漏電(dian)起(qi)痕(hen)試驗儀(yi)_第(di)(2)頁(ye)-北京華(hua)測試驗(yan)儀(yi)器有(you)限(xian)公司

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多通道(dao)電(dian)流矩(ju)陣(zhen)模(mo)塊鐵電(dian)分(fen)析(xi)儀(yi) 高壓(ya)功率放(fang)大器(qi) 塞(sai)貝克(ke)系(xi)數(shu)電(dian)阻(zu)測試儀(yi) 先(xian)進(jin)功能(neng)材料(liao)電(dian)測綜(zong)合(he)測試系(xi)統(tong)- 絕(jue)緣電(dian)阻(zu)劣化（離子(zi)遷移(yi)）評(ping)估系統(tong) 儲(chu)能新(xin)材料(liao)電(dian)學(xue)綜(zong)合(he)測試系(xi)統(tong) 半(ban)導(dao)體(ti)封裝(zhuang)材料(liao)真空(kong)探針臺(tai) 空(kong)間(jian)電(dian)荷(he)測試系(xi)統(tong) 電(dian)容器溫度特性評估系統(tong) 高(gao)頻(pin)高壓(ya)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)、介(jie)電(dian) 多通道(dao)極(ji)化(hua)裝(zhuang)置絕緣電(dian)阻(zu)率測試儀(yi) 高低溫冷熱(re)臺測試系(xi)統(tong) 50點(dian)耐壓(ya)測試儀(yi) 電(dian)壓(ya)擊(ji)穿(chuan)測定儀(yi) 耐電(dian)弧試(shi)驗儀(yi) 探針臺(tai) 漏電(dian)起(qi)痕(hen)試驗儀(yi) 多通道(dao)介電(dian)與(yu)電(dian)阻(zu)測試系(xi)統(tong)

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HCDH-300PLC+觸(chu)屏(ping) 低壓(ya)漏電(dian)起(qi)痕(hen)試驗儀(yi)/測試儀(yi)器

更新(xin)時間(jian)：2025-07-29

型(xing)號：HCDH-300

瀏(liu)覽量(liang)：2164

PLC+觸(chu)屏(ping) 低壓(ya)漏電(dian)起(qi)痕(hen)試驗儀(yi)/測試儀(yi)器，（耐(nai)電(dian)痕(hen)化(hua)指數儀(yi)）是在(zai)固體(ti)絕緣材料(liao)表面上，在(zai)規定尺(chi)寸(cun)的(de)鉑電(dian)極(ji)之(zhi)間(jian)，施加某壹(yi)電(dian)壓(ya)並定時定高(gao)度滴(di)下(xia)規定液滴(di)體(ti)積的(de)汙(wu)染液，用以評價(jia)固(gu)體(ti)絕緣材料(liao)在(zai)電(dian)場(chang)和汙(wu)染液介(jie)質聯合(he)作(zuo)用下(xia)的(de)耐受能力(li)，測定其(qi)相(xiang)比(bi)電(dian)痕(hen)化(hua)指數和耐(nai)電(dian)痕(hen)指數。
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HCLD-3產品*可(ke)靠(kao)漏電(dian)起(qi)痕(hen)試驗機(ji)測試儀(yi)器

更新(xin)時間(jian)：2023-08-29

型(xing)號：HCLD-3

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產品*可(ke)靠(kao)漏電(dian)起(qi)痕(hen)試驗機(ji)測試儀(yi)器HCLD-III為華(hua)測公司2013年重點科(ke)研(yan)產品之(zhi)壹(yi)，高壓(ya)漏電(dian)試(shi)驗(yan)儀(yi)采用控制(zhi)系(xi)統(tong)精(jing)度高，擯(bin)棄(qi)了(le)現有(you)的(de)低壓(ya)切(qie)斷原(yuan)原(yuan)理，采用高(gao)壓(ya)真(zhen)空(kong)切(qie)斷技術(shu)，使試(shi)驗(yan)過(guo)程(cheng)合(he)理(li)。采用5組(zu)電(dian)流傳感器用以控制(zhi)每(mei)組試(shi)驗(yan)的(de)高壓(ya)切(qie)斷，使數(shu)據(ju)采(cai)集精(jing)確(que)，同時本設備采(cai)用電(dian)力(li)系統(tong)過(guo)壓(ya)過(guo)流保(bao)護(hu)裝(zhuang)置，使儀(yi)器。
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HCLD-3高(gao)壓(ya)漏電(dian)起(qi)痕(hen)試驗機(ji)符合(he)國標(biao)GB/T6553-2003

更新(xin)時間(jian)：2025-09-18

型(xing)號：HCLD-3

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高(gao)壓(ya)漏電(dian)起(qi)痕(hen)試驗機(ji)符合(he)國標(biao)GB/T6553-2003，高(gao)壓(ya)漏電(dian)試(shi)驗(yan)儀(yi)采用控制(zhi)系(xi)統(tong)，擯(bin)棄(qi)了(le)現有(you)的(de)低壓(ya)切(qie)斷原(yuan)原(yuan)理，采用高(gao)壓(ya)真(zhen)空(kong)切(qie)斷技術(shu)，使試(shi)驗(yan)過(guo)程(cheng)合(he)理(li)。采用5組(zu)電(dian)流傳感器用以控制(zhi)每(mei)組試(shi)驗(yan)的(de)高壓(ya)切(qie)斷，使數(shu)據(ju)采(cai)集精(jing)確(que)，同時本設備采(cai)用電(dian)力(li)系統(tong)過(guo)壓(ya)過(guo)流保(bao)護(hu)裝(zhuang)置。
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HCLD-III固(gu)體(ti)絕緣材料(liao)漏電(dian)起(qi)痕(hen)試驗機(ji)

更新(xin)時間(jian)：2024-06-13

型(xing)號：HCLD-III

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固(gu)體(ti)絕緣材料(liao)漏電(dian)起(qi)痕(hen)試驗機(ji)，測試儀(yi)器HCLD-III適(shi)用於(yu)對(dui)電(dian)工(gong)電(dian)子(zi)產品、家用電(dian)器(qi)及其(qi)材料(liao)進行耐電(dian)痕(hen)化(hua)和蝕(shi)損的(de)試驗(yan)，模(mo)擬在(zai)工(gong)頻(pin)（48Hz - 62Hz）下，用液體(ti)汙(wu)染物和斜面試樣，通過耐電(dian)痕(hen)化(hua)和蝕(shi)損的(de)測量評(ping)定環(huan)境條(tiao)件(jian)下使用的(de)電(dian)氣(qi)絕(jue)緣材料(liao)的(de)耐電(dian)痕(hen)化(hua)和蝕(shi)損等級(ji)。
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HCLD-III電(dian)氣(qi)絕(jue)緣材料(liao)漏電(dian)起(qi)痕(hen)測試儀(yi)

更新(xin)時間(jian)：2024-06-13

型(xing)號：HCLD-III

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電(dian)氣(qi)絕(jue)緣材料(liao)漏電(dian)起(qi)痕(hen)測試儀(yi)，HCLD-III適用於(yu)對(dui)電(dian)工(gong)電(dian)子(zi)產品、家用電(dian)器(qi)及其(qi)材料(liao)進行耐電(dian)痕(hen)化(hua)和蝕(shi)損的(de)試驗(yan)，模(mo)擬在(zai)工(gong)頻(pin)（48Hz - 62Hz）下，用液體(ti)汙(wu)染物和斜面試樣，通過耐電(dian)痕(hen)化(hua)和蝕(shi)損的(de)測量評(ping)定在(zai)嚴酷(ku)環(huan)境條(tiao)件(jian)下使用的(de)電(dian)氣(qi)絕(jue)緣材料(liao)的(de)耐電(dian)痕(hen)化(hua)和蝕(shi)損等級(ji)。本機是(shi)嚴(yan)格(ge)按照GB/T6553-2003 及 IEC60587-1984設計制(zhi)造(zao)。
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