北京華測(ce)鐵(tie)電(dian)壓(ya)電(dian)分(fen)析儀、鐵(tie)電(dian)測(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)

Huace FE系列鐵(tie)電(dian)測(ce)試(shi)系統

壹(yi)、鐵(tie)電(dian)測(ce)試(shi)系統儀(yi)器(qi)配置

Huace FE系列鐵(tie)電(dian)測(ce)試(shi)系統在±500V內(nei)置電(dian)壓(ya)下，電(dian)滯回線測(ce)試(shi)頻(pin)率可高達(da)500KHz；此(ci)外(wai)還可外(wai)部(bu)擴(kuo)展(zhan)電(dian)壓(ya)到4kV、10kV、20kV，Huace FE主(zhu)機(ji)在不(bu)改(gai)變(bian)樣(yang)品連(lian)接(jie)的情(qing)況(kuang)下(xia)可執行(xing)電(dian)滯回線，脈(mai)沖，漏(lou)電(dian)流，IV、CV、擊(ji)穿測(ce)試(shi)，也(ye)可加載選件實現(xian)壓(ya)電(dian)、熱釋電(dian)、TSDC和電(dian)卡(ka)、阻(zu)抗(kang)分(fen)析、電(dian)阻測(ce)量等特性測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)。內(nei)置完整的專(zhuan)用(yong)工(gong)控計算機(ji)主(zhu)機(ji)、測(ce)試(shi)版(ban)路(lu)、運算(suan)放大(da)器(qi)、數據處理單(dan)元等(deng)，包(bao)括(kuo)專(zhuan)用(yong)工(gong)控計算機(ji)主(zhu)板、CPU(i5 或(huo)以上)、RAM(8G 或(huo)以上)、固態硬(ying)盤(pan)(250G 或(huo)以上)、網(wang)卡(ka)、USB 接(jie)口(kou)、 VGA 接(jie)口(kou)、預裝 Windows 7操作系統、鐵(tie)電(dian)分(fen)析儀專(zhuan)用(yong)測(ce)試(shi)軟(ruan)件等。

模塊(kuai)化(hua)設計的Huace FE-2000具有擴(kuo)展(zhan)性。

FE模塊(kuai)-鐵(tie)電(dian)標準(zhun)測(ce)試(shi)；

MR模塊(kuai)-磁阻和鐵(tie)性材(cai)料測(ce)試(shi)；

RX模塊(kuai)-弛豫(yu)電(dian)流測(ce)試(shi)；

DR模塊(kuai)-自放電(dian)測(ce)試(shi)。

二、鐵(tie)電(dian)測(ce)試(shi)系統產(chan)品優(you)勢

三、應(ying)用領(ling)域(yu)

華測(ce)儀(yi)器(qi)壹直堅持(chi)以用(yong)戶為中(zhong)心(xin)，始(shi)終專(zhuan)註於(yu)材(cai)料電(dian)檢(jian)測(ce)以(yi)及(ji)電(dian)氣自動化(hua)設備研(yan)發與(yu)制(zhi)造。可按(an)用(yong)戶要求訂(ding)制(zhi)非(fei)標產品。

北(bei)京華測(ce)鐵(tie)電(dian)壓(ya)電(dian)分(fen)析儀、鐵(tie)電(dian)測(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)

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