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簡要(yao)描述:HCRD-300L系列(lie)電容器薄膜(mo)電弱點(dian)測(ce)試儀是專為電容器用(yong)聚酯(zhi)(PET)而設(she)計(ji)的電氣(qi)性(xing)能檢測(ce)設(she)備。該儀器嚴格(ge)遵(zun)循 GB/T 13542.2《電氣(qi)用(yong)塑料薄(bo)膜試驗(yan)方(fang)法(fa)》 及 IEC 60674-2 標準(zhun),可識別(bie)薄(bo)膜(mo)中(zhong)因(yin)雜質(zhi)、微孔(kong)、厚度不均(jun)或結構異常所(suo)導(dao)致的(de)局(ju)部(bu)絕緣(yuan)薄弱區(qu)域(yu)(即(ji)“電弱點(dian)")。
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Product Category相(xiang)關(guan)文章(zhang)
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| 品牌(pai) | 華(hua)測(ce)儀器 | 應用(yong)領域(yu) | 電子(zi)/電池,包(bao)裝(zhuang)/造紙/印(yin)刷,航空(kong)航天(tian),電氣(qi),綜(zong)合(he) |
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壹、產品(pin)介(jie)紹
HCRD-300L系列(lie)電容器薄膜(mo)電弱點(dian)測(ce)試儀是為電容器用(yong)聚酯(zhi)(PET)而設(she)計(ji)的電氣(qi)性(xing)能檢測(ce)設(she)備。該儀器嚴格(ge)遵(zun)循 GB/T 13542.2《電氣(qi)用(yong)塑料薄(bo)膜試驗(yan)方(fang)法(fa)》 及 IEC 60674-2 標準(zhun),可識別(bie)薄(bo)膜(mo)中(zhong)因(yin)雜質(zhi)、微孔(kong)、厚度不均(jun)或結構異常所(suo)導(dao)致的(de)局(ju)部(bu)絕緣(yuan)薄弱區(qu)域(yu)(即(ji)“電弱點(dian)")。
二、依據標(biao)準:
GB/T36294-2018 《鋰(li)離(li)子(zi)電池用(yong)聚烯(xi)烴(ting)隔膜(mo)》
IEC 60674-2:2009 《電氣(qi)用(yong)塑料薄(bo)膜 第2部(bu)分(fen):試驗(yan)方(fang)法(fa)》
GB/T13542-2009《電氣(qi)用(yong)塑料薄(bo)膜試驗(yan)方(fang)法(fa)》
三、產(chan)品(pin)優(you)勢(shi):
1.TVS瞬(shun)間防護技(ji)術(shu)
2.雙系統互鎖(suo)技(ji)術(shu)及隔離(li)技(ji)術(shu)
3.SPWM電子(zi)升(sheng)壓技(ji)術(shu)
4.低(di)通(tong)濾波電流(liu)監(jian)測(ce)技(ji)術(shu)
5.多級(ji)循環電壓(ya)采集(ji)技(ji)術(shu)
四(si)、產(chan)品參(can)數(shu):
1.試驗(yan)電壓(ya):DC:50V-6KV ,AC:50V-5KV
2.電壓(ya)測(ce)量精(jing)度:±2%
3.可放(fang)置(zhi)卷芯長度:30~800mm,30~1200mm(可定(ding)制(zhi))
4.輸(shu)入電壓(ya):220V
5.膜(mo)移(yi)動速(su)度:3-10m/min連續可調,產品(pin)收放(fang)卷(juan)配(pei)備張力控制(zhi)系統,勻速移(yi)動
6.測(ce)試允(yun)許卷(juan)外(wai)徑(jing)範(fan)圍(wei):可達(da)300mm
7.儀器設計(ji)時(shi)充分(fen)考(kao)慮了,有(you)接地(di)保護、高壓倉(cang)門開關(guan)操作(zuo)保護(hu)、
過壓保(bao)護、過流保(bao)護等。
8、功(gong)率(lv):1kW
五(wu)、軟(ruan)件(jian)功(gong)能
操作(zuo)系統:支持(chi)win系統,操作(zuo)人性(xing)化(hua);
實(shi)時(shi)監(jian)測(ce):在(zai)實驗(yan)過程(cheng)中(zhong)可以(yi)動態(tai)顯示電弱點(dian)數(shu)量、膜(mo)移(yi)動距離(li)等;
數(shu)據導(dao)出(chu):試驗(yan)結果方(fang)便導(dao)出(chu);
實(shi)驗報(bao)告:自定(ding)義報告名(ming)稱(cheng),並(bing)對(dui)實(shi)驗報告進(jin)行打(da)印(yin);
試驗(yan)方(fang)式:直流試驗(yan)和交(jiao)流(liu)試驗(yan)、進(jin)行選(xuan)擇(ze);
參(can)數(shu)設置(zhi):可以(yi)根據(ju)不同的(de)試驗(yan)方(fang)式及試驗(yan)方(fang)法(fa)靈活設置(zhi)所(suo)需的(de)不同參(can)數(shu)值;
校準(zhun)功(gong)能:可針(zhen)對設(she)備進(jin)行校(xiao)準(zhun)設(she)置(zhi);
支持(chi)標準:支持(chi)國標(biao)及IEC標準(zhun);
六、應用(yong)領域(yu)
電容器薄膜(mo)電弱點(dian)測(ce)試儀主要(yao)用(yong)於(yu)鋰離(li)子(zi)電池隔膜(mo)、電容器用(yong)聚脂(zhi)薄膜(mo)、聚(ju)丙(bing)稀薄膜(mo)。

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