測試(shi)系(xi)統(tong) 可(ke)擴(kuo)展(zhan)型(xing)鐵(tie)電分析(xi)儀(yi)

HuaceFE-3000測試(shi)系(xi)統(tong) 可(ke)擴(kuo)展(zhan)型(xing)鐵(tie)電分析(xi)儀(yi)

測試(shi)系(xi)統(tong) 可(ke)擴(kuo)展(zhan)型(xing)鐵(tie)電分析(xi)儀(yi)具有寬(kuan)頻(pin)率響應(ying)範(fan)圍(wei)及寬測試(shi)電(dian)壓範圍(wei)，性(xing)價(jia)比非(fei)常(chang)高(gao)，滿足(zu)了用(yong)戶(hu)追求(qiu)高性(xing)價(jia)的(de)需求(qiu)。主機(ji)內(nei)置電壓(ya)檔位(wei)有±10V，±20V，±100V，±200V可(ke)選(xuan)。在±200V的(de)內(nei)置電壓(ya)下，電(dian)滯(zhi)回線(xian)測試(shi)頻(pin)率達到(dao)5kHz；此(ci)系(xi)統(tong)還(hai)可外(wai)部(bu)擴(kuo)展(zhan)外(wai)部(bu)高(gao)電(dian)壓(ya)到(dao)4kV和(he)10kV，也(ye)可(ke)加(jia)載選件(jian)實現(xian)壓(ya)電(dian)、熱(re)釋電(dian)、寬(kuan)頻(pin)介(jie)電、TSDC等功能。系(xi)統(tong)包(bao)含(han)HuacePro基(ji)本鐵(tie)電管(guan)理(li)測試(shi)軟(ruan)件(jian)。此外(wai)還(hai)可外(wai)部(bu)增(zeng)加(jia)高(gao)低溫裝置，進(jin)行高溫低環(huan)境(jing)下電學(xue)性(xing)能(neng)的(de)特性(xing)測量(liang)， HuaceTY在(zai)不改變樣品(pin)連(lian)接(jie)的(de)情(qing)況(kuang)下可執(zhi)行電滯回線(xian)，脈(mai)沖，漏電流(liu)，IV和(he)CV測試(shi)，也(ye)可(ke)加(jia)載選件(jian)實現(xian)壓(ya)電(dian)、熱(re)釋電(dian)、磁(ci)電(dian)測試(shi)和(he)晶體管特(te)性(xing)測試(shi)功能。

可擴(kuo)展(zhan)型(xing)鐵(tie)電分析(xi)儀(yi)內(nei)置完整(zheng)的(de)專用(yong)工(gong)控(kong)計(ji)算(suan)機(ji)主機(ji)、測試(shi)版(ban)路(lu)、運算(suan)放(fang)大(da)器(qi)、數據處理(li)單元(yuan)等，包(bao)括(kuo)專用(yong)工(gong)控(kong)計(ji)算(suan)機(ji)主板、CPU(i3 或(huo)更高)、RAM(4G 或(huo)更大)、硬(ying)盤(pan)(250G 或(huo)更大)、網(wang)卡、USB 接(jie)口、DVD 光驅(qu)、 VGA 接(jie)口、預裝 Windows 7 操作(zuo)系(xi)統(tong)、鐵(tie)電分析(xi)儀(yi)、介電(dian)譜、電阻譜、TSDC、熱(re)釋電(dian)等專用(yong)測試(shi)軟(ruan)件(jian)等。

自由(you)組(zu)合(he)可構(gou)成(cheng)強(qiang)大的(de)測試(shi)系(xi)統(tong)

HuaceFE-3000鐵(tie)電系(xi)統(tong)主(zhu)機(ji)優勢在於(yu)他易於(yu)擴(kuo)展(zhan)、實(shi)用(yong)性(xing)，軟(ruan)件(jian)系(xi)統(tong)兼容(rong)目(mu)前(qian)主(zhu)流(liu)品(pin)牌，軟(ruan)件(jian)無縫切(qie)換(huan)。為(wei)用(yong)戶(hu)降(jiang)低(di)成(cheng)本。

█ 介電(dian)測試(shi)分析(xi)模(mo)塊

█ 熱(re)激(ji)發極(ji)化電(dian)流(liu)測試(shi)TSDC

█ 擊穿電壓測試(shi)

█ 高壓(ya)極(ji)化

█ 絕緣電阻測試(shi)

█ 四(si)探針測試(shi)

█ 壓電(dian)性(xing)能(neng)測試(shi)

█ 鐵(tie)電參(can)數測試(shi)

█ 熱(re)釋電(dian)性(xing)能(neng)測試(shi)

█ 居裏(li)溫度測試(shi)

實驗(yan)數據

HuaceFE-3000測試(shi)系(xi)統(tong)由華測儀(yi)器(qi)多(duo)位(wei)工(gong)程(cheng)師多(duo)年開發(fa)，其具有測試(shi)功能，設備較(jiao)大測試(shi)頻(pin)率可達(da)1MHz，40M的(de)高速采樣速度。測試(shi)功能上(shang)也(ye)增(zeng)加(jia)了(le)介電溫譜、電(dian)卡(ka)測試(shi)、TSDC、電(dian)阻等測量(liang)功能。

儀(yi)器(qi)配(pei)置：

HuaceFE-3000測試(shi)系(xi)統(tong)在±500V內(nei)置電壓(ya)下，電(dian)滯(zhi)回線(xian)測試(shi)頻(pin)率可高(gao)達(da)500KHz；此系(xi)統(tong)包(bao)含(han)HuacePro基(ji)本鐵(tie)電管(guan)理(li)測試(shi)軟(ruan)件(jian)。此外(wai)還(hai)可外(wai)部(bu)擴(kuo)展(zhan)電(dian)壓(ya)到(dao)4kV、10kV、20kV，Huace FE主(zhu)機(ji)在不改變樣品(pin)連(lian)接(jie)的(de)情(qing)況(kuang)下可執(zhi)行電滯回線(xian)，脈(mai)沖，漏電流(liu)，IV、CV、擊穿測試(shi)，也(ye)可(ke)加(jia)載選件(jian)實現(xian)壓(ya)電(dian)、熱(re)釋電(dian)、TSDC和(he)電(dian)卡、阻抗分析(xi)、電(dian)阻測量(liang)等特(te)性(xing)測試(shi)功能。內(nei)置完整(zheng)的(de)專用(yong)工(gong)控(kong)計(ji)算(suan)機(ji)主機(ji)、測試(shi)版(ban)路(lu)、運算(suan)放(fang)大(da)器(qi)、數據處理(li)單元(yuan)等，包(bao)括(kuo)專用(yong)工(gong)控(kong)計(ji)算(suan)機(ji)主板、CPU(i5 或(huo)以(yi)上(shang))、RAM(8G 或(huo)以(yi)上(shang))、固(gu)態(tai)硬(ying)盤(pan)(250G 或(huo)以(yi)上(shang))、網(wang)卡、USB 接(jie)口、 VGA 接(jie)口、預裝 Windows 7操作(zuo)系(xi)統(tong)、鐵(tie)電分析(xi)儀(yi)專用(yong)測試(shi)軟(ruan)件(jian)等。