華測-低(di)壓漏電起(qi)痕測試儀(yi)器

壹(yi)、產品介(jie)紹

華測-低(di)壓漏電起(qi)痕測試儀(yi)是(shi)在固體(ti)絕(jue)緣材料表(biao)面(mian)上(shang)，在規定尺寸(cun)（2mm×5mm）的(de)鉑(bo)電極(ji)之間(jian)，施(shi)加某壹(yi)電壓並定時（30S）定高(gao)度（35mm）滴(di)下(xia)規定液滴(di)體(ti)積(ji)的(de)汙染(ran)液體(ti)（0.1%NH4CL），用以評(ping)價固體(ti)絕(jue)緣材料表(biao)面(mian)在電場和汙染(ran)介質聯合作(zuo)用下(xia)的(de)耐受(shou)能(neng)力(li)，測定其相(xiang)比(bi)電痕化指(zhi)數(shu)（CT1）和(he)耐電痕化指(zhi)數(shu)（PT1）。

二(er)、產品使(shi)用範(fan)圍

華測-低(di)壓漏電起(qi)痕測試儀(yi)適用於照(zhao)明設備(bei)、低(di)壓電器、家(jia)用電器、機(ji)床(chuang)電器、電機(ji)、電動工具(ju)、電子儀(yi)器、電工儀(yi)表(biao)、信息技(ji)術(shu)設備(bei)的(de)研(yan)究(jiu)、生產和(he)質(zhi)檢(jian)部門，也適用於絕(jue)緣材料、工(gong)程(cheng)塑料、電氣連(lian)接(jie)件、輔件行(xing)業(ye)也適用於電氣能(neng)力驗(yan)證計劃與(yu)技術(shu)研討(tao)會中(zhong)的(de)有(you)關(guan)CHEARI-PTO03耐電痕化指(zhi)數(shu)測(ce)試(shi)。

三、設備(bei)參數

控(kong)制系(xi)統：PLC+觸摸(mo)屏控(kong)制(zhi)系(xi)統。反應(ying)快(kuai)等優(you)點；

電極(ji)材料：鉑(bo)金，電極(ji)接桿-紫(zi)銅(tong)或(huo)黃銅(tong)或(huo)純金，電極(ji)接桿-白銀(yin)；

電極(ji)尺寸(cun)：（2mm±0.1mm)×(5mm±0.1mm)×(40mm±5mm)；

電極(ji)距離(li)：4.0mm±0.01mm，夾(jia)角(jiao)60°；

電極(ji)壓力：1.00N±0.001N；

試(shi)液電阻：A液0.1%23℃，3.95±0.05Ωm，B液1.98±0.05Qm；

液(ye)滴(di)體(ti)積(ji)：20滴(di)0.380g~0.480g，50滴(di)0.997g~1.147g（可(ke)微(wei)調(tiao)節(jie)）；

液(ye)滴(di)高(gao)度：35mm±5mm（可(ke)調(tiao)節(jie)）；

液(ye)滴(di)時間(jian)：30s±0.1s（優(you)於標準）（可(ke)預(yu)置(zhi)調(tiao)節(jie)），50滴(di)時間(jian)24.5mint2min；

液(ye)滴(di)滴(di)數：1~9999（可(ke)預(yu)置(zhi)）；

試(shi)驗(yan)風(feng)速：0.2m/s（新(xin)標準）；

試(shi)驗(yan)電壓：100V~600V（25V分度，可(ke)調(tiao)節(jie)）；

電源壓降(jiang)：1.0A±0.1A時8%；

起(qi)痕判斷：0.50A±10%，2.00s±10%；

外(wai)形尺寸(cun)：寬1120mm×深(shen)520mm×高(gao)1350mm，排氣孔徑100mm；

測(ce)量(liang)範(fan)圍：100-700V50-60Hz；

電壓：220V50-60Hz；

四(si)、PTI(耐電痕化)的(de)測(ce)定方(fang)法
1、在材料規(gui)範(fan)標準或(huo)電工設備(bei)規(gui)範(fan)的(de)標準中(zhong)，或(huo)其他標準中(zhong)，如果只(zhi)需(xu)要壹(yi)個(ge)耐電痕化試驗(yan)時，應(ying)按(an)1進(jin)行試驗(yan)，但試(shi)驗(yan)只(zhi)在壹(yi)個(ge)規定的(de)電壓下(xia)進(jin)行。規定數量(liang)的(de)試(shi)樣(yang)應經(jing)受住50滴(di)而不(bu)發(fa)生破(po)壞。

2、建(jian)議采(cai)用五個(ge)試樣(yang)。在特殊情況下(xia)，可(ke)規定少壹(yi)些(xie)試樣(yang)。
3、優(you)先(xian)采(cai)用的(de)試(shi)驗(yan)電壓為(wei)：175V，250V，300V，375V，或(huo)500V。耐電痕化指(zhi)數(shu)縮(suo)寫(xie)為(wei)PTI。

華測-低(di)壓漏電起(qi)痕測試儀(yi)器

華測-低(di)壓漏電起(qi)痕測試儀(yi)器