華(hua)測(ce)鐵電(dian)分析(xi)儀(yi)/變(bian)溫(wen)鐵電(dian)測(ce)試(shi)盒(he)

華(hua)測(ce)變溫(wen)鐵電(dian)測(ce)試(shi)盒(he)

壹(yi)、華(hua)測(ce)鐵電(dian)分析(xi)儀(yi)/變(bian)溫(wen)鐵電(dian)測(ce)試(shi)盒(he)產品介(jie)紹(shao)

高(gao)溫(wen)鐵電(dian)測(ce)試(shi)儀(yi)用(yong)於(yu)鐵電(dian)體的(de)鐵(tie)電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)量，可用(yong)於(yu)鐵電(dian)體的(de)科(ke)學(xue)研究(jiu)及近代物理(li)實驗(yan)中(zhong)的(de)固體(ti)物理(li)實驗(yan)以(yi)及(ji)工業化(hua)生(sheng)產鐵(tie)電(dian)存(cun)儲(chu)器的鐵電(dian)性(xing)能(neng)檢測(ce)中。本(ben)測(ce)試(shi)系(xi)統主(zhu)要包括(kuo)可編(bian)程信號(hao)源(yuan)、微(wei)電(dian)流放(fang)大器、積(ji)分(fen)器、放大倍數(shu)可編(bian)程放大器、模(mo)/數(shu)轉換器(qi)數(shu)/模轉(zhuan)化(hua)器(qi)、微(wei)機接口(kou)部(bu)分、微(wei)機和(he)應用(yong)軟件(jian)等(deng)部(bu)分組(zu)成(cheng)。

本(ben)測(ce)試(shi)系(xi)統采(cai)用(yong)虛地(di)模(mo)式(shi)測(ce)量電(dian)路(lu)，與傳統(tong)的(de)Sawyer-Tower模式相(xiang)比，此(ci)電(dian)路(lu)取(qu)消(xiao)了外(wai)接電(dian)容(rong)，可減(jian)小寄生(sheng)元(yuan)件(jian)的(de)影(ying)響(xiang)。此(ci)電(dian)路(lu)的測(ce)試(shi)精度僅(jin)取(qu)決(jue)於(yu)積(ji)分(fen)器積(ji)分(fen)電(dian)容(rong)的精度，減(jian)少(shao)了對測(ce)試(shi)的(de)影(ying)響(xiang)環(huan)節(jie)，比(bi)較(jiao)容(rong)易(yi)定標(biao)和(he)校準，並(bing)且能實現(xian)較(jiao)高(gao)的測(ce)量準確(que)度(du)，它(ta)不僅(jin)能(neng)畫(hua)出(chu)鐵(tie)電(dian)薄膜的電(dian)滯回線(xian)，還可以(yi)定(ding)量得(de)到鐵(tie)電(dian)薄膜材料的飽(bao)和(he)極(ji)化(hua)ps、剩(sheng)余極(ji)化(hua)Pr、矯(jiao)頑場(chang)Ec、漏電(dian)流Ik等(deng)參數，以(yi)及(ji)對鐵電(dian)薄膜材料鐵電(dian)疲勞(lao)性(xing)能(neng)、鐵(tie)電(dian)保持(chi)性(xing)能(neng)的(de)測(ce)試(shi)。。儀(yi)器(qi)采用壹(yi)體(ti)化(hua)設(she)計(ji)，實現(xian)測(ce)試(shi)結果全(quan)數(shu)字(zi)化(hua)，操(cao)作(zuo)簡(jian)單方(fang)便(bian)。

鐵(tie)電(dian)材料參數測(ce)試(shi)儀(yi)主(zhu)要是由正弦(xian)波、三(san)角(jiao)波、間(jian)歇三角波、梯(ti)形(xing)波發(fa)生(sheng)器(qi)及(ji)正、負(fu)矩形(xing)脈沖和(he)雙極(ji)性(xing)雙(shuang)脈沖發(fa)生(sheng)器(qi)外(wai)加鐵(tie)電(dian)材料電(dian)滯回線(xian)、I-V特性(xing)及(ji)開(kai)關特性(xing)測(ce)量電(dian)路(lu)構成(cheng)。適(shi)用(yong)於(yu)鐵電(dian)薄膜、鐵電(dian)體材(cai)料的電(dian)性(xing)能(neng)測(ce)量，可測(ce)量鐵(tie)電(dian)薄膜電(dian)滯回線(xian)、I-V特性(xing)及(ji)開(kai)關特性(xing)，可準確(que)地(di)測(ce)出具(ju)有非(fei)對稱電(dian)滯回線(xian)鐵電(dian)薄膜的Pr值。可測(ce)鐵電(dian)體材(cai)料的電(dian)滯回線(xian)及IV特(te)性(xing)。同(tong)時(shi)也(ye)可作(zuo)為(wei)壹臺(tai)通用(yong)信號(hao)發(fa)生(sheng)器(qi)、高(gao)壓信號(hao)發(fa)生(sheng)器(qi)使(shi)用(yong)。

二、華(hua)測(ce)鐵電(dian)分析(xi)儀(yi)/變(bian)溫(wen)鐵電(dian)測(ce)試(shi)盒(he)產品特點(dian)

l  電(dian)滯回線(xian)測(ce)量、鐵(tie)電(dian)材料的飽(bao)和(he)極(ji)化(hua)±Ps、剩(sheng)余極(ji)化(hua)±Pr、矯(jiao)頑場(chang)±Ec、電(dian)容(rong)量C等(deng)參數

l  鐵電(dian)疲勞(lao)性(xing)能(neng)測(ce)量

l  鐵(tie)電(dian)保持(chi)性(xing)能(neng)測(ce)量

l  電(dian)阻測(ce)量

l  漏電(dian)流測(ce)量

l  高(gao)精度三(san)維(wei)移動(dong)平臺(tai)

三、華(hua)測(ce)變溫(wen)鐵電(dian)測(ce)試(shi)盒(he)技術參數

1、電(dian)壓範圍：±30V（可擴展至±4KV）

2、輸(shu)出(chu)電(dian)流峰(feng)值：±1A

3、大負(fu)荷(he)電(dian)容(rong)：1μF

4、動(dong)態電(dian)滯回線(xian)測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)：0.001Hx～100kHz

5、鐵電(dian)材料漏電(dian)流的(de)測(ce)試(shi)：10pA～100mA

6、小脈沖寬(kuan)度(du)：25ns

7、上升時(shi)間(jian)：7ns

8、極(ji)化(hua)測(ce)試(shi)jing準到(dao)：10fC

9、塊體(ti)材(cai)料樣品盒可進行室溫(wen)～1200℃電(dian)滯回線(xian)測(ce)定

四(si)、公(gong)司簡(jian)介(jie)：

公(gong)司研(yan)發(fa)的(de)高壓絕(jue)緣診斷(duan)技術、動(dong)力電(dian)池(chi)隔(ge)膜檢測(ce)技術先(xian)後應用(yong)於(yu)比亞(ya)迪、寧德時(shi)代(dai)等(deng)企業。檢測(ce)儀器(qi)從(cong)儀器(qi)生(sheng)產、安(an)全防(fang)護、數(shu)據采(cai)集、通(tong)訊(xun)網絡(luo)實現(xian)到(dao)雲(yun)管理(li)系(xi)統，為(wei)用戶(hu)提供有競(jing)爭力(li)的系(xi)統級(ji)方(fang)案與服務(wu)，幫(bang)助(zhu)用戶(hu)在新(xin)材(cai)料研發(fa)與檢測(ce)獲得(de)成(cheng)功。我(wo)們(men)堅持(chi)聚焦(jiao)戰(zhan)略，對新材料檢測(ce)儀器(qi)、智(zhi)能(neng)裝備(bei)、高精度數(shu)據(ju)采集、系(xi)統集成(cheng)和(he)嵌入(ru)式控制(zhi)領(ling)域持續進行研發(fa)投(tou)入，以(yi)用(yong)戶(hu)需求(qiu)和(he)前(qian)沿(yan)技術驅動(dong)創(chuang)新(xin)，使(shi)公(gong)司始終處(chu)於(yu)行業前(qian)沿(yan)。我(wo)們(men)深信(xin)未來(lai)是壹個(ge)更(geng)加智(zhi)慧(hui)的世(shi)界，華(hua)測(ce)公(gong)司與合作(zuo)夥(huo)伴壹起(qi)，努(nu)力(li)研發(fa)更(geng)加高(gao)效的檢測(ce)系(xi)統以(yi)工(gong)業自動(dong)化(hua)設(she)備(bei)，推(tui)動(dong)中國新(xin)材(cai)料時(shi)代(dai)發(fa)展(zhan)的進程，推(tui)動(dong)世(shi)界的進步(bu)，並(bing)堅信世(shi)界因我(wo)們(men)而(er)不同(tong)。

公(gong)司主(zhu)營(ying)產品：

幾大系(xi)列：功能(neng)材(cai)料電(dian)學(xue)綜合測(ce)試(shi)系(xi)統、絕(jue)緣診斷(duan)測(ce)試(shi)系(xi)統、高(gao)低(di)溫(wen)介(jie)電(dian)溫(wen)譜測(ce)試(shi)儀(yi)、極(ji)化(hua)裝(zhuang)置與電(dian)源(yuan)、高壓放大器、PVDV薄(bo)膜極(ji)化(hua)、高(gao)低溫(wen)冷熱臺(tai)、鐵電(dian)壓電(dian)熱釋電(dian)測(ce)試(shi)儀(yi)、絕(jue)緣材料電(dian)學(xue)性(xing)能(neng)綜合測(ce)試(shi)平臺(tai)、電(dian)擊(ji)穿(chuan)強度試(shi)驗(yan)儀(yi)、耐電(dian)弧試(shi)驗(yan)儀(yi)、高壓漏電(dian)起(qi)痕測(ce)試(shi)儀(yi)、沖擊(ji)電(dian)壓試(shi)驗(yan)儀(yi)、儲(chu)能材料電(dian)學(xue)測(ce)控系(xi)統、壓電(dian)傳感器(qi)測(ce)控系(xi)統。