華測塑(su)料(liao)薄(bo)膜鋰(li)電池隔(ge)膜電弱點(dian)測試儀

華(hua)測(ce)-鋰(li)離(li)子(zi)電池隔(ge)膜電弱點(dian)測試儀

壹(yi)、產(chan)品介紹(shao)：

  HCRD-300型電弱點(dian)測試儀，主要應(ying)用於新(xin)能(neng)源(yuan)汽車(che)用鋰(li)離(li)子(zi)電池隔(ge)膜電氣絕(jue)緣(yuan)缺(que)陷(xian)檢測。采用計算(suan)機控(kong)制(zhi)，通(tong)過(guo)人(ren)機對話(hua)方(fang)式(shi)，HCRD-300型電弱點(dian)測試儀是根(gen)據(ju)1EC 60674-2:2009 電氣用塑(su)料(liao)薄(bo)膜第2部(bu)分(fen):試驗(yan)方(fang)法(fa)及(ji)其第1次(ci)修正(zheng)和(he)GB/T13542-2009 《電氣用塑(su)料(liao)薄(bo)膜試驗(yan)方(fang)法(fa)》而設計(ji)的高(gao)壓(ya)試驗(yan)裝置。新(xin)能(neng)源(yuan)塑(su)料(liao)薄(bo)膜鋰(li)電池隔(ge)膜電弱點(dian)測試儀主(zhu)要用於鋰(li)離(li)子(zi)電池隔(ge)膜、電容器用聚脂(zhi)薄(bo)膜、聚(ju)丙(bing)稀薄(bo)膜的電弱點(dian)測試。該系(xi)列產(chan)品的主(zhu)要特點(dian)是能(neng)根(gen)據(ju)薄膜(mo)的使(shi)用寬度(du)進(jin)行電弱點(dian)的測(ce)試，測試寬度(du)可根(gen)據(ju)用戶的要求(qiu)而設定(ding)，無(wu)須(xu)將(jiang)膜(mo)分(fen)切成小(xiao)卷，免除了許多(duo)外(wai)來(lai)因素(su)對(dui)測(ce)試結果(guo)的影(ying)響。測試數據(ju)能(neng)真實(shi)地反映(ying)薄(bo)膜的質量(liang)水(shui)平(ping)。新(xin)能(neng)源(yuan)塑(su)料(liao)薄(bo)膜鋰(li)電池隔(ge)膜電弱點(dian)測試儀的主(zhu)要元器件均(jun)選(xuan)用(如歐姆(mu)龍(long)，，ABB等(deng))，有效(xiao)地保(bao)證(zheng)了設備(bei)的可靠(kao)性(xing)、耐(nai)用性和穩(wen)定(ding)性(xing)。測(ce)量準(zhun)確，復現(xian)性(xing)好。測(ce)試過(guo)程采用電子(zi)技術(shu)全自(zi)動控(kong)制(zhi)，遇到(dao)電弱點(dian)時電壓(ya)切斷動(dong)作迅(xun)速(su)。擊穿電流在(zai)0~40mA連(lian)續可調，復現(xian)性(xing)好。本機具備(bei)多重(zhong)保(bao)護(hu)功(gong)能(neng)，充(chong)分(fen)考慮了操作人(ren)員(yuan)及(ji)設備(bei)的性(xing)。如過(guo)壓(ya)、過(guo)流、接(jie)地保(bao)護(hu)，試驗(yan)平(ping)臺(tai)門開啟保(bao)護(hu)。

二、依據(ju)標準(zhun)：

三(san)、設(she)備(bei)優勢(shi)：

1、TVS瞬(shun)間(jian)抑(yi)制(zhi)防(fang)護(hu)技(ji)術(shu):

電弱點(dian)測(ce)試儀大(da)都(dou)采用的光(guang)耦(ou)隔(ge)離(li)方(fang)式(shi)，但(dan)光(guang)耦(ou)與(yu)隔(ge)離(li)無(wu)非(fei)是提(ti)高儀器的采(cai)集(ji)的抗擾(rao)處理，對(dui)於(yu)擊穿放電過(guo)程中的浪(lang)湧(yong)對控(kong)制(zhi)系(xi)統(tong)的防(fang)護(hu)起(qi)不到(dao)任(ren)何作用。

2、方(fang)便的試驗(yan)方(fang)式(shi):

本試驗(yan)儀器輸入(ru)交流電壓(ya)與直(zhi)流電壓(ya)，試驗(yan)過(guo)程通(tong)過(guo)設備(bei)自帶(dai)的工(gong)控(kong)機進行控(kong)制(zhi)。實(shi)時觀測(ce)電弱點(dian)數量(liang)，試驗(yan)樣(yang)品轉(zhuan)速(su)與長(chang)度(du)、試驗(yan)電壓(ya)與試驗(yan)電流等(deng)參(can)數。

3、伺(si)服電機配合(he)編碼(ma)器同(tong)步運(yun)行保(bao)證(zheng)精(jing)確速(su)度(du)控(kong)制(zhi):

本試驗(yan)儀器采用伺(si)服電機控(kong)制(zhi)收(shou)卷速(su)度(du)。伺(si)服電機程序(xu)上采用閉環控(kong)制(zhi)，同(tong)時配(pei)合(he)數字編(bian)碼(ma)器相互(hu)驗(yan)證，精確速(su)度(du)控(kong)制(zhi)。

4、雙(shuang)系(xi)統(tong)互鎖(suo)技(ji)術(shu)及(ji)隔(ge)離(li)屏蔽技(ji)術:

采(cai)用雙(shuang)系(xi)統(tong)互鎖(suo)技(ji)術(shu)應(ying)用於電弱點(dian)測試儀器，華測(ce)生(sheng)產的電弱點(dian)測試儀器不僅具備(bei)過(guo)壓(ya)、過(guo)流保(bao)護(hu)系(xi)統(tong)，它的雙(shuang)系(xi)統(tong)互鎖(suo)機制(zhi)，當(dang)任何元器件出(chu)現(xian)問(wen)題(ti)或(huo)單系(xi)統(tong)出現(xian)故(gu)障(zhang)時(shi)，將(jiang)瞬間切斷高(gao)壓(ya)。技術(shu)，將(jiang)起(qi)到對(dui)控(kong)制(zhi)系(xi)統(tong)的防(fang)護(hu)。

5、SPM電子(zi)升壓(ya)技術(shu)：

設(she)備(bei)大都(dou)采(cai)用SPWM電子(zi)升壓(ya)技術(shu)這(zhe)-技術(shu)具有升壓(ya)速(su)度(du)平(ping)穩(wen)，精度(du)高(gao)。便於(yu)維(wei)護(hu)等(deng)優點(dian)是調(tiao)壓(ya)器wufabini的。

6、氣(qi)脹(zhang)軸安裝整圈周膜：

采(cai)用氣脹(zhang)軸安裝整圈膜安裝方(fang)便，優(you)勢(shi)是可實(shi)現(xian)放圈與收(shou)圈過(guo)程中不產(chan)生(sheng)偏向等(deng)。

7、阻(zu)尼裝置：

華(hua)測(ce)自主(zhu)開發的尼(ni)阻(zu)技術(shu)可防(fang)止運(yun)動慣量(liang)所(suo)產(chan)生(sheng)的膜(mo)移(yi)動過(guo)程中的松(song)馳(chi)現(xian)象。

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