半(ban)導體封裝材(cai)料絕緣診(zhen)斷(duan)測(ce)試(shi)儀

絕緣測(ce)試(shi)儀器(qi)  是(shi)壹(yi)款高壓(ya)絕緣診(zhen)斷(duan)儀(yi)器(qi)

半(ban)導體封裝材(cai)料絕緣診(zhen)斷(duan)測(ce)試(shi)儀產(chan)品描(miao)述

  FDS-2000是(shi)壹(yi)臺(tai)非常緊湊的(de)設備(bei)，需(xu)另配電腦進(jin)行(xing)操(cao)作。

   FDS-2000絕緣測(ce)試(shi)儀器(qi)  是(shi)壹(yi)款高壓(ya)絕緣診(zhen)斷(duan)儀(yi)器(qi)是(shi)壹(yi)款高壓(ya)絕緣診(zhen)斷(duan)儀(yi)器(qi)是(shi)基於電介(jie)質(zhi)介(jie)電響應(ying)理論，集介(jie)電響應(ying)測試(shi)與(yu)絕緣狀態(tai)評估(gu)及(ji)診(zhen)斷(duan)壹(yi)體的(de)綜(zong)合絕緣分(fen)析系(xi)統。該(gai)儀(yi)器(qi)的(de)測(ce)試(shi)頻(pin)率範圍為1mHz-1kHz，且在(zai)低頻(pin)範圍(wei)內(nei)可以選(xuan)用(yong)快速(su)測(ce)試(shi)方(fang)式(shi)，在(zai)保(bao)證測(ce)試(shi)精度(du)的(de)前提下(xia)，大(da)幅(fu)減少實(shi)驗室測(ce)量(liang)時的等(deng)待(dai)時間及現(xian)場(chang)測量(liang)的停(ting)電時間。

  FDS-2000絕緣診(zhen)斷(duan)分(fen)析儀需(xu)要(yao)配合電腦進(jin)行(xing)操(cao)作，用(yong)戶(hu)操作(zuo)界面清(qing)晰，直觀。用(yong)戶(hu)在(zai)輸入(ru)必(bi)要(yao)的(de)參數(shu)後(hou)，可以壹鍵得(de)到(dao)測(ce)試(shi)曲線(xian)及(ji)評估(gu)診(zhen)斷(duan)結(jie)果。

半(ban)導體封裝材(cai)料絕緣診(zhen)斷(duan)測(ce)試(shi)儀主(zhu)要(yao)功(gong)能(neng)

1.絕緣材(cai)料頻(pin)域介(jie)電響應(ying)測試(shi)

當(dang)前研(yan)究(jiu)中，溫度(du)、水分含(han)量(liang)、雜質(zhi)離子(zi)濃(nong)度(du)等(deng)因素對(dui)絕緣材(cai)料的(de)介(jie)電特性(xing)影(ying)響機(ji)理(li)的解釋(shi)並不(bu)完 善(shan)，因此需(xu)要(yao)合理(li)的介(jie)電響應(ying)特性(xing)仿(fang)真和(he)實(shi)驗分析。

2.絕緣系(xi)統狀態(tai)評估(gu)與(yu)診(zhen)斷(duan)

作(zuo)出(chu)設(she)備(bei)維(wei)護或(huo)換(huan)決定(ding)時，需(xu)要(yao)得(de)到(dao)足夠(gou)的絕緣狀態(tai)信息(xi)和(he)設(she)備(bei)的預(yu)期(qi)負(fu)載(zai)情況(kuang)。在(zai)絕緣材(cai)料、變(bian)壓(ya)器(qi)、發(fa)電機(ji)或(huo)電纜設(she)計壽命快到(dao)時，通過(guo)可靠(kao)的(de)絕緣診(zhen)斷(duan)和(he)負(fu)載(zai)管理(li)，額外(wai)增加數年運(yun)行(xing)時間可節省大(da)量(liang)資金。

3.絕緣系(xi)統在(zai)任意(yi)電壓(ya)激(ji)勵(li)下的介(jie)電響應(ying)測試(shi)

根(gen)據需(xu)要(yao)自(zi)定義(yi)輸(shu)出(chu)任(ren)意電壓(ya)波(bo)形(xing)激(ji)勵(li)，滿足對(dui)不(bu)同條件(jian)下(xia)不(bu)同絕緣材(cai)料不(bu)同方(fang)面(mian)的(de)測(ce)試(shi)需(xu)求，適應(ying)用(yong)戶(hu)需(xu)求。