可以(yi)評估因老(lao)化(hua)腐(fu)蝕(shi)現(xian)象(xiang)引(yin)起的(de)壽命(ming)及(ji)絕緣電阻劣化(hua)問(wen)題的(de)設備？

可(ke)以(yi)評估因(yin)老化(hua)腐(fu)蝕(shi)現(xian)象(xiang)引(yin)起的(de)壽命(ming)及(ji)絕緣電阻劣化(hua)問題的設備？

產品(pin)介紹(shao)：

面對材料(liao)越(yue)來(lai)越(yue)小型(xing)輕量(liang)及(ji)高密(mi)度封裝，因結露(lu)、吸(xi)濕(shi)、電場(chang)環(huan)境(jing)等(deng)因素造成的(de)絕緣不(bu)良現(xian)象(xiang)暨(ji)離(li)子遷移(yi)現(xian)象(xiang)日(ri)益突出，長(chang)期電化(hua)學(xue)腐蝕(shi)平(ping)臺，可高(gao)精度(du)連續(xu)試(shi)驗(yan)，高(gao)效簡便(bian)評估因老(lao)化(hua)腐(fu)蝕(shi)現(xian)象(xiang)引(yin)起的(de)壽命(ming)及(ji)絕緣電阻劣化(hua)相關(guan)問題(ti)。

試(shi)驗(yan)系統能(neng)夠模擬各(ge)類工業制品(pin)、零部(bu)件(jian)以(yi)及(ji)原材(cai)料的實際(ji)生(sheng)產(chan)、使用、儲存(cun)和運(yun)輸過(guo)程中(zhong)的(de)高(gao)壓(ya)伴隨(sui)著低(di)溫、高(gao)溫(wen)、潮濕(shi)、幹燥(zao)、高低(di)溫(wen)濕(shi)熱交(jiao)變、快速溫(wen)度(du)變化(hua)、溫(wen)度循環等環境(jing)因(yin)素的影(ying)響，以(yi)測試(shi)其(qi)功能(neng)、性(xing)能及(ji)壽命(ming)的(de)完(wan)整性和可(ke)靠性(xing)。

設備參數：