低壓漏電起痕測試儀(yi)器(qi)

儀器(qi)介紹(shao)：

   低壓漏電(dian)起痕測試儀(yi)器(qi)是按(an)IEC60695、GB4207/IEC60112等(deng)標(biao)準要

求設(she)計制(zhi)造的(de)檢(jian)測儀器(qi)，適(shi)用(yong)於對電工(gong)電(dian)子(zi)產品(pin)、家用(yong)電器(qi)的(de)固

體絕(jue)緣材料(liao)及(ji)其(qi)產品(pin)模擬(ni)在(zai)潮(chao)濕條件(jian)下(xia)相比(bi)漏電(dian)起痕指(zhi)數(shu)和耐(nai)漏(lou)電(dian)起

痕指(zhi)數(shu)的(de)測定(ding)，具有(you)簡便(bian)、準確、可靠、實(shi)用(yong)等(deng)特(te)點(dian)。漏電(dian)起痕試驗(yan)

儀實(shi)物(wu)圖漏電起痕試驗(yan)儀實(shi)物(wu)圖用(yong)於照(zhao)明(ming)設(she)備(bei)、低壓電器(qi)、家用(yong)電

器(qi)、機(ji)床(chuang)電器(qi)、電機(ji)、電動(dong)工(gong)具(ju)、電(dian)子(zi)儀器(qi)、電工(gong)儀(yi)表(biao)、信(xin)息技術(shu)設(she)

備(bei)的(de)研究、生(sheng)產和質檢(jian)部(bu)門，也適(shi)用(yong)於絕(jue)緣材料(liao)、工(gong)程(cheng)塑(su)料(liao)、電(dian)氣(qi)連(lian)

接(jie)件(jian)、輔(fu)件(jian)行(xing)業等(deng)模擬(ni)仿(fang)真試(shi)驗(yan)。  

實(shi)驗(yan)原理：

   低壓漏電(dian)起痕測試儀(yi)器(qi)的(de)漏電(dian)起痕試驗(yan)是在(zai)固(gu)體絕(jue)緣材料(liao)表(biao)面(mian)上(shang)，在(zai)

規定(ding)尺(chi)寸(cun)(2mm×5mm)的(de)鉑電(dian)極(ji)之(zhi)間，施(shi)加某(mou)壹(yi)電(dian)壓並定(ding)時(shi)(30s)定(ding)高(gao)

度(du)(35mm)滴(di)下(xia)規定(ding)液(ye)滴(di)體(ti)積(ji)的(de)汙染(ran)液(ye)體(0.1%NH4Cl)，用(yong)以評價(jia)固(gu)

體絕(jue)緣材料(liao)表(biao)面(mian)在(zai)電(dian)場(chang)和(he)汙(wu)染(ran)介質聯合作(zuo)用(yong)下(xia)的(de)耐(nai)受能(neng)力(li)，測定(ding)其相(xiang)

比電(dian)痕(hen)化指(zhi)數(shu)(CTI)和耐(nai)電(dian)痕(hen)化指(zhi)數(shu)(PTI)。  

儀器(qi)參(can)數(shu)：

註：短路(lu)電(dian)流在(zai)1.0A+0.1A時(shi)電(dian)壓下(xia)降不超過(guo)10%，當(dang)試驗(yan)回路(lu)中(zhong)短

路電(dian)流大(da)於(yu)0.5A時(shi)間(jian)維持2S後，電路(lu)斷電，報(bao)警(jing)指(zhi)示(shi)燈(deng)報(bao)警(jing)。

使(shi)用(yong)步驟(zhou)：

（壹(yi)）安(an)裝調(tiao)試

1、開(kai)箱(xiang)後，去(qu)掉包(bao)裝，將(jiang)儀器(qi)水平放(fang)置；

2、檢(jian)查(zha)滴(di)液(ye)針是否轉正(zheng)，滴(di)液(ye)是否從電(dian)極中間低落(luo)；

3、檢(jian)查(zha)電極、重塊的(de)固定(ding)螺釘(ding)是否擰緊(jin)，如(ru)有(you)松(song)動(dong)，應(ying)按(an)標(biao)準重新(xin)校

正(zheng)在(zai)1.0+0.5N並將重塊固(gu)定(ding)；

（二）試(shi)驗(yan)操作(zuo)

1、接(jie)通電源，調節試(shi)驗(yan)電壓和短路(lu)電(dian)流；

1.1按下(xia)“啟(qi)動(dong)"按鈕(niu)，調節“電壓調節"旋(xuan)鈕(niu)使(shi)電(dian)壓為(wei)試(shi)驗(yan)所(suo)需(xu)電

壓；

1.2先將(jiang)“電(dian)流調(tiao)節(jie)"旋鈕(niu)調制小，再(zai)按住“電(dian)極(ji)短接(jie)"按(an)鈕，調

節“電(dian)流調(tiao)節(jie)"旋鈕(niu)，使(shi)電(dian)流值為(wei)1.0+0.5A（調節(jie)短(duan)路電流時(shi)，

按“電(dian)極(ji)短接(jie)"按(an)鈕的(de)時(shi)間(jian)不要(yao)超過(guo)2S,按(an)壹(yi)下(xia)松壹(yi)下(xia)，同時(shi)觀(guan)察電(dian)流

值，若(ruo)電(dian)流大(da)於(yu)0.5A時(shi)，按(an)“電極(ji)短接(jie)"按(an)鈕時(shi)間(jian)超過(guo)2S，繼(ji)電(dian)器(qi)動(dong)

作，電(dian)路(lu)斷電，報(bao)報(bao)警(jing)，如(ru)果(guo)此時(shi)短(duan)路電(dian)流未(wei)調(tiao)好(hao)，按下(xia)“結(jie)束"按(an)

鈕復(fu)位，重新(xin)按下(xia)“啟(qi)動(dong)"按鈕(niu)，再(zai)次調(tiao)節(jie)短(duan)路(lu)點路）；

2、電極(ji)調(tiao)節

在(zai)電(dian)極斷電下(xia)，把試(shi)樣置(zhi)於托(tuo)盤(pan)，兩電極置於(yu)試(shi)樣(yang)上，調(tiao)節托(tuo)盤(pan)高(gao)

度(du)，使(shi)兩電極的(de)支(zhi)撐(cheng)棒(bang)呈水平，電(dian)極之(zhi)間為(wei)4+0.1mm；滴(di)針(zhen)尖(jian)離(li)試

樣高(gao)度(du)為(wei)30-40mm，如(ru)下(xia)圖：

3、調節(jie)滴(di)液(ye)（在(zai)電(dian)極斷電下(xia)）

3.1、將試(shi)樣(yang)移(yi)開(kai)，並將電極左右(you)移(yi)開(kai)。將(jiang)玻璃皿置(zhi)於托(tuo)盤(pan)上，用(yong)來接(jie)

住滴(di)針(zhen)尖(jian)上(shang)滴(di)下(xia)的(de)溶液(ye)。溶液(ye)按標(biao)註(zhu)配(pei)置倒(dao)至滴(di)液(ye)杯內(nei)。

3.2、按“排(pai)液(ye)"按鈕，排出(chu)壹(yi)定(ding)的(de)溶液(ye)，使(shi)滴(di)液(ye)管(guan)內(nei)的(de)空氣(qi)排(pai)清；

3.3、設(she)定(ding)滴(di)液(ye)時(shi)間(jian)間隔（30S）；

3.4、設(she)定(ding)滴(di)液(ye)次數（40滴(di)）；

4、  試驗(yan)

4.1、將玻(bo)璃皿移(yi)開(kai)，放(fang)回試(shi)樣到(dao)托(tuo)盤(pan)上，並將兩電極放(fang)到(dao)試(shi)樣上，可(ke)

用(yong)量規檢(jian)查(zha)電極之(zhi)間是(shi)否(fou)為(wei)4mm，然(ran)後(hou)按“啟(qi)動(dong)"按鈕(niu)，並檢(jian)查(zha)電壓

示數(shu)是(shi)否符(fu)合(he)試(shi)驗(yan)電壓，反之(zhi)調節(jie)“電(dian)壓調節"旋(xuan)鈕(niu)使(shi)電(dian)壓達到(dao)試(shi)驗(yan)

值；

4.2、按“開(kai)始"按鈕(niu)，試驗(yan)開(kai)始。試樣(yang)在(zai)試(shi)驗(yan)期(qi)間(jian)如果(guo)大(da)於(yu)0.5A，連(lian)

續時(shi)間(jian)超過(guo)2S，繼(ji)電(dian)器(qi)動(dong)作切斷電壓，開(kai)始報(bao)警(jing)。如(ru)果(guo)出(chu)現試

樣起火也應(ying)人(ren)工(gong)終止(zhi)試(shi)驗(yan)（按“結(jie)束"按(an)鈕或(huo)拍下(xia)“急停(ting)"）；

4.3、換試(shi)樣(yang)時(shi)，務(wu)必(bi)將(jiang)“急(ji)停(ting)"拍(pai)下(xia)；

5、   試驗(yan)結(jie)束

 ※ 試驗(yan)結(jie)束後(hou)，壹(yi)定(ding)要排(pai)清滴(di)液(ye)杯和滴(di)液(ye)管(guan)內(nei)的(de)溶液(ye)，然(ran)後(hou)換上(shang)清

水連(lian)續排(pai)液(ye)，對電磁閥進(jin)行(xing)清(qing)洗(xi)，減小溶液(ye)對電磁閥的(de)腐蝕。

試驗(yan)判(pan)定(ding)：

壹(yi)、CTI的(de)測定(ding)  

1、調節(jie)電(dian)壓到(dao)壹(yi)個(ge)預(yu)先(xian)選擇(ze)好(hao)的(de)值並進(jin)行(xing)50滴(di)試(shi)驗(yan)試樣(yang)不發(fa)生(sheng)破(po)壞

或在(zai)50滴(di)以(yi)內(nei)直到(dao)出(chu)現破(po)壞。接(jie)著(zhe)在(zai)試(shi)樣的(de)其他(ta)試(shi)驗(yan)點上(shang)施(shi)加低(di)或

高(gao)的(de)電壓做試驗(yan)，壹(yi)直到(dao)得(de)出在(zai)五(wu)個(ge)不同點上(shang)對(dui)於50滴(di)溶液(ye)不發(fa)生(sheng)

破(po)壞的(de)大電(dian)壓值，這(zhe)個(ge)大(da)電(dian)壓的(de)數值就是(shi)CTI（例(li)如CTI425）。

它是(shi)表(biao)示將(jiang)這個(ge)大電壓值降低(di)25V在(zai)另(ling)外(wai)的(de)五(wu)個(ge)點(dian)上(shang)再(zai)進(jin)行(xing)壹(yi)步(bu)做(zuo)

試驗(yan)，並在(zai)100滴(di)落(luo)液(ye)下(xia)試樣(yang)沒有(you)發(fa)生(sheng)破(po)壞，有(you)壹(yi)些(xie)材料(liao)可(ke)能(neng)不會(hui)滿

足(zu)後面(mian)這(zhe)個規定(ding)，對於(yu)這些材料(liao)要(yao)確(que)定(ding)出試(shi)樣在(zai)五(wu)個(ge)試(shi)驗(yan)點都能(neng)經受

住100滴(di)或(huo)多滴(di)溶液(ye)的(de)大電(dian)壓值，並將這個電(dian)壓數值附(fu)在(zai)CTI中(zhong)表(biao)

示出(chu)來，例如CTI425（375）。  

2、如果(guo)不知(zhi)道(dao)材料(liao)的(de)，則(ze)起始電壓可選取試(shi)驗(yan)範圍中間(jian)值，例(li)如(ru)

300V。如果(guo)試(shi)樣(yang)經(jing)受住50滴(di)液(ye)滴(di)，那(na)麽(me)增加電壓再(zai)做試(shi)驗(yan)；如果(guo)不到(dao)

50滴(di)試(shi)樣(yang)發(fa)生(sheng)破(po)壞，則(ze)降低(di)電壓再(zai)做試(shi)驗(yan)。這電(dian)壓的(de)增減量應(ying)當(dang)是

25V或25V的(de)倍數(shu)。繼(ji)續進(jin)行(xing)試(shi)驗(yan)，直到(dao)獲得五(wu)個(ge)試(shi)樣(yang)經受住50滴(di)的(de)

電壓值。  

3、對於(yu)多數(shu)材料(liao)，50滴(di)的(de)電壓（在(zai)這(zhe)個電壓下(xia)試樣(yang)經受住50滴(di)而沒

有(you)形(xing)成(cheng)電(dian)痕(hen)化）可認為(wei)接(jie)近(jin)漸(jian)近(jin)值。比(bi)50滴(di)電(dian)壓低25V的(de)試驗(yan)是為(wei)了(le)

進(jin)壹(yi)步(bu)證(zheng)明(ming)這種情況，材料(liao)經(jing)受100滴(di)而不發(fa)生(sheng)電痕化(hua)的(de)電壓比50滴(di)

電壓低得越多，這(zhe)個電壓離漸(jian)近(jin)線就越遠(yuan)。  

註意(yi)：高(gao)的(de)電壓下(xia)和多於(yu)50滴(di)液(ye)時(shi)，試(shi)樣可(ke)能(neng)由(you)於溶液(ye)和汙染(ran)物(wu)積(ji)

聚在(zai)試(shi)樣表(biao)面(mian)的(de)凹痕(hen)和(he)小孔(kong)處(chu)而發(fa)生(sheng)破(po)壞（由(you)過(guo)電(dian)流繼(ji)電(dian)器(qi)的(de)動(dong)作表(biao)

明），而不是(shi)由(you)於導(dao)電通路引起。此時(shi)必(bi)須重新(xin)做試(shi)驗(yan)，如果(guo)得(de)不到(dao)

定(ding)義(yi)規定(ding)的(de)結(jie)果(guo)，就在(zai)試(shi)驗(yan)報(bao)告(gao)中加(jia)以(yi)說(shuo)明。

二、PTI（耐(nai)電(dian)痕(hen)化）的(de)測定(ding)  

1、在(zai)材料(liao)規範標(biao)準或電工(gong)設(she)備(bei)規範的(de)標(biao)準中，或其他(ta)標(biao)準中，如果(guo)只

需(xu)要壹(yi)個(ge)耐(nai)電(dian)痕(hen)化試(shi)驗(yan)時(shi)，應(ying)按(an)1進(jin)行(xing)試(shi)驗(yan)，但(dan)試(shi)驗(yan)只在(zai)壹(yi)個(ge)規定(ding)的(de)電

壓下(xia)進(jin)行(xing)。規定(ding)數量(liang)的(de)試樣(yang)應(ying)經(jing)受住50滴(di)而不發(fa)生(sheng)破(po)壞。  

2、建議采(cai)用(yong)五(wu)個(ge)試(shi)樣(yang)。在(zai)特(te)殊情況下(xia)，可規定(ding)少壹(yi)些(xie)試(shi)樣(yang)。  

3、優(you)先(xian)采(cai)用(yong)的(de)試驗(yan)電壓為(wei)：175V，250V，300V，375V，或(huo)

500V。耐(nai)電(dian)痕(hen)化指(zhi)數(shu)縮(suo)寫(xie)為(wei)PTI。  

三、蝕損的(de)測定(ding)  

1、將沒有(you)發(fa)生(sheng)電痕的(de)試樣(yang)應(ying)清(qing)除(chu)掉粘(zhan)在(zai)其(qi)表(biao)面(mian)的(de)碎屑(xie)或松(song)散(san)地附(fu)著(zhe)在(zai)

上面(mian)的(de)分解(jie)物(wu)，然(ran)後(hou)將它(ta)放(fang)在(zai)深度(du)規的(de)平板(ban)上(shang)。用(yong)壹(yi)個(ge)具(ju)有(you)半球形(xing)端(duan)

部(bu)其(qi)直徑(jing)為(wei)1mm的(de)探針(zhen)來測量每(mei)個試樣的(de)大蝕損深度(du)，準確到(dao)

0.1mm。應(ying)在(zai)試(shi)驗(yan)報(bao)告(gao)中註(zhu)明(ming)五(wu)次(ci)測量的(de)大值。  

2、當(dang)按2試(shi)驗(yan)時(shi)，應(ying)該(gai)在(zai)相(xiang)應(ying)於(yu)CTI的(de)電壓下(xia)做過(guo)試(shi)驗(yan)的(de)五(wu)個(ge)試(shi)樣(yang)上

測量蝕損深度(du)。  

3、當(dang)按3試(shi)驗(yan)時(shi)，應(ying)該(gai)在(zai)規定(ding)的(de)電壓下(xia)經受住50滴(di)液(ye)滴(di)的(de)試樣(yang)上(shang)測量

蝕損深度(du)。

註意(yi)事項(xiang)：

1、調試(shi)或(huo)裝試樣(yang)時(shi)，壹(yi)定(ding)要切斷電源；

2、試驗(yan)結(jie)束後(hou)，壹(yi)定(ding)要電(dian)磁閥進(jin)行(xing)清(qing)洗(xi)，減小溶液(ye)對電磁閥的(de)腐蝕。