長(chang)期(qi)耐(nai)腐蝕(shi)老(lao)化試(shi)驗(yan)平臺/評估(gu)老(lao)化腐蝕現象(xiang)面對(dui)材(cai)料(liao)越(yue)來(lai)越(yue)小型(xing)輕量(liang)及高(gao)密度(du)封(feng)裝，因結露、吸濕、電場環境等因(yin)素(su)造成(cheng)的絕(jue)緣不(bu)良現象(xiang)暨離(li)子遷(qian)移現象(xiang)日益(yi)突出，長期(qi)電化學腐蝕(shi)平臺(tai)，可(ke)高(gao)的精(jing)度(du)連續(xu)試(shi)驗(yan)，高效簡(jian)便評估(gu)因老(lao)化腐蝕現象(xiang)引起的壽(shou)命(ming)及絕(jue)緣電(dian)阻(zu)劣化相關問題。

高(gao)溫(wen)高壓(ya)擊(ji)穿(chuan)強(qiang)度測(ce)試(shi)系(xi)統，能夠評估(gu)各類(lei)絕(jue)緣材(cai)料(liao)在(zai)高(gao)溫條(tiao)件(jian)下(xia)的電(dian)氣(qi)性(xing)能表現。采用(yong)立式(shi)壹(yi)體化結構，配(pei)備(bei)重(zhong)型(xing)萬向(xiang)滑(hua)輪和(he)觀察(cha)窗，既保證了設備(bei)穩定(ding)性(xing)，又(you)確(que)保(bao)了(le)操作便捷(jie)性(xing)與安全(quan)性(xing)。

華測(ce)HC9023觸屏操(cao)作絕(jue)緣材(cai)料(liao)電阻(zu)評價平(ping)臺運用(yong)平行(xing)板(ban)法設計(ji)原(yuan)理(li)測(ce)量。利用(yong)特殊的電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)系(xi)統，重(zhong)復性(xing)與穩(wen)定(ding)性(xing)好，提(ti)升(sheng)了夾(jia)具的抗(kang)幹擾能力，同(tong)時大大提高(gao)精(jing)確(que)度(du),可(ke)應用(yong)於產(chan)品(pin)檢測(ce)以及新(xin)材(cai)料(liao)電學性(xing)能研究(jiu)等用(yong)途(tu)。

絕(jue)緣材(cai)料(liao)高壓(ya)漏(lou)電(dian)起痕(hen)測(ce)試(shi)，PLC作(zuo)為主(zhu)控(kong)制系(xi)統，配(pei)合(he)電壓(ya)、電(dian)流(liu)傳感 器、高壓(ya)真(zhen)空(kong)斷路開(kai)關、高壓(ya)交(jiao)直(zhi)流(liu)變(bian)壓(ya)器元件(jian)構(gou)成(cheng)。

FDS 2000絕(jue)緣診(zhen)斷分析(xi)儀(yi)絕(jue)緣材(cai)料(liao)樣品(pin)介(jie)質響應測(ce)試(shi)是壹(yi)臺(tai)非常(chang)緊(jin)湊(cou)的設備(bei)，需(xu)另配(pei)電(dian)腦進(jin)行(xing)操(cao)作(zuo)。FDS2絕(jue)緣診(zhen)斷分析(xi)儀(yi)是基(ji)於(yu)電介(jie)質介(jie)電響應理(li)論，集介(jie)電響應測(ce)試(shi)與絕(jue)緣狀(zhuang)態(tai)評估(gu)及診(zhen)斷壹體的綜(zong)合(he)絕(jue)緣分(fen)析(xi)系(xi)統。該(gai)儀器的測(ce)試(shi)頻(pin)率範(fan)圍為1mHz-1kHz，且(qie)在(zai)低頻(pin)範(fan)圍內(nei)可(ke)以選(xuan)用(yong)快速測(ce)試(shi)方(fang)式，在(zai)保(bao)證測(ce)試(shi)精(jing)度(du)的前提下(xia)，大幅減少實驗(yan)室測(ce)量時的等待(dai)時間(jian)及現場測(ce)量的停電時間(jian)。

半導(dao)體封(feng)裝材料(liao)絕(jue)緣診(zhen)斷測(ce)試(shi)儀(yi)，是壹(yi)款(kuan)高壓(ya)絕(jue)緣診(zhen)斷儀器是基(ji)於(yu)電介(jie)質介(jie)電響應理(li)論，集介(jie)電響應測(ce)試(shi)與絕(jue)緣狀(zhuang)態(tai)評估(gu)及診(zhen)斷壹體的綜(zong)合(he)絕(jue)緣分(fen)析(xi)系(xi)統。該(gai)儀器的測(ce)試(shi)頻(pin)率範(fan)圍為1mHz-1kHz，且(qie)在(zai)低頻(pin)範(fan)圍內(nei)可(ke)以選(xuan)用(yong)快速測(ce)試(shi)方(fang)式，在(zai)保(bao)證測(ce)試(shi)精(jing)度(du)的前提下(xia)，大幅減少實驗(yan)室測(ce)量時的等待(dai)時間(jian)及現場測(ce)量的停電時間(jian)。 絕(jue)緣診(zhen)斷測(ce)試(shi)儀(yi)/絕(jue)緣系(xi)統狀(zhuang)態(tai)評估(gu)與診(zhen)斷

絕(jue)緣材(cai)料(liao)電阻(zu)/評價平(ping)臺測(ce)試(shi)設備(bei)運用(yong)平行(xing)板(ban)法設計(ji)原(yuan)理(li)測(ce)量。利用(yong)特殊的電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)系(xi)統，重(zhong)復性(xing)與穩(wen)定(ding)性(xing)好，提(ti)升(sheng)了夾(jia)具的抗(kang)幹擾能力，同(tong)時大大提高(gao)精(jing)確(que)度(du),可(ke)應用(yong)於產(chan)品(pin)檢測(ce)以及新(xin)材(cai)料(liao)電學性(xing)能研究(jiu)等用(yong)途(tu)。