
當(dang)前位(wei)置(zhi):首頁 > 產品(pin)中心(xin) > 新(xin)品推薦 > 漏電起(qi)痕(hen)試(shi)驗儀 > HCDH-3華測高(gao)壓(ya)漏(lou)電(dian)起(qi)痕(hen)測試(shi)儀CTI/PTI





簡要(yao)描(miao)述:華測高(gao)壓(ya)漏(lou)電(dian)起(qi)痕(hen)測試(shi)儀,是指在(zai)固(gu)體絕緣材料(liao)表(biao)面,在(zai)電場和(he)電(dian)解(jie)液的(de)聯(lian)合(he)作(zuo)用下逐漸形成(cheng)導電通(tong)路(lu)的(de)過(guo)程(cheng)。這個過程(cheng)被稱為(wei)漏電(dian)起(qi)痕(hen),而絕緣材料(liao)表(biao)面抗(kang)漏(lou)電(dian)起(qi)痕(hen)的能(neng)力則(ze)稱為(wei)耐漏(lou)電(dian)起痕(hen)。漏電(dian)起(qi)痕(hen)試(shi)驗是評估(gu)絕緣材料(liao)在(zai)特定(ding)條(tiao)件(jian)下的耐漏電(dian)性(xing)能(neng)的壹(yi)種方(fang)法,通(tong)過模擬(ni)在(zai)潮(chao)濕(shi)或(huo)汙染(ran)介(jie)質(zhi)聯(lian)合(he)作(zuo)用下的環境,測定(ding)材料(liao)的(de)相比(bi)漏電(dian)起痕(hen)指數(shu)(CTI)和(he)耐電痕(hen)化(hua)指數(shu)(PTI)。華測高(gao)壓(ya)漏(lou)電(dian)起(qi)痕(hen)測試(shi)儀CTI/PTI
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華測高(gao)壓(ya)漏(lou)電(dian)起(qi)痕(hen)測試(shi)儀CTI/PTI
漏電(dian)起痕(hen)是指在(zai)固(gu)體絕緣材料(liao)表(biao)面,在(zai)電場和(he)電(dian)解(jie)液的(de)聯(lian)合(he)作(zuo)用下逐漸形成(cheng)導電通(tong)路(lu)的(de)過(guo)程(cheng)。這個過程(cheng)被稱為(wei)漏電(dian)起(qi)痕(hen),而絕緣材料(liao)表(biao)面抗(kang)漏(lou)電(dian)起(qi)痕(hen)的能(neng)力則(ze)稱為(wei)耐漏(lou)電(dian)起痕(hen)。漏電(dian)起(qi)痕(hen)試(shi)驗是評估(gu)絕緣材料(liao)在(zai)特定(ding)條(tiao)件(jian)下的耐漏電(dian)性(xing)能(neng)的壹(yi)種方(fang)法,通(tong)過模擬(ni)在(zai)潮(chao)濕(shi)或(huo)汙染(ran)介(jie)質(zhi)聯(lian)合(he)作(zuo)用下的環境,測定(ding)材料(liao)的(de)相比(bi)漏電(dian)起痕(hen)指數(shu)(CTI)和(he)耐電痕(hen)化(hua)指數(shu)(PTI)。
華測高(gao)壓(ya)漏(lou)電(dian)起(qi)痕(hen)測試(shi)儀CTI/PTI是專門(men)設(she)計(ji)用於進(jin)行此(ci)類(lei)測試(shi)的儀器(qi),它按(an)照(zhao)GB4207、IEC60112等(deng)標(biao)準要求制造,適用於對電(dian)工電子(zi)產(chan)品(pin)、家(jia)用電器(qi)的(de)固(gu)體絕緣材料(liao)及(ji)其(qi)產品(pin)進(jin)行測試(shi)。這種試(shi)驗裝(zhuang)置(zhi)能(neng)夠(gou)在(zai)規定(ding)的條(tiao)件(jian)下,模擬(ni)電(dian)器(qi)在(zai)潮(chao)濕(shi)和(he)雜(za)質(zhi)環境中的(de)情況,評(ping)估(gu)不(bu)同(tong)極(ji)性(xing)的帶電部(bu)件(jian)之間(jian)或(huo)帶電(dian)部(bu)件(jian)與(yu)接地金屬(shu)部件(jian)之間(jian)可(ke)能(neng)引起(qi)的絕緣上(shang)的漏(lou)電(dian)現象(xiang)。產(chan)生的(de)電弧(hu)可能(neng)會(hui)對電(dian)器(qi)造成(cheng)擊(ji)穿短路(lu)或(huo)材(cai)料(liao)蝕(shi)損(sun),甚至(zhi)引燃導致火災。因此(ci),漏(lou)電(dian)起(qi)痕(hen)試(shi)驗是壹(yi)種破(po)壞(huai)性(xing)試(shi)驗,用以(yi)測試(shi)和評(ping)定(ding)絕緣體在(zai)電場和(he)含(han)雜(za)質(zhi)水作(zuo)用時(shi)的相對耐(nai)漏(lou)電(dian)起痕(hen)性(xing)。
漏電起痕(hen)試(shi)驗儀的技(ji)術指(zhi)標(biao)包(bao)括(kuo)工作(zuo)環境溫度(du)(0~40°C)、相對濕(shi)度(du)(≤80%)、無明顯振動(dong)及(ji)腐(fu)蝕(shi)性(xing)氣體(ti)的(de)場所(suo)等(deng)。工作(zuo)電(dian)壓(ya)為(wei)AC220V±2% 50HZ±1%,試(shi)驗電(dian)壓(ya)可(ke)連續調節(jie)在(zai)100~600V範圍內。這(zhe)些(xie)指標確(que)保了(le)試(shi)驗的(de)準確(que)性(xing)和可靠性(xing),同(tong)時(shi)也適應(ying)了(le)不同(tong)環境和應(ying)用條(tiao)件(jian)下的測試(shi)需(xu)求。




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