電阻率(lv)的(de)測試裝置(zhi)

  在(zai)材(cai)料(liao)的生產、研發、測試中(zhong)往(wang)往(wang)面(mian)臨(lin)著(zhe)材(cai)料電阻及電阻率(lv)的(de)測試，市(shi)場上(shang)的電阻率(lv)測(ce)試裝置(zhi)千(qian)篇壹律(lv)，但(dan)是針(zhen)對(dui)技術(shu)的(de)角度來看(kan)待這種(zhong)電阻率(lv)的(de)測試裝置(zhi)時(shi)，卻(que)有著(zhe)失(shi)之(zhi)毫厘(li)差之(zhi)千裏的(de)差距(ju)。不管是在(zai)常(chang)溫(wen)或(huo)者高溫(wen)環(huan)境(jing)下(xia)測量電阻率(lv)，首(shou)先解決的(de)就是外界幹(gan)擾(rao)問題(ti)。

        即使市(shi)場上(shang)有著(zhe)各(ge)種各(ge)樣的(de)電阻率(lv)測(ce)試裝置(zhi)，但(dan)是大(da)多(duo)電阻率(lv)測(ce)試裝置(zhi)當(dang)電阻值達到(dao)10e10Ω時(shi)，所(suo)測(ce)量，的值準(zhun)確(que)度較(jiao)低，包(bao)含(han)太多(duo)幹(gan)擾(rao)值。低阻值的材(cai)料(liao)電壓(ya)輸(shu)出(chu)時(shi)電流(liu)相對幹(gan)擾(rao)電流(liu)較(jiao)大(da)，幹(gan)擾(rao)電流(liu)可(ke)以忽(hu)略；當材(cai)料(liao)電阻較(jiao)大(da)，材(cai)料(liao)兩端輸(shu)入(ru)電壓(ya)時(shi)，電流(liu)相對幹(gan)擾(rao)電流(liu)而言(yan)相(xiang)差不大(da)，所(suo)以(yi)當測量(liang)高阻值的材(cai)料(liao)時(shi)組(zu)成測試線路(lu)的(de)材(cai)料(liao)必(bi)須(xu)采用(yong)高阻值的材(cai)料(liao)，市(shi)場上(shang)大(da)多(duo)達不到這個(ge)要求(qiu)。

       同時(shi)，市(shi)場上(shang)測量電阻的(de)設備(bei)大(da)多(duo)采用(yong)伏(fu)安(an)法，在(zai)伏(fu)安(an)法中(zhong)重(zhong)要的(de)環節莫過(guo)於壹個(ge)的電流(liu)表，其(qi)次(ci)才是電壓(ya)源。華測生產的Huace-300系列(lie)表面體積(ji)電阻率(lv)測(ce)試儀采用(yong)了電流(liu)采集芯(xin)片(pian)、高穩定度的電壓(ya)源，和的屏(ping)蔽(bi)線(xian)路(lu)。使得(de)屏蔽(bi)效果較(jiao)之(zhi)前的同類測試設備(bei)大(da)大(da)提(ti)高。同時(shi)采用(yong)數(shu)字(zi)化(hua)的(de)處(chu)理(li)方(fang)式(shi)，用熒(ying)光(guang)屏(ping)取代(dai)以(yi)往(wang)的(de)數(shu)碼管，可(ke)同時(shi)直(zhi)接(jie)顯(xian)示電阻值、電流(liu)值、電阻率(lv)值。而且(qie)設備(bei)也可(ke)用於測試微電流(liu)。配置(zhi)不同的測(ce)試夾(jia)具，可(ke)測量固體材料(liao)、液體(ti)材(cai)料(liao)、膏體材(cai)料、粉體材料(liao)。

電阻率(lv)的(de)定義(yi)：

在(zai)溫(wen)度壹定(ding)的(de)情(qing)況下(xia)，有公(gong)式(shi)R=ρl/s其(qi)中(zhong)的(de)ρ就是電阻率(lv)，l為材料(liao)的長(chang)度， S為面積(ji)。可(ke)以看(kan)出(chu)，材料(liao)的電阻大(da)小與材料的長(chang)度成正比(bi)，而(er)與其(qi)截(jie)面(mian)積(ji)成反比。

電阻率(lv)（resistivity）是用(yong)來(lai)表示各(ge)種物質電阻特(te)性(xing)的物理(li)量(liang)。

在(zai)溫(wen)度壹定(ding)的(de)情(qing)況下(xia)，有公(gong)式(shi)

其(qi)中(zhong)的(de)ρ就是電阻率(lv)，L為材料(liao)的長(chang)度， S為面積(ji)。可(ke)以看(kan)出(chu)，材料(liao)的電阻大(da)小與材料的長(chang)度成正比(bi)，即(ji)在(zai)材(cai)料(liao)和橫(heng)截(jie)面(mian)積(ji)不變時(shi)，長(chang)度越長(chang)，材料(liao)電阻越大(da)：而(er)與材料橫(heng)截(jie)面(mian)積(ji)成反比，即(ji)在(zai)材(cai)料(liao)和長(chang)度不變時(shi)，橫(heng)截(jie)面(mian)積(ji)越大(da)，電阻越小。

由(you)上式(shi)可(ke)知電阻率(lv)的(de)定義(yi)為：

推導(dao)公(gong)式(shi)：

設備(bei)原(yuan)理(li)：

根據(ju)歐(ou)姆定(ding)律，被(bei)測電阻Rx等(deng)於施加(jia)電壓(ya)V除以通過(guo)的電流(liu)I。傳(chuan)統的(de)高阻計(ji)的(de)工作(zuo)原(yuan)理(li)是測(ce)量(liang)電壓(ya)V固定，通過(guo)測量(liang)流(liu)過(guo)取樣電阻的(de)電流(liu)I來得(de)到電阻值。從歐(ou)姆定(ding)律可(ke)以看(kan)出(chu)，由於電流(liu)I是與電阻成(cheng)反(fan)比，而不是成(cheng)正比(bi)，所(suo)以(yi)電阻的(de)顯(xian)示值是非線(xian)性的，即(ji)電阻無(wu)窮(qiong)大(da)時(shi)，電流(liu)為零(ling)，即(ji)表頭的零(ling)位處是∞，其(qi)附(fu)近(jin)的刻(ke)度非常(chang)密(mi)，分(fen)辨(bian)率(lv)很(hen)低整(zheng)個(ge)刻度是非線(xian)性的。又(you)由(you)於測量(liang)不同的電阻時(shi)，其(qi)電壓(ya)V也會(hui)有些變化(hua)，所(suo)以(yi)普(pu)通的高阻計(ji)是精度差、分(fen)辨(bian)率(lv)低。
Huace-300數字型表面體積(ji)電阻率(lv)測(ce)試儀是同(tong)時(shi)測(ce)出(chu)電阻兩端的(de)電壓(ya)V和流過(guo)電阻的(de)電流(liu)I，通過(guo)內部(bu)的(de)大(da)規(gui)模(mo)集成(cheng)電路(lu)完(wan)成(cheng)電壓(ya)除以電流(liu)的計(ji)算，然(ran)後把(ba)所(suo)得(de)到的(de)結(jie)果經(jing)過(guo)A/D轉換(huan)後以(yi)數字(zi)顯(xian)示出(chu)電阻值，即便(bian)是電阻兩端的(de)電壓(ya)V和流過(guo)電阻的(de)電流(liu)I是同(tong)時(shi)變化(hua)，其(qi)顯(xian)示的(de)電阻值不象普(pu)通高阻計(ji)那(na)樣因(yin)被(bei)測電壓(ya)V的變化(hua)或(huo)電流(liu)Ｉ的變化(hua)而(er)變，所(suo)以(yi)，即使測量(liang)電壓(ya)、被(bei)測量(liang)電阻、電源電壓(ya)等(deng)發生變化(hua)對(dui)其(qi)結(jie)果影響不大(da)，其(qi)測(ce)量(liang)精度很(hen)高 ，從理(li)論上(shang)講(jiang)其(qi)誤(wu)差可(ke)以做到(dao)零(ling)，而(er)實際誤(wu)差可(ke)以做到(dao)千(qian)分(fen)之(zhi)幾(ji)或(huo)萬分(fen)之(zhi)幾(ji)

設備(bei)優(you)勢(shi)：

本(ben)儀器(qi)既(ji)可(ke)測量高電阻，又(you)可(ke)測微電流(liu)。測量精度達到 1%。同時(shi)儀(yi)器(qi)體(ti)積(ji)小、重(zhong)量輕、本(ben)儀器(qi)具有精度高、顯示迅(xun)速(su)、性好(hao)穩定、讀(du)數方(fang)便(bian)等(deng)優(you)點(dian)。數字(zi)液晶(jing)直接(jie)顯(xian)示電阻值和電流(liu)值、電阻率(lv)值。量程(cheng)從(cong) 0.01×10e4Ω ～1×10e18 Ω，電流(liu)測量範圍(wei)為 2×10e-4 ～1×10e-16Ａ。測試電壓(ya)為10/50/100/250/500/1000V 任(ren)意(yi)可(ke)調。

技術(shu)參數：

典(dian)型應用：

●測量絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)電阻(率(lv))                               ●測(ce)量防(fang)靜電鞋(xie)、導(dao)電鞋(xie)的電阻值

●測量(liang)防(fang)靜電材(cai)料的電阻及電阻率(lv)                 ●光(guang)電二(er)極(ji)管(guan)暗(an)電流(liu)測    

●物理(li),光(guang)學(xue)和材料(liao)研究                                 ●高分(fen)子(zi)材(cai)料表面(mian)體(ti)積(ji)電阻率(lv)測(ce)定

符(fu)合(he)標(biao)準(zhun)：

GB/T 1410-2006 固(gu)體絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao) 體(ti)積(ji)電阻率(lv)和表面(mian)電阻率(lv)試驗(yan)方法(fa)

GB 12014 防(fang)靜電工作(zuo)服

GB/T 20991-2007 個(ge)體防(fang)護(hu)裝(zhuang)備(bei) 鞋(xie)的(de)測試方法

GB 4385-1995 防(fang)靜電鞋(xie)、導(dao)電鞋(xie)技術(shu)要(yao)求(qiu)  

GB 12158-2006 防(fang)止(zhi)靜電事(shi)故(gu)通用導(dao)則(ze)

GB 4655-2003 橡(xiang)膠工業(ye)靜電規(gui)程

GB/T 12703.4-2010 紡織(zhi)品(pin) 靜電的(de)評定 第4部(bu)分(fen) 電阻率(lv)

GB/T 12703.6-2010 紡(fang)織(zhi)品(pin) 靜電的(de)評定 第6部(bu)分(fen) 纖(xian)維(wei)泄(xie)漏(lou)電阻

GB 13348-2009 液體(ti)石(shi)油(you)產品靜電規(gui)程

GB/T 15738-2008 導(dao)電和抗靜電纖(xian)維(wei)增強(qiang)塑(su)料電阻率(lv)試驗(yan)方法(fa)

GB/T 18044-2008 地毯 靜電習性評(ping)價法(fa) 行(xing)走(zou)試驗(yan)

GB/T 18864-2002 硫化(hua)橡(xiang)膠(jiao) 工業(ye)用抗靜電和導(dao)電產品 電阻極(ji)限(xian)範圍(wei)

GB/T 22042-2008 服裝(zhuang) 防(fang)靜電 表(biao)面電阻率(lv)試驗(yan)方法(fa)

GB/T 22043-2008 服裝 防(fang)靜電 通(tong)過(guo)材料(liao)的(de)電阻(垂(chui)直(zhi)電阻)試驗(yan)方法(fa)

GB/T 24249-2009 防(fang)靜電潔(jie)凈(jing)織(zhi)物

GB 26539-2011 防(fang)靜電陶(tao)瓷(ci)磚(zhuan) Antistatic ceramic tiles

GB/T 26825-2011 抗(kang)靜電防(fang)腐膠

GB 50515-2010 導(dao)(防(fang))靜電地(di)面設計(ji)規(gui)範

GB 50611-2010 電子(zi)工程(cheng)防(fang)靜電設計(ji)規(gui)範

GJB 105-1998-Z 電子(zi)產品防(fang)靜電放(fang)電控(kong)制手(shou)冊(ce)

GJB 3007A-2009 防(fang)靜電工作(zuo)區技(ji)術(shu)要(yao)求(qiu)

GJB 5104-2004 無線(xian)電引(yin)信風帽用(yong)防(fang)靜電塗(tu)料及風帽(mao)靜電通(tong)用要求(qiu)