PLC系(xi)統(tong)、耐(nai)電弧(hu)試(shi)驗儀(yi)

PLC系(xi)統(tong)、耐(nai)電弧(hu)試(shi)驗儀(yi)

本儀器(qi)是(shi)在(zai)相距(ju)6.35mm的(de)兩鎢棒(bang)電極上，由間(jian)隙(xi)到(dao)連續(xu)施加(jia)12500Ｖ電(dian)壓(ya)和10～40mA工頻的(de)電弧電流(liu)，使(shi)試(shi)樣表面經(jing)受(shou)逐漸燃弧條(tiao)件，從(cong)而(er)較細地(di)分辨(bian)出材(cai)料的(de)耐(nai)電弧(hu)性(xing)，以(yi)從電弧(hu)產生(sheng)至(zhi)材(cai)料破(po)壞(huai)所(suo)經(jing)過(guo)的(de)全部時(shi)間作(zuo)為評定結果(guo)。

PLC系(xi)統(tong)、耐(nai)電弧(hu)試(shi)驗儀(yi)典型(xing)用戶(hu)：




符合(he)標準(zhun)：
●《GB/T 1411-2002 幹(gan)固(gu)體(ti)絕緣(yuan)材(cai)料 耐(nai)高電(dian)壓(ya)、小電(dian)流(liu)電(dian)弧放電(dian)的(de)試(shi)驗》
●ASTM D495-1999(2004) Standard Test Method for High-Voltage,Low-Current,Dry Arc Resistance of Solid E     lectrical Insulation》
● IEC 61621-1997 Dry,Solid Insulating Materials. Resistance Test to High-Voltage,Low-Current Arc
Discharges Materiaux Isolants Solides Secs. Essai De Resistance Aux Decharges A L′Arc Haute
Tension,Faible Courant First Edition》
●IPC-TM-650、JEC149、UL746A等(deng)試(shi)驗方(fang)法(fa)
儀器(qi)優勢(shi):

采用(yong)PLC系統(tong)，光電(dian)隔(ge)離、穩(wen)定；

瞬間(jian)抑制浪湧對(dui)控制系統(tong)的(de)沖擊(ji)
多級(ji)循(xun)環電壓(ya)采集(ji)技術、保(bao)證試(shi)驗測(ce)試(shi)精度(du)；

●多級(ji)循(xun)環采集(ji)技術：
  華測(ce)自主開發(fa)的(de)多級(ji)循(xun)環電壓(ya)采集(ji)方(fang)式，大大提高(gao)目前電(dian)弧(hu)試(shi)驗普(pu)遍(bian)采(cai)用手動及(ji)幹(gan)擾(rao)狀(zhuang)態(tai)下電壓(ya)及電(dian)流(liu)采(cai)集(ji)方(fang)式。
●低(di)通(tong)濾(lv)波監測(ce)技術:
材(cai)料耐(nai)電弧(hu)試(shi)驗在(zai)10-40mA電(dian)流下進行，電磁(ci)幹(gan)擾(rao)不(bu)僅(jin)影響(xiang)試(shi)驗精(jing)度(du)，同時(shi)也造(zao)成(cheng)通訊(xun)中斷等(deng)壹系(xi)列(lie)問(wen)題(ti)。
為好解決(jue)這(zhe)壹(yi)難題，華(hua)測(ce)將(jiang)低(di)通(tong)濾(lv)波技術在(zai)電弧(hu)試(shi)驗儀(yi)器(qi)運用(yong)。
●遠程技術：
  將(jiang)遠程技術在(zai)電弧(hu)試(shi)驗儀(yi)上(shang)應用(yong)，試(shi)驗人(ren)員(yuan)可遠距(ju)離控制，同時(shi)可通過(guo)互(hu)聯(lian)網進行在線診(zhen)斷、升(sheng)壓(ya)、維護(hu)等(deng)壹系(xi)列(lie)問(wen)題(ti)。

軟件(jian)功能(neng)：

●操(cao)作(zuo)系統(tong)：支(zhi)持(chi)XP，win7,win8系統(tong)，操(cao)作(zuo)人性(xing)化(hua)；
●數據導(dao)出：試(shi)驗結(jie)果(guo)方便(bian)導(dao)出。
●實驗(yan)報告：自定義報告名稱(cheng)，並(bing)對實驗報告進行打(da)印；
●試(shi)驗方(fang)式(shi)：手動(dong)試(shi)驗、自動試(shi)驗；
●試(shi)驗方(fang)法(fa)：IEC  ASTM多種(zhong)選擇；
●參數(shu)設置(zhi)：可以根(gen)據不(bu)同的(de)試(shi)驗方(fang)式(shi)及試(shi)驗方(fang)法(fa)靈活設置(zhi)所(suo)需的(de)不(bu)同參(can)數值(zhi)
●功能(neng)：可針(zhen)對(dui)設備進行設置(zhi)