華(hua)測HC9023觸屏(ping)操(cao)作(zuo)絕(jue)緣材(cai)料電阻評(ping)價(jia)平臺運用平(ping)行(xing)板法設計(ji)原(yuan)理測量(liang)。利(li)用特殊(shu)的(de)電阻測試(shi)系統(tong)，重(zhong)復(fu)性(xing)與穩定性(xing)好，提(ti)升(sheng)了(le)夾(jia)具的(de)抗(kang)幹(gan)擾(rao)能力(li)，同(tong)時大大提(ti)高精確(que)度,可(ke)應(ying)用於(yu)產(chan)品檢測以(yi)及新(xin)材料電學(xue)性(xing)能研究(jiu)等(deng)用途(tu)。

半(ban)導體(ti)封裝(zhuang)材(cai)料絕(jue)緣診(zhen)斷(duan)測試(shi)儀(yi)，是(shi)壹(yi)款(kuan)高壓(ya)絕(jue)緣診(zhen)斷(duan)儀(yi)器(qi)是(shi)基於(yu)電介質(zhi)介(jie)電響應(ying)理論，集(ji)介(jie)電響應(ying)測試(shi)與(yu)絕(jue)緣狀(zhuang)態評估(gu)及診(zhen)斷(duan)壹(yi)體(ti)的(de)綜(zong)合(he)絕(jue)緣分(fen)析系統(tong)。該儀(yi)器(qi)的(de)測試(shi)頻率(lv)範圍(wei)為(wei)1mHz-1kHz，且在(zai)低頻範圍(wei)內(nei)可以(yi)選(xuan)用快(kuai)速(su)測試(shi)方(fang)式(shi)，在(zai)保證(zheng)測試(shi)精(jing)度的(de)前(qian)提(ti)下(xia)，大幅(fu)減少(shao)實驗(yan)室測量(liang)時(shi)的(de)等(deng)待時(shi)間(jian)及現(xian)場(chang)測量(liang)的(de)停(ting)電時間(jian)。 絕(jue)緣診(zhen)斷(duan)測試(shi)儀(yi)/絕(jue)緣系統(tong)狀(zhuang)態評估(gu)與診(zhen)斷(duan)

絕(jue)緣材(cai)料電阻/評(ping)價(jia)平臺測試(shi)設(she)備運用平(ping)行(xing)板法設計(ji)原(yuan)理測量(liang)。利(li)用特殊(shu)的(de)電阻測試(shi)系統(tong)，重(zhong)復(fu)性(xing)與穩定性(xing)好，提(ti)升(sheng)了(le)夾(jia)具的(de)抗(kang)幹(gan)擾(rao)能力(li)，同(tong)時大大提(ti)高精確(que)度,可(ke)應(ying)用於(yu)產(chan)品檢測以(yi)及新(xin)材料電學(xue)性(xing)能研究(jiu)等(deng)用途(tu)。