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        1. 您好!歡(huan)迎訪(fang)問(wen)北(bei)京華測試驗(yan)儀器(qi)有(you)限(xian)公(gong)司(si)網(wang)站(zhan)!
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          多通道電(dian)流(liu)矩(ju)陣(zhen)模(mo)塊 電阻(zu)率(lv)/漏電流測試

          簡要描(miao)述:多通道電(dian)流(liu)矩(ju)陣(zhen)模(mo)塊 電阻(zu)率(lv)/漏電流測試是(shi)壹(yi)種(zhong)模塊化、高密度的電流(liu)控制(zhi)解(jie)決(jue)方(fang)案(an),支持(chi)獨(du)立控制(zhi)多路(lu)電(dian)流通道(典型(xing)8~128通道),可(ke)同(tong)時(shi)輸(shu)出(chu)/吸入精確(que)可調(tiao)的直(zhi)流(liu)電流(liu)。

          • 產(chan)品(pin)型號:HC-PAX
          • 廠(chang)商性質:生(sheng)產(chan)廠(chang)家(jia)
          • 更(geng)新時(shi)間:2025-12-23
          • 訪  問(wen)  量(liang):1020

          詳(xiang)細介(jie)紹

          品牌華測儀器(qi)應(ying)用(yong)領域能(neng)源(yuan),電(dian)子/電池,汽(qi)車及(ji)零(ling)部(bu)件,電氣(qi),綜(zong)合(he)



          多通道電(dian)流(liu)矩(ju)陣(zhen)模(mo)塊 電阻(zu)率(lv)/漏電流測試



          產(chan)品(pin)介紹:

           多通道電(dian)流(liu)切(qie)換矩(ju)陣(zhen)模(mo)塊是(shi)壹(yi)種(zhong)模塊化、高密度的電流(liu)控制(zhi)解(jie)決(jue)方(fang)案(an),支持(chi)獨(du)立控制(zhi)多路(lu)電(dian)流通道(典型(xing)8~128通道),可(ke)同(tong)時(shi)輸(shu)出(chu)/吸入精確(que)可調(tiao)的直(zhi)流(liu)電流(liu)。通過優(you)良的矩陣開關(guan)架(jia)構,用(yong)戶可自(zi)由配置(zhi)各通道的(de)電(dian)流(liu)值(zhi)(pA至mA 級)、工(gong)作模(mo)式(shi)(恒流(liu)/脈沖/掃(sao)描(miao))及通斷時(shi)序,適(shi)用(yong)於並行(xing)化測試、自(zi)動(dong)化產(chan)線(xian)及復雜實(shi)驗(yan)場(chang)景(jing)。 高的(de)精(jing)度(du)多通道電(dian)流(liu)切(qie)換矩(ju)陣(zhen)模(mo)塊是(shi)專為(wei)要求(qiu)苛(ke)刻的(de)微(wei)弱電(dian)流(liu)(低至皮(pi)安級)和(he)中等(deng)電流(高達100mA)信(xin)號路(lu)徑(jing)切(qie)換而(er)設(she)計(ji)的核(he)心組件。它(ta)本身(shen)不進(jin)行(xing)電(dian)流測量,而(er)是(shi)為(wei)您高的(de)精(jing)度(du)靜電計(ji)(如 Keithley 6517B, 6430, 6485/6487)或(huo)源(yuan)測量單(dan)元提供可(ke)靠、低噪聲(sheng)、低熱電動(dong)勢(EMF)的通道擴(kuo)展(zhan)能(neng)力(li),將單(dan)臺昂(ang)貴(gui)的高(gao)的(de)精(jing)度(du)儀表擴展為(wei)高(gao)效的多通道自(zi)動(dong)化測試系(xi)統(tong)。無論是(shi)研(yan)發(fa)實(shi)驗(yan)室(shi)的(de)材(cai)料特性分(fen)析(xi),還(hai)是(shi)生(sheng)產(chan)線(xian)上半(ban)導(dao)體器(qi)件的批量(liang)測試,都(dou)是(shi)提升測試效率、保證數(shu)據壹(yi)致性的(de)理(li)想選(xuan)擇(ze)。


          多通道電(dian)流(liu)矩(ju)陣(zhen)模(mo)塊 電阻(zu)率(lv)/漏電流測試產(chan)品(pin)特點:

          01高(gao)密度集成(cheng)單(dan)機(ji)箱(xiang)支持(chi)較高(gao)128通道,節(jie)省90%設(she)備(bei)空間,降低機(ji)櫃與線纜成(cheng)本(ben)。

          02毫(hao)秒(miao)級切(qie)換;高(gao)速(su)矩陣(zhen)開關(guan)(20ms切(qie)換時(shi)間)支持(chi)動(dong)態(tai)負載切(qie)換與高速掃(sao)描(miao)測試。

          03模(mo)塊化擴展(zhan)支(zhi)持(chi)熱插拔通道卡(ka),可(ke)按(an)需(xu)擴(kuo)展(zhan)通道數(shu)(較小(xiao)8通道起(qi),以8為(wei)增量擴展)。

          04信(xin)號完整(zheng)性低電容設(she)計(ji),支持(chi)快(kuai)速(su)建(jian)立(li)穩(wen)定的測量信(xin)號,減(jian)少測試時(shi)間。

          05 寬(kuan)電(dian)流(liu)範(fan)圍(wei)精(jing)心設(she)計(ji)的信(xin)號路(lu)徑(jing)確(que)保設(she)備(bei)在(zai) ±1 pA 至(zhi) ±100 mA 的(de)寬(kuan)動(dong)態(tai)範(fan)圍(wei)內(nei)切(qie)換信(xin)號時(shi),引(yin)入的幹(gan)擾(rao)和(he)誤差(cha)極小(xiao),滿足從(cong)超高阻(zu)值(zhi)材料漏電測試到(dao)壹(yi)般電(dian)子(zi)元件特性分(fen)析(xi)的需(xu)求(qiu)。

            06 精(jing)度(du)與低噪聲(sheng)超低熱電動(dong)勢 (< 1 μV) 設(she)計(ji),消除(chu)熱電效應(ying)對微(wei)弱直(zhi)流(liu)測量的(de)影響(xiang)。極低漏電流路徑(jing) (< 1 fA @ 典型(xing)值(zhi)),確(que)保pA 級微(wei)弱電(dian)流(liu)測量的(de)準(zhun)確(que)性。 優(you)化的屏(ping)蔽與布(bu)線設(she)計(ji),較大(da)限度(du)降低串(chuan)擾(rao)和(he)外(wai)部(bu)噪聲(sheng)幹擾(rao)


          應(ying)用(yong)領域

          l 高(gao)阻(zu)材料(liao)與元件測試: 絕緣材(cai)料(liao)、陶瓷、薄膜(mo)、高(gao)阻值(zhi)電阻的電阻(zu)率/漏電流自(zi)動(dong)化測量。

          l 半(ban)導(dao)體器(qi)件特性分(fen)析(xi): 晶體管/二極管漏電流 (Ioff, Gate Leakage), 電容漏電,晶圓級可(ke)靠性測試 (WLR)。 傳(chuan)感(gan)器(qi)測試與標定: 光電二極管暗電流、電(dian)化學/生(sheng)物傳(chuan)感(gan)器(qi)電(dian)流(liu)、輻(fu)射(she)探(tan)測器(qi)電(dian)流(liu)。

          l 電(dian)池(chi)與儲(chu)能測試: 電(dian)池(chi)自(zi)放電(dian)電(dian)流監(jian)測、模組(zu)/Pack絕緣電(dian)阻(zu)測試。

          l 靜電與ESD研(yan)究(jiu): 防靜電材(cai)料電(dian)阻率測量、靜電荷(he)衰(shuai)減(jian)測試。 光(guang)電(dian)與光伏器(qi)件測試: 太(tai)陽(yang)能電(dian)池(chi)暗電流、LED/OLED微(wei)弱漏電流、探測器(qi)陣(zhen)列(lie)測試。

          l 環(huan)境監測與科學儀器(qi): 電(dian)離(li)室(shi)電(dian)流(liu)采集、多通道微(wei)弱信(xin)號切(qie)換。 多器(qi)件並行(xing)參(can)數(shu)測試: 配(pei)合(he)源(yuan)表進行(xing)批量(liang)器(qi)件的I-V掃(sao)描(miao)、導(dao)通電阻(zu)測量等(deng)。


          應(ying)用(yong)案例(li)

          可(ke)以構(gou)建(jian)出(chu)極其(qi)強(qiang)大(da)的高(gao)通道數(shu)、高的(de)精度微(wei)弱電(dian)流(liu)/高(gao)阻(zu)自(zi)動(dong)化測試系(xi)統(tong)。

          • 將單(dan)臺昂(ang)貴(gui)的高(gao)的精(jing)度靜電計(ji)擴展(zhan)為(wei)多通道測試系(xi)統(tong),顯著提高設(she)備(bei)利用(yong)率和(he)測試效率。

          • 實(shi)現無(wu)人(ren)值(zhi)守(shou)的長(chang)時(shi)間、多樣(yang)品(pin)連續(xu)測試,保證數(shu)據壹(yi)致性和(he)可比(bi)性。

          • 精(jing)確(que)捕捉(zhuo) pA 級甚(shen)至 fA 級的(de)微(wei)弱電(dian)流(liu)變(bian)化,滿較苛(ke)刻的(de)測試要求(qiu)。

          多通道電(dian)流(liu)矩(ju)陣(zhen)模(mo)塊 電阻(zu)率(lv)/漏電流測試

          主(zhu)要技(ji)術(shu)指(zhi)標

          l 產(chan)品(pin)型(xing)號HC-PAX

          l 通道數(shu)量:基礎單(dan)元8通道,單(dan)機(ji)箱(xiang)128通道,可(ke)拓(tuo)展(zhan)8機(ji)箱(xiang)1024通道

          l 電(dian)流(liu)範(fan)圍(wei):±1pA ~ ±100mA

          l 電(dian)流(liu)接口分(fen)口是(shi)8芯(xin)雷(lei)莫,總(zong)口是(shi)BNC

          l 通信接口:RS485

          l 外(wai)形尺(chi)寸(cun):長(chang)×寬(kuan)×高(gao) 44cm×13.5cm×30cm(不含所有(you)凸(tu)起(qi))

          l 供(gong)電(dian)要求(qiu):100-240V AC, 50/60Hz,單(dan)機(ji)箱(xiang)較大(da)60W

          l 工(gong)作溫(wen)度10℃ ~ +50℃

          l 工(gong)作濕(shi)度(du)濕度40%~60% RH 無(wu)冷(leng)凝

          多通道電(dian)流(liu)矩(ju)陣(zhen)模(mo)塊 電阻(zu)率(lv)/漏電流測試







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