HCRD-300L系列(lie)電(dian)容器薄(bo)膜(mo)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀(yi)是(shi)專為電(dian)容器用(yong)聚酯(zhi)（PET）而設計(ji)的(de)電(dian)氣(qi)性能(neng)檢(jian)測(ce)設(she)備。該儀(yi)器嚴格(ge)遵循 GB/T 13542.2《電(dian)氣(qi)用(yong)塑(su)料薄(bo)膜(mo)試(shi)驗方法(fa)》 及 IEC 60674-2 標(biao)準(zhun)，可識別(bie)薄(bo)膜(mo)中(zhong)因雜質、微(wei)孔(kong)、厚(hou)度不(bu)均(jun)或(huo)結(jie)構(gou)異常(chang)所(suo)導(dao)致(zhi)的(de)局(ju)部絕緣薄(bo)弱(ruo)區域（即(ji)“電(dian)弱(ruo)點”）。

HCRD-300L系列(lie)鋰(li)電(dian)池隔膜(mo)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀(yi)，主(zhu)要應用(yong)於新(xin)能(neng)源(yuan)汽車(che)用(yong)鋰(li)離子(zi)電(dian)池隔膜(mo)電(dian)氣(qi)絕(jue)緣(yuan)性能(neng)缺(que)陷檢測(ce)。采(cai)用(yong)計(ji)算機控(kong)制(zhi)，可靠性、耐用(yong)性和(he)穩定性。

HCRD-300鋰(li)電(dian)池隔膜(mo)檢(jian)測(ce)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀(yi)主(zhu)要應用(yong)於新(xin)能(neng)源(yuan)汽車(che)用(yong)鋰(li)離子(zi)電(dian)池隔膜(mo)電(dian)氣(qi)絕(jue)緣(yuan)缺陷檢測(ce)、鋰(li)離子(zi)電(dian)池隔膜(mo)、電(dian)容器用(yong)聚脂(zhi)薄(bo)膜(mo)、聚丙稀(xi)薄(bo)膜(mo)的(de)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)。采(cai)用(yong)計(ji)算機控(kong)制(zhi)，通過人機對話方式(shi)。

塑(su)料薄(bo)膜(mo)鋰(li)電(dian)池隔膜(mo)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀(yi)新(xin)能(neng)源(yuan)汽車(che)，主(zhu)要應用(yong)於新(xin)能(neng)源(yuan)汽車(che)用(yong)鋰(li)離子(zi)電(dian)池隔膜(mo)電(dian)氣(qi)絕(jue)緣(yuan)缺陷檢測(ce)。新(xin)能(neng)源(yuan)塑(su)料薄(bo)膜(mo)鋰(li)電(dian)池隔膜(mo)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀(yi)主(zhu)要用(yong)於鋰(li)離子(zi)電(dian)池隔膜(mo)、電(dian)容器用(yong)聚脂(zhi)薄(bo)膜(mo)、聚丙稀(xi)薄(bo)膜(mo)的(de)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)。該(gai)系列(lie)產(chan)品的(de)主要特(te)點(dian)是(shi)能(neng)根據(ju)薄(bo)膜(mo)的(de)使用(yong)寬度進行電(dian)弱(ruo)點的(de)測(ce)試(shi)，測(ce)試(shi)寬(kuan)度可根據(ju)用(yong)戶的(de)要求而設定，無須將(jiang)膜(mo)分(fen)切(qie)成小卷(juan)，免除(chu)了許多外(wai)來(lai)因素對測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)的(de)影響(xiang)。華(hua)測(ce)塑(su)料薄(bo)膜(mo)鋰(li)電(dian)池隔膜(mo)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀(yi)

HCRD-300型電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀(yi)，主(zhu)要應用(yong)於新(xin)能(neng)源(yuan)汽車(che)用(yong)鋰(li)離子(zi)電(dian)池隔膜(mo)電(dian)氣(qi)絕(jue)緣(yuan)缺陷檢測(ce)。鋰(li)離子(zi)塑(su)料薄(bo)膜(mo)隔膜(mo)用(yong)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀(yi)主(zhu)要用(yong)於鋰(li)離子(zi)電(dian)池隔膜(mo)、電(dian)容器用(yong)聚脂(zhi)薄(bo)膜(mo)、聚丙稀(xi)薄(bo)膜(mo)的(de)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)。該(gai)系列(lie)產(chan)品的(de)主要特(te)點(dian)是(shi)能(neng)根據(ju)薄(bo)膜(mo)的(de)使用(yong)寬度進行電(dian)弱(ruo)點的(de)測(ce)試(shi)，測(ce)試(shi)寬(kuan)度可根據(ju)用(yong)戶的(de)要求而設定，無須將(jiang)膜(mo)分(fen)切(qie)成小卷(juan)，免除(chu)了許多外(wai)來(lai)因素對測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)的(de)影響(xiang)。新(xin)能(neng)源(yuan)鋰(li)離子(zi)電(dian)池隔膜(mo)塑(su)料薄(bo)用(yong)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀(yi)

全自(zi)動(dong)控(kong)制(zhi)、電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀(yi)器HCRD-300： 全自(zi)動(dong)控(kong)制(zhi) 電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀(yi)器 新(xin)能(neng)源(yuan)電(dian)池是(shi)根據(ju)GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電(dian)氣(qi)用(yong)塑(su)料薄(bo)膜(mo)標(biao)準(zhun)要求設計(ji)的(de)高(gao)壓試(shi)驗裝置。主要用(yong)於電(dian)氣(qi)用(yong)聚氨脂(zhi)薄(bo)膜(mo)、塑(su)料薄(bo)膜(mo)、聚丙稀(xi)薄(bo)膜(mo)等(deng)絕(jue)緣(yuan)材料在(zai)給(gei)定直(zhi)流電(dian)壓(ya)下(xia)每(mei)平(ping)方米的(de)擊穿點數(shu)。本機(ji)采(cai)用(yong)計(ji)算機控(kong)制(zhi)，可對試驗過(guo)程(cheng)中(zhong)的(de)各(ge)種(zhong)數據(ju)進行快速、準(zhun)確(que)的(de)采集(ji)、處(chu)理(li)，並可存(cun)取、顯示(shi)、打(da)印 。

計(ji)算機控(kong)制(zhi)電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀(yi)器HCRD-300： 該儀器是(shi)根據(ju)薄(bo)膜(mo)的(de)使用(yong)寬度進行電(dian)弱(ruo)點的(de)測(ce)試(shi)，測(ce)試(shi)寬(kuan)度可根據(ju)用(yong)戶的(de)要求而設定，無須將(jiang)膜(mo)分(fen)切(qie)成小卷(juan)，免除(chu)了許多外(wai)來(lai)因素對測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)的(de)影響(xiang)。測(ce)試(shi)數(shu)據(ju)能(neng)真(zhen)實(shi)地(di)反映薄(bo)膜(mo)的(de)質(zhi)量(liang)水(shui)平(ping)。有(you)效地(di)保證了設備的可靠性、耐用(yong)性和(he)穩定性。測(ce)量(liang)準(zhun)確(que)，復(fu)現性好(hao)。測(ce)試(shi)過(guo)程(cheng)采(cai)用(yong)電(dian)子(zi)技術(shu)全自(zi)動(dong)控(kong)制(zhi)，遇(yu)到(dao)電(dian)弱(ruo)點時(shi)電(dian)壓(ya)切(qie)斷(duan)動作(zuo)迅(xun)速。擊(ji)穿電(dian)流在(zai)0～40mA連(lian)續(xu)可調，復(fu)現性好(hao)。

鋰(li)電(dian)隔膜(mo)在(zai)線檢測(ce)-電(dian)弱(ruo)點測(ce)試(shi)儀(yi)器：該儀器是(shi)根據(ju)GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電(dian)氣(qi)用(yong)塑(su)料薄(bo)膜(mo)標(biao)準(zhun)要求設計(ji)的(de)高(gao)壓試(shi)驗裝置。主要用(yong)於電(dian)氣(qi)用(yong)聚氨脂(zhi)薄(bo)膜(mo)、塑(su)料薄(bo)膜(mo)、聚丙稀(xi)薄(bo)膜(mo)等(deng)絕(jue)緣(yuan)材料在(zai)給(gei)定直(zhi)流電(dian)壓(ya)下(xia)每(mei)平(ping)方米的(de)擊穿點數(shu)。本機(ji)采(cai)用(yong)計(ji)算機控(kong)制(zhi)，可對試驗過(guo)程(cheng)中(zhong)的(de)各(ge)種(zhong)數據(ju)進行快速、準(zhun)確(que)的(de)采集(ji)、處(chu)理(li)，並可存(cun)取、顯示(shi)、打(da)印 。