高(gao)溫絕緣電阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)采用自(zi)主開(kai)發(fa)的電子(zi)保護(hu)系(xi)統(tong)，提(ti)高(gao)了設備(bei)的(de)an全(quan)性；配備(bei)電壓(ya)、電流(liu)傳(chuan)感(gan)器以保證(zheng)試(shi)驗數據的(de)有效性。
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HCRD-300薄(bo)膜電弱點測試儀(yi)器(qi)

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2024-12-16

型(xing)號：HCRD-300

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薄(bo)膜電弱點測試儀(yi)器(qi)通過人(ren)機(ji)對話方式，本產(chan)品(pin)是(shi)根(gen)據IEC 60674-2:2009 電氣(qi)用塑(su)料(liao)薄(bo)膜第(di)2部(bu)分：試驗方法及(ji)其(qi)第(di)1次(ci)修正(zheng)（2001）和 GB/T13542-92《電氣(qi)用塑(su)料(liao)薄(bo)膜試(shi)驗方法》而設(she)計的高(gao)壓試驗裝置。主要用(yong)於(yu)電容(rong)器(qi)用聚脂(zhi)薄(bo)膜、聚(ju)丙稀(xi)薄(bo)膜的(de)電弱點測試。
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HCWP-1000高(gao)溫(wen)新材(cai)料(liao)檢測(ce)—高溫(wen)介電溫(wen)譜儀(yi)測(ce)試系統

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2024-06-04

型(xing)號：HCWP-1000

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高溫(wen)新(xin)材(cai)料(liao)檢測(ce)—高溫(wen)介電溫(wen)譜儀(yi)測(ce)試系統從(cong)專業角(jiao)度來(lai)說(shuo)，其(qi)實(shi)就是(shi)高溫(wen)介電溫(wen)譜測(ce)量(liang)系統(tong)。是(shi)為了滿(man)足(zu)材(cai)料(liao)在(zai)高(gao)溫(wen)環(huan)境(jing)下(xia)的(de)介(jie)電測(ce)量(liang)需求(qiu)而(er)設(she)計的。主(zhu)要用(yong)於(yu)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)在(zai)不(bu)同(tong)溫(wen)度不同(tong)頻(pin)率(lv)下(xia)的(de)電學(xue)測試(shi)。
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